采用Seemann－Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析

本文从理论上分析了衍射强度比偏差Δ（Ｉ／Ｉ∞）和衍射峰位偏差Δ２θ对Ｓｅｅｍａｎｎ－Ｂｏｈｌｉｎ准聚焦Ｘ射线衍射仪测量表面单层薄膜厚度误差的影响。分析结果表明，降低Δ（Ｉ／Ｉ∞）可提高膜厚的测量精度，在Δ（Ｉ／Ｉ∞）－定的情况下，按μρｔ［Ｓｉｎ（－１）γ＋Ｓｉｎ（－１）（２θ－γ）］＝１选择靶辐射和衍射晶面可使由Δ（Ｉ／Ｉ∞）导致的膜厚测量误差具有极小值；选择高角度衍射线有助于减小试样离焦引起的衍射峰位偏差，亦可降低因衍射角测量偏差导致的膜厚测量误差，当衍射线处于薄膜的法向２θ＝γ＋π／２时，角度项误差（Δｔ／ｔ）（２θ）完全消除。     

粉煤灰空心微珠沸石化制备复合空心球

采用晶种静电吸附-诱导转化技术，成功地将选自工业废弃物粉煤灰的空心微 球转化为具有沸石/莫来石双层复合球壳结构的空心球，用XRD和SEM等手段对产物 进行了表征，并对球壳的转化机理进行了讨论。     

聚合物微晶尺寸和晶格畸变

聚合物微晶尺寸和晶格畸变是对聚合物材料性能有着重要影响的结构参数。本文介绍了应用Ｘ射线衍射方法测定聚合物微晶尺寸和结构畸变的几种方法：近似函数、次晶模型法、方差法、矩法。     

X—射线荧光光谱测定甜饮料中微量元素

本文提出了低温蒸干和炭化制样Ｘ－射线荧光分析甜饮料中１６种微量元素的方法，试样在电热板上经低温蒸干，于马旨炉中３００℃炭化３０ｍｉｎ，在液压样品成形机上压制成样片进行测定，所测元素不需用任何基体校正，由微机从校正曲线查得含量，榈分析结果与ＩＣＰ－ＡＥＳ和ＡＡＳ法相吻合。     

DETERMINATION OF DEGREE OF CRYSTALLINITY OF NYLON 1212 BY WIDE-ANGLE X-RAY DIFFRACTION

Based on the X-ray scattering intensity theory and using the approximate expression for the atomic scattering factor, the correction factors for three crystalline peaks and an amorphous peak of Nylon 1212 were calculated and the formula of degree of crystallinity of Nylon 1212 was derived by a graphic multipeak resolution method. The degree of crystallinity calculated from the WAXD method is compatible with those obtained by density and calorimetry methods.     

2—（4—氨酰基—2—噻唑基）—1,4—脱水—L—木糖醇及其氟代衍 …

用计算机分析模拟方法研究了２－（４－氨酰基－２－噻唑基）－１，４－脱水－Ｌ－木糖醇及其氟代衍生物的糖基构象，计算结果显示，６个碳核苷类似物的糖基构象均为Ｓ型。核磁共振谱和晶体Ｘ射线衍射结果与计算结果相吻合。     

热处理对Nylon—11结构的影响

对不同温度热处理过的Nylon－11样品，采用广角X射线衍射（WAXD），根据X射线衍射强度理论，用多重峰图解分峰方法研究了Nylon－11结构的变化，并导出了计算Nylon－11结晶度的公式．所得结果与密度法、DSC法进行了比较．同时也给出了Nylon－11的有关热力学参数，     

表面修饰二氧化锡纳米微晶的制备与表征

制备了硅烷偶联剂KH-570表面修饰的SnO2纳米微晶，通过FT-IR、XPS、TEM和TG-DTA对其结构和表面特性进行表征和研究. FT-IR和XPS分析结果确证了KH-570与SnO2表面是以化学键合或物理吸附方式相结合,粒子表面存在酯基等有机官能团的红外吸收特征；观测到KH-570中Si原子的Si2s和Si2p谱线. TEM分析表明，表面修饰反应增强了SnO2纳米微晶的疏水性和分散性.由XPS和TG的实测数据探讨了纳米粒子具有较低包覆量的可能原因.     

在Ar气流中热处理KOH-煤焦制大比表面积活性炭

本文将煤焦与ＫＯＨ混合，在Ａｒ气流中进行低温、高温二次热处理，制得了比表面积为２９１８ｍ２／ｇ的活性炭。考查了操作条件对产品性能的影响，同时用Ｘ射线衍射分析研究了煤焦制活性炭过程中的结构变化特征