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171.
光纤白光干涉法与膜厚纳米测量新技术研究 总被引:6,自引:3,他引:3
运用薄膜光学干涉原理、光纤技术和干涉光谱分析技术,用光纤反射式干涉光谱仪(Reflectromic Interference Spectroscopy)直接测试宽带入射光在单晶硅表面超薄SiO2膜层前后界面反射形成的干涉光谱曲线,并用专业软件对被测光谱信号数据处理后,可直接用公式准确计算出SiO2氧化膜的厚度和光学折射率通过对单晶硅片表面超薄SiO2氧化膜的实测,并与成熟的椭圆偏振仪测试结果相比,测试误差≤2nm但该方法测试简单、快速,精度高,不需要制定仪器曲线和数表,可对薄膜任意位置的厚度在线测试经过对不同厚度聚苯乙烯薄膜的厚度测试表明,该方法适合0.5~20μm薄膜厚度的精确在线测量,测量误差小于7nm. 相似文献
172.
对双重干涉效应反射式薄膜光学热光调制器进行了研究,基于双重干涉效应的分析方法,就相关参数对器件调制特性的影响进行了理论分析,并在实验上进行了有关测试,实际器件获得了高达92%的调制深度。 相似文献
173.
174.
介绍一种4.3m红外望远镜。它与2.16m望远镜用真空管道联机用于CCD照相和光干涉测量,可使集光能力达4.8m口径,分辨率达101m口径。 相似文献
175.
柠檬醛对黄曲霉质膜物理损伤机制的研究 总被引:11,自引:0,他引:11
通过反射干涉对比显微技术和快速图像分析技术,捕获细胞质膜外光晕变化和细胞周边边缘激发变化的信息,并采用闪烁本征模式分解测定柠檬醛作用于黄曲霉质膜前后各模式(m=0,1,2)所对应的平均平方振幅<δn2m>、剪切弹性μ和弹性弯曲模量Kc,与理论模式光谱相比,研究柠檬醛损伤质膜的物理机制.结果表明,m=1的平动模式主导了光晕波谱,其平均平方振幅呈双指数衰变,该模式几乎与剪切弹性无关,即μ=0;弹性弯曲模量Kc的最小和最大值分别为9.45×10-18J和5.43×10-17J,与柠檬醛的浓度成正相关性.揭示该醛对黄曲霉质膜的损伤,除改变膜的选择通透性和电导率外,同时使质膜平动模式的平均平方振幅呈双指数衰变,弹性弯曲模量Kc增加,从而降低膜伸缩的弹性. 相似文献
176.
177.
178.
A bistable optical device was demonstrated by using the longitudinal mode hopping of the laser diode and the narrow transmission spectrum of an interference filter. The device is capable of converting changes in the wavelength of the laser diode into changes in intensity by transmitting it through the filter. Exclusive OR operation was observed with the use of triple signal outputs. In addition, an optical switch-off phenomenon was confirmed by directly injecting a pulse 500 ps wide into an external dye laser. 相似文献
179.
180.
本文提出了Pr_6O_(11)样品ICP摄谱分析时干扰系数法校正光谱干扰的方法和相应的计算机软件系统。建立了Pr基体对14种稀土杂质元素24条灵敏分析线的干扰系数表(KCT),利用所提出的方法分析了Pr_6O_(11)合成样品,由91个实验点所得回收结果可知,回收率在90~110%之间的占93.4%。可见校正是相当有效和十分必要的。 相似文献