非晶态金属合金作催化材料的研究 III. Ni-Fe-P非晶态合金对CO加氢活性的研究

本文用连续微型反应器、X射线光电子能谱(XPS)、程序升温还原(TPR)、X射线衍射(XRD)等方法, 研究了骤冷制备的Ni-Fe-P非晶态催化剂的加氢活性和表面结构。结果表明:非晶态Ni-FE-P合金在常压下对CO的加氢活性优于晶态Ni-Fe-P合金; 表面的不同预处理对反应活性影响很大。XPS的结果显示在较高温度下氧化时表面富铁, 表面存在的镍物种和元素态铁是CO催化加氢的活性中心。     

ErP5O14非晶中Er^3＋离子光谱参数的计数

由测量的ErP_5O_(14)非晶的吸收光谱,计算了Er~(3+)在五磷酸盐非晶中的强度参数Ω_λ,并由此计算了激光能级的振子强度、自发辐射跃迁速率、荧光分支比和积分发射截面。     

Photodarkening in Amorphous As2S3 Thin Films

The photodarkening effect in amorphous As2S3 films is studied.The optical absorption edge shifts to a lower energy after illumination ar the bandgap light of 514.5nm wavelength by an argon laser.The shift in well annealed films can be recovered by annealing at 180℃ for 1 h but in un-annealed films it is irreversible.In addition,it was found that the magnitude of photodarkening ΔE increased with the increase of illumination light intensity and illumination time.The reversibility of photodarkening in amorphous As2S3 films can be applied in optical memories.     

一维准晶格链的构造及其特点

本文给出了接续式和循环接续式构造一维准晶格链的方法。以典型的准晶格链—Fibonacci链为例分析了准晶格链的结构特点。讨论了准晶体的生长等问题。     

晶体和非晶体导热性能实验探讨

在高中物理"固体和液体"一节中,需要做云母片和玻璃片的导热性能实验,主要用来说明两个问题,一是利用云母片上熔化的蜡斑呈椭圆形说明单晶体导热性能各向异性这一物理特性;二是利用玻璃片上熔化的蜡斑呈圆形说明非晶体导热性能各向同性,并与单晶体的导热性相互比较.这个传统的实验说来容易,但凡亲自做过这个实验的老师都知道要想使这个实验达到预想的效果并不容易.     

非晶态金属合金作催化材料的研究I:N-P非晶态合金对苯乙烯加氢活性的研究

本文用X射线光电子能谱(XPS), X射线衍射(XRD)和连续微型反应器等方法研究了以骤冷法制备的Ni-P非晶态催化剂的表面结构和加氢活性。结果表明, 非晶态Ni-P对于苯乙烯催化加氢具有很高的反应活性, 优于晶态Ni-P, 更优于Ni片, 催化剂表面不同的预处理条件, 对反应活性影响很大。XPS结果表明, 在适当的预处理条件下, 非晶态Ni-P被部分氧化;随着氧化态被还原, 反应活性逐渐下降。     

非晶态金属合金作催化材料的研究 II. 非晶态Ni-P-SiO2负载型催化剂加氢活性的研究

用化学沉积法制备了非晶态催化剂Ni-P-SiO2测定了催化剂对苯乙烯加氢的活性, 并与相应的晶态Ni-P-SiO2及Ni-SiO2的活性对比。结果表明, 还原态的Ni是反应的活性中心。用高真空TPD-MS研究了该催化剂对氢、一氧化碳的吸附, 提出了一氧化碳加氢的反应机理。     

一种高效的非晶态Co(OH)2水氧化电催化剂

电催化氧化水包括析氧和析氢两个半反应(OER和HER),而其中合成高效廉价的催化剂则至关重要.合成了在碱性溶液中具有高活性、良好稳定性的非晶态Co(OH)_2纳米材料用于析氧反应催化剂,实验证明该材料的性能可以和商用RuO_2相媲美.与目前商用的RuO_2催化剂相比,非晶态Co(OH)_2材料的塔菲尔斜率较小,仅为67 mV/decade,且经过24 h的电流i-t曲线测试衰减较少.此外,该非晶态Co(OH)_2纳米管的性能优于晶态Co(OH)_2纳米管.因此,非晶态Co(OH)_2纳米材料是一种很有前途的析氧反应催化剂.     

X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2

应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D/MAX 2500V型X射线衍射仪,CuKα辐射带石墨单色器,管电压44 kV,管电流150 mA,步进扫描收集衍射数据,经Jade 5.0软件定性分析,DBWS9807a软件定量分析,结果为:Rp平均等于11.29%,Rwp平均等于13.74%,Rexpected平均等于4.04%。SiO2在各样品中的含量为15.61%~37.83%;加标回收率为102.6%~119.9%;重现性测定相对标准偏差(RSD)为1.14%。结果表明:用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。