A novel surface ionization source for ion mobility spectrometer

A surface ionization (SI) source is designed and prepared for ion mobility spectrometer (IMS). The source acts not only as an emitter but also an ion injector which can inject ions periodically into the drift region of drift tube. Using the dual-role source, the dimension of the drift tube can be decreased and the circuit for high voltage can be simplified efficiently. The IMS with the SI source has a response range of ∼4 orders of magnitude and a good reproducibility to tri-ethylamine. Compared with radioactive ionization (RI), the ultra-short time for ion injection and the zero level base line of ion mobility spectrum are characteristics of the surface ionization.     

中低Z材料辐射烧蚀实验研究

 在星光Ⅱ激光装置上,利用波长为0.35μm的激光注入柱腔金箔靶产生的金箔后向X光作源,烧蚀中低Z样品材料,通过空间分辨测量靶源区和样品自发辐射X光的时间过程获得了中Z铝材料的辐射烧穿时间结果;在北京同步辐射源上对透射光栅进行了实验标定。     

表面高分辨弹性反冲探测分析

在中国原子能科学研究院 HI- 1 3串列加速器上建立了用 Q3D磁谱仪动量分析和ΔE- E粒子分辨对材料表面进行高分辨的弹性反冲探测分析技术 .用 1 0 0 Me V12 7I对 C/Li F多层样品的深度分布分析表明 ,表面分辨达到 1 .2 nm.所建立的ΔE(气体 ) - E(半导体 )望远镜探测器可同时分析从轻至中重的所有元素 .实测了新光电材料 Ga N,La2 Sr Cu O4 超导膜和新超硬材料 C3N4 (Si)等样品. High resolution depth profiling technique with elastic recoil detection analysis has been developed at the HI 13 tandem accelerator of CIAE. A depth resolution of 1.2 nm was achieved at the surface of the samples with the Q3D magnetic spectrometer and the focal plane detector. From light to medium heavy elements were simultaneous analyzed with a small Δ E E telescope. The method was applied to depth profile analysis of C/LiF multilayers, La 2SrCuO 4 superconductor and GaN foil samples.     

扫描式电感耦合等离子体光谱仪谱线峰位移的机理研究

通过对扫描式电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)出射光谱线峰位移(Δλ)的机理研究,发现温度的变化、波长的变化以及光谱仪机械的系统误差是产生谱线峰位移的主要因素,首次测量了谱线峰位移与波长变化之间的非线性函数关系曲线Δλ-λ,以及谱线峰位移与温度变化之间的非线性函数关系曲线Δλ-T,并用多项式方程表达了这些函数关系。本研究还发现,不同的光栅单色仪有近似相同的Δλ-λ函数关系曲线,但是Δλ-T的函数关系曲线却很不相同。利用这些非线性函数方程式,设计开发了扫描式ICP-AES光谱仪的智能波长校正装置(IWC),用它取代传统的局部恒温系统及谱线描迹法进行样品分析的结果表明,智能波长校正的ICP光谱仪(ICP-IWC)谱线峰定位精度高,具有省时、安全、结构简单的特点,有广阔的应用前景。     

关于分光计调整方法的分析

本文对自准直调节方法的成像规律和光栅侧向倾斜对测量结果的影响等问题,进行了半定量分析,给出了相关的调节依据和正确的调节步骤     

Minimate EDXRF谱仪在水泥工业分析中的应用

Minimate EDXRF谱仪是由低功率X射线管、封闭式正比计数管和2048道分析器组成,可分析原子序数11以上的元素(其中钠和镁需通氦气).作者用该仪器分析了粉末状水泥中MgO、Al_2O_3、SiO_2、SO_3、K_2O、CaO和Fe_2O_3等组成,并对水泥生料的取样误差作了估计.结果表明,该仪器可满足水泥制品的控制分析.     

清代红绿彩瓷器无损分析研究

红绿彩瓷器是我国陶瓷史上一种重要的釉上彩瓷器,分析其彩料的化学组成和物相结构对其烧制工艺的研究有很重要的意义.但由于瓷器表面的不平整和彩料分布的不均匀性,导致其不满足传统的1 mm×10 m m线光源的X射线衍射仪对样品的测试要求.而毛细管聚焦的X射线衍射仪采用点光源的方式照射样品,毛细管X光透镜对Cu-Kα 的能量有...     

Simulation of the Collisional Cooling Effect in a Quadrupole Ion Trap Mass Spectrometer

Examination of the collisional cooling effect of the buffer gases on ion trapping and detection in an ion trap mass spectrometer has been undertaken by the SIMION 3D program. Computation for the kinetic energy of ions under various conditions was used to account for the effects of collisional cooling of ions. Several parameters that may affect the collisional cooling effects of ions are evaluated including the existence and the variation of pressure of the buffer gas; the temperature of the ion trap; the size of the inner radius of the ion trap electrodes; the mass to charge ratio of ions; the alternative buffer gases and the q_z. values which establish the ion trap trapping environment.     

北京谱仪Ds物理研究新进展

简要介绍了北京谱仪Ｄｓ物理研究的背景,北京谱仪和北京正负电子地撞机已取得的几项物理结果的内容,及其对国际粒子物理研究的贡献。     

熔融法制样X荧光光谱法测定高含量铷矿石中的氧化铷

铷矿石和混合熔剂按照一定的质量比混配好,在熔样机中制备成待分析的样品,混合熔剂由四硼酸锂+偏硼酸锂+氟化锂按照一定比例混合而成,用国家标准物质不同质量的稀释或者添加纯物质的办法制备成一个系列的含不同氧化如的标准系列样片,采用X荧光光谱仪直接测试氧化铷的含量。该分析方法具有检测范围广,从0.01%到5.0%,精密度RSD达到1.50%、国家一级标准准确度高的优点,同时对标准样品的种类要求少,而通过某一标准物质来制备校正曲线也可以克服基体效应的影响。该方法适应于稀有矿石类标准物质数量和种类矿石不多的分析。