全文获取类型
收费全文 | 1471篇 |
免费 | 399篇 |
国内免费 | 190篇 |
专业分类
化学 | 196篇 |
晶体学 | 15篇 |
力学 | 279篇 |
综合类 | 51篇 |
数学 | 229篇 |
物理学 | 1290篇 |
出版年
2024年 | 11篇 |
2023年 | 49篇 |
2022年 | 40篇 |
2021年 | 55篇 |
2020年 | 44篇 |
2019年 | 51篇 |
2018年 | 30篇 |
2017年 | 48篇 |
2016年 | 34篇 |
2015年 | 55篇 |
2014年 | 126篇 |
2013年 | 97篇 |
2012年 | 68篇 |
2011年 | 100篇 |
2010年 | 84篇 |
2009年 | 112篇 |
2008年 | 115篇 |
2007年 | 83篇 |
2006年 | 60篇 |
2005年 | 66篇 |
2004年 | 68篇 |
2003年 | 74篇 |
2002年 | 92篇 |
2001年 | 90篇 |
2000年 | 42篇 |
1999年 | 37篇 |
1998年 | 42篇 |
1997年 | 53篇 |
1996年 | 35篇 |
1995年 | 25篇 |
1994年 | 34篇 |
1993年 | 30篇 |
1992年 | 32篇 |
1991年 | 21篇 |
1990年 | 27篇 |
1989年 | 10篇 |
1988年 | 8篇 |
1987年 | 5篇 |
1986年 | 1篇 |
1985年 | 4篇 |
1984年 | 1篇 |
1983年 | 1篇 |
排序方式: 共有2060条查询结果,搜索用时 15 毫秒
81.
82.
精密光学元件表面疵病的人工检测分类方法效率低,且准确率易受疲劳等人工因素影响,而基于传统机器学习方法的分类准确率有待进一步提高。提出了一种基于深度学习卷积神经网络的光学大尺寸元件表面疵病识别方法。首先,通过现场实验采集并整理了大尺寸镜面疵病样本;接着,基于单通道灰度图像构建融合梯度的三通道图像,挖掘更深入的特征表达;最后,基于经典的LeNet网络,提出了面向激光惯性约束聚变(ICF)的光学元件表面疵病识别网络ICFNet,该网络不需要复杂的手工特征设计和提取,仅使用原始灰度图像就实现高效的疵病识别。实验结果表明:针对包含麻点、划痕和灰尘的三类疵病数据,ICFNet相较于使用多项特征和支持向量机的传统方法拥有较好的分类准确率。 相似文献
83.
本文利用“两变量法”[1]研究了圆柱型正交各向异性圆形薄板在非均布横向载荷作用下的非线性非对称弯曲问题,并得到在周边为可移夹支条件下的本问题的一致有效渐近解。 相似文献
84.
大口径光学元件中频波前的准确评价已成为高功率激光系统中关注的焦点,元件中频波前均方根值是重要评价指标之一。根据波前中频检测频段及波前检测设备频响特性,将波前的中频区域分为两个检测频段,分别采用干涉仪和光学轮廓仪实现了中频波前均方根值的检测。采用大口径干涉仪可实现全口径波前中频区域低频段波前的检测,通过比对大口径干涉仪和采用小口径干涉仪结合分块融合平均方法的检测结果,提出采用分块融合平均方法也可检测相应频段全口径波前均方根。采用光学轮廓仪通过离散采样的方法检测大口径元件中频区域高频段波前均方根,针对不同离散采样方式的实验结果表明:33的采样方式能满足对410 mm410 mm口径元件中频区域高频段波前均方根的检测。 相似文献
85.
针对现有的衍射光学元件设计方法只适用于小角度衍射的情况,本文提出了一种基于瑞利-索末菲衍射积分的设计方法,可以用来设计具有大衍射角的衍射光学元件。先对目标光场进行坐标变换和强度调整,再利用改进的Gerchberg-Saxton算法优化得到衍射光学元件的相位分布。分别采用本文方法和原有的基于夫琅禾费衍射积分的方法设计衍射光学元件实现线条结构光和不同角度方框图形的光场重构,结果表明:原有的设计方法只适用于衍射角全角小于25°的情况,当衍射角大于25°时,重构光场会出现显著的枕形畸变和不均匀的强度分布。而本文方法在小角度和大角度衍射下都能重构出准确的衍射角和较为均匀的强度分布. 相似文献
86.
87.
88.
89.
介绍了一种基于计算全息的非对称多台阶衍射光学元件印模制备方法,研究了相位型计算全息的工作原理和设计方法,建立了相应的光学系统和衍射光波模型,设计了求取相位型印模微结构的算法流程。在理论分析的基础上,以叠心图案为例,利用MATLAB分别仿真了2台阶、4台阶、8台阶、16台阶衍射光学元件的相位信息以及表面微结构形貌,并对比了其再现图像的质量,发现台阶数越多,再现图像的质量越好。获得印模空间高度数据以及表面结构分布后,利用单点金刚石车削技术,采用快刀加工方式,分别加工了元件尺寸为6 mm×6 mm,最小特征尺寸为30 um的2台阶和4台阶印模,并获得了实际加工的台阶轮廓曲线以及表面结构轮廓。最后采用紫外固化纳米压印技术实现了4台阶印模的复制过程,并对复制样品进行了图像再现,结果表明该方法能用于非对称低台阶数衍射光学元件印模的制备。 相似文献
90.
1引言
大学物理实验中,“用霍尔效应法测量磁场”实验是工科各专业必做的实验之一,笔者已给学生上这个实验许多年,深感这个实验装置必须改进;因为在实验中,虽然笔者再三强调不要把励磁电流接至霍尔元件上,仍然有部分学生因接错线路而导致霍尔元件被烧毁.由于上大学物理实验课的学生多,仪器的使用率特别高,所以一个学期下来总有六七台甚至更多台霍尔效应实验仪中的霍尔元件被烧毁而需更换. 相似文献