X光胶片响应曲线的实验标定

 介绍了天津ⅢX光胶片在北京同步辐射源3W1B装置上进行绝对响应标定的一种实验方法。实验中采用快门控制曝光时间,标准探测器记录积分光强,从而得到胶片接收到的绝对光强,并用黑密度计扫描胶片得到光学黑密度。数据处理中通过对快门响应的标定和对光源分布不均匀性的处理来减小光强的不确定度。实验得到了胶片在1 keV和1.5 keV两个能点绝对光强与黑密度之间的绝对响应实验数据,并用Henke的理论公式拟合得到绝对响应曲线。     

全息透镜用于彩色胶片全息高密度存储

本文提出一种利用全息透镜实现彩色胶片全息高密度存储的方法。用红、绿、蓝三基色激光分别记录三个焦距相同的全息透镜,用三个全息透镜依次用三基色波长记录胶片的傅氏全息图,用原参考光照明再现,可合成彩色像。     

一种高智能化的通用自动胶片判读仪

自动通用胶片判读仪是一种高智能化的精密光学测试设备,采用了计算机控制飞点扫描技术、精密光学测量技术、图象跟踪测量与信息处理技术。飞点管分辨率达4096×4096象元,通过光学系统胶片上获得6.55μm高分辨率,飞点扫描方式灵活多样且可随意控制,通用于目前我国靶场所有的电影经纬仪和高速摄影机35mm胶片的数据判读。具有自动判读和半自动判读两种工作模式,自动判读的速度为5帧/秒,自动判读的精度为σ=±0.011mm,半自动判读的精度为σ=±0.009mm,测量数据可以记录、打印和显示。     

高功率微波对PCB电路系统辐照效应的仿真分析

以实验室自主研发的2维半导体器件-电路联合仿真程序用于分析高功率微波注入下半导体器件的毁伤机理,以此2维半导体器件-电路联合仿真程序为基础加以扩展,添加了电磁波辐照射下微带线的SPICE电路模型。扩展后的程序可以同时用于分析平面波入射下含半导体器件的PCB电路的高功率微波辐照效应和置于带孔缝屏蔽腔中的PCB电路的高功率微波辐照效应。应用此仿真程序分析了一个含有低噪声放大器的简单PCB电路,得到了该PCB电路在不同形式平面波入射下低噪声放大器的烧毁阈值,在该PCB电路置于屏蔽腔中时,低噪声放大器输入端口出现耦合干扰电压情况。     

狭缝摄影胶片图象运动参量测量和处理

狭缝摄影胶片图象运动参量测量和处理采用了胶片扫描仪对狭缝摄影胶片图象进行数字化,利用软件进行图象处理.文章介绍了对胶片扫描仪进行检验和标定方法;对由于狭缝摄影机的胶片速度和目标的实际影象速度不一致产生的畸变进行了分析和修正,实现了数据的精确测量和处理.     

不同频率高功率微波辐照下PCB电路的混合模拟

采用一个混合模拟方法研究计算了不同频率高功率微波(HPM)辐照下含有PIN限幅器的PCB电路上的耦合信号。该混合模拟方法基于瞬态电磁拓扑和器件/电路混合模拟技术,实现了场、路、器件的混合模拟,能够模拟计算出HPM辐照下屏蔽腔内PCB电路上的耦合信号。用该方法研究计算了频率分别为1,1.25和2.5 GHz的HPM在PCB电路上的耦合信号。计算结果表明：当PCB电路无屏蔽腔时,1 GHz HPM的耦合信号最大,而PCB电路有屏蔽腔时,2.5 GHz HPM的耦合信号最大;PIN限幅器在耦合信号较大时具有较好的抑制作用。     

以硅胶G胶片和滤纸作基质氟哌酸的固体基质室温燐光法研究

探讨了氟哌酸的固体基质室温燐光法（ＳＳ－ＲＴＰ）中的基质效应和重原于效应，经聚丙烯酸（ＰＡＡ）处理的硅胶Ｇ胶片做基质测定痕量氟哌酸较滤纸为基质具有检测限低、无需重原子微扰剂，稳定性好等优点。     

双联摆动反光镜三维显示方法的研究

在目前的技术条件下,振动反光镜技术是实现三维显示一种重要的实用方法。本文提出了一种双联摆动反光镜三维显示装置及其结构计算方法。该装置可产生一个悬浮在空间的三维图像,观看者不需戴任何特制眼镜。该装置可用于层析X射线胶片组的观看。本文还叙述了一种新型的同步投影系统及高频闪光控制电路的研究结果。     

UFsh–O 软X光胶片在质子荧光源上的绝对刻度

介绍在K –400质子加速器上,以质子激发低Z材料产生的内壳层荧光（波长0.50 ~ 6.8nm）作为光源绝对刻度UFsh –O软X光胶片。给出了该种胶片的三维黑密度曲线并对结果作了讨论。