高能工业CT用新型X射线源焦斑测量

 为了获得较高的空间分辩率，设计了一种新型小束斑驻波电子直线加速器，该加速器取消了加速腔中的鼻锥结构，而在耦合腔中设置鼻锥结构。用狭缝法代替小孔法测得X射线源的焦斑尺寸为1.4mm。讨论了射线源焦点对成像质量的影响，分析了在高能条件下小孔法不适合用于焦点测量的物理原因，用4种测量方法测量了该高能X射线源的参数，测得该系统的成像极限分辩率为2.5 lp/mm，最后对实验结果进行了分析。     

Effects of pattern dependence on high-power polarization-division-multiplexing applications

High-power polarization-division-multiplexing (PDM) systems or functional modules, such as self-phase-modulation (SPM)-based all-optical regenerators, cross-phase-modulation (XPM)-based wavelength convertors or format convertors, all-optical logical gate, and so on, may suffer from the effects of pattern dependence. Such effects are experimentally investigated using relative time delay variation between bit sequences with orthogonal polarization states in a 2 × 10.65 Gb/s high-power on-off keying (OOK) PDM system. Eye-diagram-based signal-to-noise ratio (SNR) and bandwidth of broadened spectrum are measured and compared. An eye-diagram-based SNR fluctuation of up to 4 dB may occur as the delay changes.     

简讯

欢迎订阅2013年《计测技术》《计测技术》创刊于1958年,是中航工业北京长城计量测试技术研究所(国防科技工业第一计量测试研究中心)主办的计量测试技术类期刊,双月刊,逢双月28日出版,国内外公开发行。     

典型折反式超短投射比投影显示系统的光电测试研究

基于典型的折反式超短投射比DLP投影光学系统,提出并搭建了一种通过调整RGB-LED轮转占空比实现白平衡同步实时反馈的DLP投影仪全性能快速测试平台,设计了投影系统的整机层叠式机构和散热布局,并在测试平台下通过光学、散热、功耗、噪声和温升等实验对投影整机的光电性能进行了验证。实验结果具有一定的应用价值和可行性,能够为相关研究和产业化生产提供基本的参考依据。     

ICASI’2012,CCATM’2012国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会征文通知

为促进全球范围内冶金及材料分析测试技术、优化冶金制造流程与产品的过程检测,国际钢铁工业分析委员会、中国金属学会(CSM)及中国机械工程学会(CMES)将于2012年10月31日-11月3日在"国家会议中心(北京)"联合举办ICASI’2012,CCATM’2012国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会。热忱欢迎冶金、材料、矿山、化工、机械、地质、环保、外贸、国防、商检等单位、部门或院校从事冶金分析、无损检测、物理及力学测试等相关工作的技术人员及管理者踊跃投稿,积极参加。     

托卡马克中局域磁扰动引起的高能量离子损失研究

基于单粒子导心运动代码ORBIT，采用测试粒子模拟方法，研究了托卡马克等离子体内部不同径向位置处局域磁场扰动对高能量离子的损失的影响。研究表明，在局域磁扰动主要分布在某磁面附近、其环向具有类似纹波场形式下，可造成一些靠近等离子体中心区域的高能量离子损失，但对靠近等离子边界的离子损失影响相对不大。这些损失的高能量离子均为捕获离子，离子的投掷角越大就越容易损失。此外，造成高能量离子最大损失率的局域场径向位置与这些损失离子的初始径向位置通常存在一定的偏移，而且这个偏移与这些离子的能量密切相关。当局域场出现在某些位置时，能量较低的离子会有一定的损失，能量较高的离子反而不会损失。     

栅极天线和NMOS耦合的CMOS太赫兹热探测器的设计与测试

设计了一种在室温工作的太赫兹热探测器.探测器由片上天线和温度传感器耦合而成.天线由NMOS温度传感器的栅极组成,吸收入射的太赫兹波将其转化为焦耳热,生成的热量引起的温度变化由温度传感器探测.整个探测器的探测过程分为电磁辐射吸收、波-热转换、热-电转换三个过程,并分别进行了建模分析,仿真得到天线吸收率为0.897,热转换效率为165K/W,热电转换效率为1.77mV/K.探测器基于CMOS 0.18μm工艺设计,工艺处理后将硅衬底打薄至300μm.探测器在3THz太赫兹环境下,入射功率为1mW时,电压响应率仿真值为262mV/W,测试值为148.83mV/W.     

半导体超晶格国家重点实验室诚聘英才

<正>中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室是以半导体物理研究为主的国家重点实验室,在半导体材料生长、器件加工、物理测试和理论研究方面有着非常雄厚的研究基础,20年来为我国在半导体领域的基础研究方面做出了突出的贡献。现计划在半导体     

“理化测试学术研讨会”暨《理化检验》创刊50年庆祝活动通知(第二轮)

为庆祝《理化检验》杂志创刊50年,回报长期以来关心、支持《理化检验》杂志的广大作者和读者,进一步发挥专业媒体的作用,拓宽和强化学术交流平台,促进我国理化检验水平的进一步提高,推动与加强行业的理化检验工作,增强我国产品在国际间的竞争能力,并充分展示国内外理化测试技术的最新进展,上海材料研究所、中国机械工程学会理化检验分会决定于2012年10月28日至31日在上海联合举办"理化测试学术研讨会"暨《理化检验》创刊50年庆祝活动。会议期间,还将举行第八届《理化检验-化学分册》编委会换届会议,     

第十五届全国光学测试学术交流会第一轮征文通知

正受中国光学学会委托,中国光学学会光学测试专业委员会订于2014年10月下旬在江西南昌召开第十五届全国光学测试学术交流会,本届会议由南昌航空大学承办。本届年会适逢"十二五"项目实施的关键阶段,将特邀院士与国内著名专家做大会报告,广泛欢迎全国从事光学及光电测试等相关领域的科技人员参加,交流"十二五"阶段的学术研究、技术开发的新进展,研讨新动态、新领域,同时欢迎公司企事业单位到会展示技术成果,洽谈产、学、研合作。一、关于征文内容(1)光学元件(普通元件、非球面元件、自由曲面元件、二元光学元件、天文光学镜面、梯度光学元件、离散光学元件,光栅元件等)的性能参数测试;(2)光学系统的成像质量评价与测试方法;(3)光学材料(玻璃、晶体、光学塑料、微纳结构与特种功能材料)特性参数测试;(4)光学薄膜特性参数