基于高阶厄米高斯模倾角测量

本文主要对高阶厄米高斯模式的倾角测量进行了理论分析,提出了利用高阶厄米高斯模式可以进一步提高倾角测量的方案,并对不同模式进行倾角测量的精度进行了对比。计算结果表明,采用的模式的阶数越高,倾角测量的精度越高,这一结果为进一步提高倾角测量实验提供理论依据。     

全谱拟合定量分析方法及其影响因素的研究

为研究全谱拟合定量分析方法,将此定量分析方法与内标法、K值法、绝热法进行对比分析,主要讨论了图谱的收集方式、拟合过程中所用的峰形函数,以及温度因子对全谱拟合定量分析结果的影响。结果表明,相对其他定量方法,全谱拟合定量分析只需知物相的结构信息,无需标样,具有较高的准确性。另外,衍射角的收集范围通常与被测试样材料有关,一般扫描范围包括待测试样的主要衍射峰区域即可;步长越小,每步扫描时间越长,衍射强度高,拟合因子越小,计算图谱与实测图谱吻合程度越好;基本参数法通过已知实验仪器的几何参数计算出仪器的仪器峰形,可简化精修过程,减少人为误差;选用结构数据库中的结构信息进行的拟合定量,得到的拟合因子最小,拟合结果最好;拟合过程中修正阳离子的温度因子比修正氧离子的温度因子得到的拟合因子小,拟合定量结果较好一些。     

L3中心径迹室顶点位置分辨的改进

运用两种方法对L3中心任迹漂移室的顶点位置分辨进行了改进,一种是利用高能量分辨的电子和高动量分辨的μ子测量,限定轻子径迹的曲率半径,对径迹进行重新拟合;另一种是对中心径迹室每半边单元的径迹零位置位移进行校正.结合两种改进方法将轻子的顶点位置分辨由原来的137μm提高到60μm.     

光场高阶压缩的非经典性与独立性

本文研究了单模光场态｜ψ>=α｜0>+β｜m>(m>2)的高阶压缩,发现当m为偶数时,该态除了不存在二阶压缩外,任意高阶压缩都存在,且高阶压缩并不与反聚束同时出现,由此我们得到一个结论:高阶压缩是独立于二阶压缩与反聚束效应的又一光场非经典效应。 关键词：     

双折射位相差的拟合表达式及其应用

探讨双折射晶体的ｏ光和ｅ光的位相差的表达式，对文献中常引用的表达式作近似展开，得到一个适用性的拟合表达式及其拟合系数与昌体或液晶双折射率之间的关系，并给出该表达式的简单应用。它可作为设计晶体旋转法测试液晶双折射和预角测试仪的原理。     

具高阶奇性解的奇异积分方程的推广Noether定理

本文给出解具高阶奇性时奇异积分方程的推广Ｎｏｅｔｈｅｒ定理．