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91.
p型未掺杂富锌ZnO薄膜的形成和性能研究 总被引:1,自引:1,他引:0
以高纯ZnO为靶材,氩气为溅射气体,利用射频磁控溅射技术在石英衬底上生长出纤锌矿结构的富锌ZnO薄膜.薄膜沿(002)择优取向生长,厚约为1.2μm,呈现电绝缘特性.将溅射的ZnO薄膜在10-3Pa,510~1 000 K的温度范围等温退火1 h,室温Hall测量结果表明ZnO薄膜的导电性能经历了由绝缘—n型—p型—n型半导体的变化.XPS测试表明ZnO薄膜的Zn/O离子比随退火温度的升高而降低,但一直是富锌ZnO,说明未掺杂的富锌ZnO也可以形成p型导电.p型未掺杂富锌ZnO薄膜的形成可归因于VZn受主浓度可以克服VO和Zni本征施主的补偿效应. 相似文献
92.
利用原子力显微镜分析了ZnO薄膜在具有本征氧化层的Si(100)和Si(111)基片上的表面形貌 随沉积时间的演化. 通过对薄膜生长形貌的动力学标度表征,研究了射频反应磁控溅射条件 下,ZnO薄膜的成核过程及生长动力学行为. 研究发现,ZnO在基片表面的成核过程可分为初 期成核阶段、低速率成核阶段和二次成核阶段. 对于Si(100)基片,三个成核阶段的生长指 数分别为β1=1.04,β2=0.25±0.01,β3=0.74;对 于Si(11
关键词:
ZnO薄膜
磁控溅射
生长动力学
成核机制 相似文献
93.
Corrosion-related defects of pure iron were investigated by measuring Doppler broadening energy spectra (DBES) of positron annihilation and positron annihilation lifetime (PAL). Defect profiles of the S-parameter from DBES as a function of positron incident energy up to 30 keV (i.e. ∼1 μm depth) were analyzed. The DBES data show that S-parameter increases as a function of positron incident energy (mean depth) after corrosion, and the increase in the S-parameter is larger near the surface than in the bulk due to corrosion. Furthermore, information on defect size from PAL data as a function of positron incident energy up to 10 keV (i.e. ∼0.2 μm depth) was analyzed. In the two-state trapping model, the lifetime τ2 = 500 ps is ascribed to annihilation of positrons in voids with a size of the order of nanometer. τ1, which decreases with depth from the surface to the bulk, is ascribed to the annihilation of positrons in dislocations and three-dimensional vacancy clusters. The corroded samples show a significant increase in τ1 and the intensity I2, and near the surface the corroded iron introduces both voids and large-size three-dimensional vacancy clusters. The size of vacancy clusters decreases with depth. 相似文献
94.
Surface reconstructions of InGaAs alloys 总被引:1,自引:0,他引:1
The surface reconstructions of InxGa1−xAs alloys grown by molecular beam epitaxy on the (0 0 1) surfaces of GaAs and InAs have been studied by reflection high-energy electron diffraction and scanning tunnelling microscopy. A surface phase diagram is presented for the nominally strain-free alloy as a function of substrate temperature and alloy composition, and structural models for the commonly observed 3× reconstructions are discussed. Two new, electronically stable structural models are described that account for the transition of the InxGa1−xAs surface alloy from a c(4 × 4) to an asymmetric 3× reconstruction and that are fully consistent with all current experimental evidence. 相似文献
95.
用射频磁控溅射结合传统退火的方法制备LiCo0.8M0.2O2 (M=Ni,Zr)阴极薄膜.X射线衍射、拉曼光谱、扫描电子显微镜等手段表征了不同掺杂的LiCo0.8M0.2O2薄膜.结果显示,700℃退火的LiCo0.8M0.2O2薄膜具有类似α-NaFeO2的层状结构.通过对不同掺杂锂钴氧阴极的全固态薄膜锂电池Li/LiPON/LiCo0.8M0.2O2的电化学性能研究表明,电化学活性元素Ni的掺杂使全固态电池具有更大的放电容量(56μAh/cm2μm),而非电化学活性元素Zr的掺杂使全固态电池具有更好的循环稳定性. 相似文献
96.
A. Pompei 《Applied Acoustics》2006,67(5):420-431
In the present paper, we simulate focused wave fields generated by a system of plane transducers used in an immersion ultrasonic technique. The ultrasonic beam penetrates into the elastic medium through the fluid-solid boundary. A real-time computer algorithm is proposed to calculate stress components in the solid medium. It is shown that a good focusing wave structure can be provided by a pair of plane rectangular transducers, inclined with respect to each other and to the beam acoustic axis. 相似文献
97.
用射频磁控溅射法在80℃衬底温度下制备出MgxZn1-xO(x=0.16)薄膜,用X射线衍射(XRD)、光致发光(PL)和透射谱研究了退火温度对MgxZn1-xO薄膜结构和光学性质的影响.测量结果显示,MgxZn1-xO薄膜为单相六角纤锌矿结构,并且具有沿c轴的择优取向;随着退火温度的升高,(002)XRD峰强度、平均晶粒尺寸和紫外PL峰强度增大,(002)XRD峰半高宽(F
关键词:
xZn1-xO薄膜')" href="#">MgxZn1-xO薄膜
射频磁控溅射
退火 相似文献
98.
99.
100.
Based on scalar diffraction theory, 8-phase-level 256×256 elements diffractive microlens array with element dimension of 50×33 μm2 have been fabricated on the back-side of PtSi(3~5 μm) infrared CCD. The measurement results indicated that the ratio of the signal-to-noise of the infrared CCD with microlens was increased by a factor of 2.8. 相似文献