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951.
采用丙烯酸法合成了La0.75Sr0.25MnO3(LSM)纳米粉体,探讨了合成过程中丙烯酸与交联剂用量、热处理温度等合成条件对合成粉末的物相与形貌的影响,对合成的粉末进行了XRD、SEM、TG-DTA、FTIR分析.结果显示:在丙烯酸:交联剂:LSM粉末质量比为0.3:0.03:1,热处理温度为950℃的条件下,可得到单相、高纯、均匀、少团聚的LSM纳米粉末;电性能测试表明,LSM烧结体在700℃附近电导率达到较高值(约180 S·cm-1).可见,这种新颖的丙烯酸法较其他化学法更绿色环保,制备的粉体电学性能优异,适合用于SOFC单电池阴极. 相似文献
952.
利用高速电弧喷涂技术制备了NiCrBMoFe和NiCrBMoFe/BaF2·CaF2两种复合涂层.两种涂层均含非晶相与纳米晶相,非晶相质量百分数分别达45%和33%.NiCrBMoFe涂层中纳米晶相弥散分布在非晶母相中;NiCrBMoFe/BaF2·CaF2涂层纳米晶相以团聚形态存在.检测了两种涂层的摩擦磨损性能.在常温下,NiCrBMoFe和NiCrBMoFe/BaF2·CaF2两种涂层的摩擦系数分别为0.5和0.375,后者比基体18Cr2Ni4WA的摩擦系数下降了25%,耐磨性能优异.在高温摩擦磨损条件下,NiCrBMoFe/BaF2·CaF2涂层也具有良好的耐磨性能.在450 ℃左右,涂层中BaF2·CaF2固体润滑相会析出涂层表面,形成一层低摩擦系数的润滑转化膜,使涂层具有良好的减摩润滑作用. 相似文献
953.
954.
955.
分子磁学是一个新兴的前尚交叉学科。文章简要介绍了该学科的主要研究内容,并对近年来发展最快的几个研究热点,即分子内磁耦合作用与分子磁工程、分子基铁磁体、单分子磁体、自旋转换配合物和生物体系内磁耦合作用,作一简要评述和展望。 相似文献
956.
Raman scattering of nanocrystalline silicon embedded in SiO2 总被引:2,自引:0,他引:2
Raman scattering of nanocrystalline silicon embedded in SiO2 matrix is systematically investigated. It is found that the Raman spectra can be well fitted by 5 Lorentzian lines in the Raman shift range of 100-600 cm-1. The two-phonon scattering is also observed in the range of 600-1100 cm-1. The experimental results indicate that the silicon crystallites in the films consist of nanocrystalline phase and amorphous phase; both can contribute to the Raman scattering. Besides the red-shift of the first order optical phonon modes with the decreasing size of silicon nanocrystallites, we have also found an enhancement effect on the second order Raman scattering, and the size effect on their Raman shift. 相似文献
957.
958.
本文介绍了染料敏化纳米太阳能电池的结构和原理,对纳米TiO2膜、敏化染料、空穴传输材料的研究进展进行了综述. 相似文献
959.
PENG Hongyan SHEN Jiajing YANG Guilong 《Chinese Journal of Lasers》2000,9(3):201-205
1 Introduction Nanocrystallinediamondfilm,whichcontainslotsofparticlesinthesizeofnanometer,hasmuchthesamepropertiesasdiamondlikefilms.Theadvantagesofthelowtemperaturedepositionmadethenanocrystallinefilmsusewidelyinvariousfields,e.g.electronics,opticsand… 相似文献
960.
A new method of phase-modulated excimer laser crystallization is adopted to fabricate the patterned nanometer-sized crystalline silicon (nc-Si) dots within the sandwiched structure (a-SiNx:H/a-Si:H/a-SiNx:H) films. The results of transmission electron microscopy, electron diffraction and Raman scattering show the ultra-thin and single-layer nc-Si films were patterned in the lateral direction and the size of crystallites is controlled by the thickness of as-deposited a-Si film in the longitudinal direction. The effects of the laser energy density on the structures of the samples and the crystallization mechanism are discussed. 相似文献