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101.
The integral-differential equations for three-dimensional planar interfacial cracks of arbitrary shape in transversely isotropic bimaterials were derived by virtue of the Somigliana identity and the fundamental solutions, in which the displacement discontinuities across the crack faces are the unknowns to be determined. The interface is parallel to both the planes of isotropy. The singular behaviors of displacement and stress near the crack border were analyzed and the stress singularity indexes were obtained by integral equation method. The stress intensity factors were expressed in terms of the displacement discontinuities. In the non-oscillatory case, the hyper-singular boundary integral-differential equations were reduced to hyper-singular boundary integral equations similar to those of homogeneously isotropic materials. 相似文献
102.
103.
104.
本文利用单个平片裂纹的基本解,将三维有限体中的平片裂纹问题,归为解一组超奇异积分方程,然后使用主部分析方法,对这组方程的求解作了理论分析,其结果在本文的第Ⅰ部分给出,关于这组方程的数值法求解,则给出于本文的第Ⅱ部分。 相似文献
105.
本文根据平面问题的复变函数理论推导了含界面裂纹双金属胶接件满足微分方程、开裂界面边界条件与未开裂界面连续条件的应力与位移本征函数展开式,并建立了不可压缩双金属界面裂纹的复合型守恒积分及其与应力强度因子之关系,进而利用分区广义变分原理满足其余边界条件确定包含应力强度因子在内的展开式系数,得到守恒积分并求出应力强度因子.数值计算表明,沿不同回路的在恒积分具有很好的守恒性而且由这两种方法所得应力强度因子具有很好的一致性. 相似文献
106.
Yang Wei 《Acta Mechanica Sinica》1987,3(4):344-353
Strain hardening, crack growth resistance and nonuniform load distribution have significant effects on the ductile tearing
process. A defect assessment procedure incorporating with the above features is proposed in the present paper, with the final
appearance of “design curves” to facilitate engineering applications. 相似文献
107.
In this paper we examine the conditions for surface topography evolution and crack growth/fracture during the cyclic actuation
of polysilicon microelectromechanical systems (MEMS) structures. The surface topography evolution that occurs during cyclic
fatigue is shown to be stressassisted and may be predicted by linear perturbation analyses. The conditions for crack growth
(due to pre-existing or nucleated cracks) are also examined within the framework of linear elastic fracture mechanics. Within
this framework, we consider pre-existing cracks in the topical SiO2 layer that forms on the Si substrate in the absence of passivation. The thickening of the SiO2 that is normally observed during cyclic actuation of Si MEMS structures is shown to increase the possibility of stable crack
growth by stress corrosion cracking prior to the onset of unstable crack growth in the SiO2 and Si layers. Finally, the implications of the results are discussed for the prediction of fatigue damage in silicon MEMS
structures. 相似文献
108.
109.
110.