基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱的蛋白冠监测方法

生物分子与纳米材料作用形成的"蛋白冠"影响纳米材料的物理和化学性质,目前缺少有效的原位实时技术监测蛋白冠的形成过程.本研究基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱法,研究了三种代表性血液蛋白质在二氧化硅纳米粒子表面的蛋白冠形成过程,结果表明这三种蛋白具有不同的蛋白冠形成过程及参数;研究了人血清白蛋白在三种表面曲率的二氧化...     

用云纹干涉法测量带孔复合材料板应变系数

介绍云纹干涉法在复合材料中应用的一个例子，用云纹干涉法测量带孔复合材料板应变集中系数．     

Study of thermal deformation of microelectronics packaging product by interferometric technique

In this paper, the out-of-plane deformation of silicon surface of Direct Chip Attachment (DCA) assembly, under thermal loading, was measured in real-time by Twyman/Green interferometry. The contour maps of the out-of-plane displacement fields of silicon surface under thermal loading and cycling of various temperature were obtained. Experimental results show that the relation between the out-of-plane displacement and temperature is nonlinear and varies with temperature cycling, due to nonlinear mechanical behavior of the materials used in electronic packaging. A comparison of the out-of-plane displacement fields of silicon surface measured by T/G interferometry in real-time and replicating technique of high temperature specimen grating of moire interferometry was made.     

Deformation measurements by digital image correlation: Implementation of a second-order displacement gradient

This paper outlines the procedure for refining the digital image correlation (DIC) method by implementing a second-order approximation of the displacement gradients. The second-order approximation allows the DIC method to directly measure both the first- and second-order displacement gradients resulting from nonlinear deformation. Thirteen unknown parameters, consisting of the components of displacement, the first- and second-order displacement gradients and the gray-scale value offset, are determined through optimization of a correlation coefficient. The previous DIC method assumes that the local deformation in a subset of pixels is represented by a first-order Taylor series approximation for the displacement gradient terms, so actual deformations consisting of higher order displacement gradients tend to distort the infinitesimal strain measurements. By refining the method to measure both the first- and second-order displacement gradients, more accurate strain measurements can be achieved in large-deformation situations where second-order deformations are also present. In most cases, the new refinements allow the DIC method to maintain an accuracy of ±0.0002 for the first-order displacement gradients and to reach ±0.0002 per pixel for the second-order displacement gradients.     

光学干涉计量中的位相测量方法

对光学干涉计量中常用的位相测量方法进行了综述,包括时间相移法、空间相移法、空间载波相移法和Fourier变换法以及位相展开问题。     

基于两步正交相移干涉的振幅图像光学加密技术

提出一种基于两步正交相移干涉的光学图像加密技术.这种相移干涉数字全息只要记录两幅干涉图,不需要记录物光波和参考光波的强度信息,就可以再现没有零级像和共轭像的再现像.物光波对应的光路经过两次菲涅尔变换,并结合双随机相位编码.参考光分别引入0和π/2相位,用数字化记录介质记录两幅数字全息图作为加密图像.解密时只要获得正确的密钥,经过简单的计算就可以重建清晰的原始图像.模拟实验验证了它的可行性和有效性,分析了抗裁剪和噪音的鲁棒性.     

基于白光干涉彩色图像的微结构表面形貌测量

微结构的表面形貌会显著地影响微纳器件的使用性能及产品质量,是微纳测试领域的一个重要研究方面,利用白光干涉技术是测量物体表面形貌的一种常见方法。区别于常用的CCD黑白相机,使用CCD彩色相机采集白光干涉条纹的彩色图像,使获取的图像包含了R、G、B三个通道的信息。利用小波变换法分别求解出在不同扫描位置处R、G、B通道的相位信息,通过建立的评价函数,并结合最小二乘法可精确确定零光程差的位置,利用相对高度和零光程差位置的线性关系,进而得到物体的表面形貌。通过仿真以及实际测量由VLSI标准公司制造的标准台阶结构,验证了所提出方法的有效性。     

脉冲激光频域干涉技术在超快动力学物理中的应用

介绍了一种具有fs时间分辨力的超短脉冲激光频域干涉测试技术,详细论述了该技术的工作原理和系统构成,指出传输时间差和相位差是影响频域干涉条纹周期的主要因素。采用脉冲激光频域干涉仪测量了200 nm厚度铝膜在波长800 nm、单脉冲能量0.7 mJ、脉宽35 fs脉冲激光作用下的运动速度剖面。在单次飞秒脉冲激光作用下,铝膜自由面的运动速度峰值可达960 m/s,速度剖面的上升前沿小于5.77 ps,表明脉冲激光频域干涉技术可用于测量材料在超快脉冲激光作用下的冲击动力学参数。     

正弦相位调制双法布里—珀罗干涉术的实验研究

讨论了光纤传光、正弦相位调制的双法布里－珀罗干涉术实验结果。通过光强信号的傅里叶分析，证实基频幅值和相位均合谐振腔长度或程函变化信息，从而提出实现基频相位或幅值测量的时间间隔测量法或幅值整流基频幅值测量法。在已研制的实验装置上，测试两种方法的灵敏度阈，结果表明：作者提出的平行双通道结构和光纤传光的测试方法能补偿谐振腔温漂影响，简化信号处理过程，更适合实时测量。     

探测超声微振动的激光外差干涉仪

激光超声是一项新兴的技术，可应用于非接触检测。本文作者研制的探测超声微振动的激光外差干涉仪，该装置具有结构简单，不必采用复杂的反馈回路，只要采用简单的滤波就可以消除外界环境引起的干扰，更重要的是它的测量结果与干涉仪的初相无关，为实际应用提供了很大方便。