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41.
An analytic function f   in the unit disk D :={z ∈ ? : |z| < 1}D:={z?:|z|<1}, standardly normalized, is called close-to-convex with respect to the Koebe function k(z) := z/(1−z)2, z ∈ Dk(z):=z/(1z)2,zD if there exists δ∈(-π/2,π/2) such that Re{eiδ(1−z)2f(z)} > 0, ∈ DRe{eiδ(1z)2f(z)}>0,D. For the class C(k) of all close-to-convex functions with respect to k, related to the class of functions convex in the positive direction of the imaginary axis, the Fekete-Szegö problem is studied.  相似文献   
42.
用算子半群理论研究了带有重试排队的M/G/1系统.通过解算子方程和预解方程,证明了0是系统算子的本征值,且为虚轴上唯一的谱点.从而得出了当时间趋于无穷时系统时间依赖解收敛于稳态解的结论.  相似文献   
43.
The piecewise-homogeneous material model and the three-dimensional linearized theory of stability with the assumption of small subcritical strains are used to study the surface buckling of orthotropic and transtropic laminates. A plane problem is formulated, and characteristic equations are derived. A solution is found for a specific transtropic material with different orientations of the isotropy axis __________ Translated from Prikladnaya Mekhanika, Vol. 42, No. 7, pp. 64–72, July 2006.  相似文献   
44.
Angela Rizzi   《Applied Surface Science》2002,190(1-4):311-317
For group III-nitrides with wurtzite structure the presence of fixed polarization interface charges yields new challenges in order to understand and control Schottky barrier heights, band offsets and 2D confinement in heterostructure FETs. In this short review experimental results obtained by in situ photoemission spectroscopy on MBE AlGaN/GaN heterostructures grown on 6H–SiC are discussed, with emphasis on the presence and interplay of surface electronic states. Schrödinger–Poisson calculations are performed to get the complete band scheme at the selected heterojunctions. Results on the polarity dependence of Pt/GaN Schottky barrier values from the literature are also discussed.  相似文献   
45.
精密稳定(二级稳定d)控制系统具有通频带宽、响应速度快、精度高的特点,弥补了跟踪架伺服(一级稳定b)控制系统的不足。压电陶瓷倾斜平台(PZT)作为精密稳定控制系统的驱动装置,对于这种特殊结构来说,传统的光电传感器的输入不适于精密稳定控制系统的驱动装置。着重讨论了其输入量的获取方法,并在实验的基础上分析了这种方法的可行性。  相似文献   
46.
本文提出测量彼片位相差的几种方法,并从原理上作了相应的说明.  相似文献   
47.
把实轴上具一阶奇性解的特征奇异积分方程及其相联方程的求解化为实轴上具一阶奇性解的Riemann边值问题讨论,对后者在提法、奇点的对待和典则函数的理解方面作了与传统有所不同的处理,对前者通过对解和可解条件的简化及等价性的讨论,得到解和可解条件的简化形式及推广的Noether定理。  相似文献   
48.
三轴运动模拟转台的结构对称性与动力学计算   总被引:3,自引:0,他引:3  
本文给出了三轴运动模拟转台动力学相互作用的计算公式,并讨论了它的结构对称性问题。  相似文献   
49.
三轴模拟台的交叉耦合及其控制方法的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文主要从三轴转台的模型出发,研究了采用状态反馈的最优控制及状态观测器来提高控制系统的自适应能力,以解决三轴台特有的不确定非线性耦合问题和变结构解耦控制。  相似文献   
50.
The study compares and contrasts conventional confocal Raman microscopy/spectroscopy (CRM) with a recently developed micrometer scale defocusing spatially offset Raman spectroscopy (micro‐SORS), a method providing a new analytical capability for investigating non‐destructively the chemical composition of subsurface, micrometer‐scale‐thick diffusely scattering layers at depths beyond the reach of CRM. Because of close similarities between the two techniques and comparable embodiment of the instrumentations, but radically different interpretations of data, it is crucially important to recognise which type of method is pertinent to a specific measurement. The distinction comes principally from the nature of sample, whether turbid (micro‐SORS measurement) or transparent (CRM measurement) on the spatial scale of the axial (z‐)scan of the measurement. Which type of sample one deals with may not always be easily recognisable with micro‐scale thick layers, and the study therefore also presents a simple method for suggesting whether CRM or micro‐SORS methodology applies. This test relies on an axial (z‐)scan performed through the sample in both the positive and negative directions from the normal, imaged sample surface position using conventional CRM instrument. The absence or presence of symmetry or asymmetry of the intensity profiles of measured Raman signals around the imaged sample surface position as a function of sample axial displacement then suggests which interpretation could apply. The study paves a way for the development of micro‐SORS as a widely applicable analytical tool deployable on conventional Raman microscopes. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd.  相似文献   
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