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以介质填充的平行板放电结构为例,本文主要研究了介质填充后微波低气压放电和微放电的物理过程.为了探究介质材料特性对微波低气压放电和微放电阈值的影响,本文采用自主研发的二次电子发射特性测量装置,测量了7种常见介质材料的二次电子发射系数和二次电子能谱.依据二次电子发射过程中介质表面正带电的稳定条件,计算了介质材料稳态表面电位与二次电子发射系数以及能谱参数的关系.在放电结构中引入与表面电位相应的等效直流电场后,依据电子扩散模型和微放电中电子谐振条件,分别探讨了介质表面稳态表面电位的大小对微波低气压放电和微放电阈值的影响.结果表明,介质材料的二次电子发射系数以及能谱参数越大,介质材料的稳态表面电位也越大,对应的微波低气压放电和微放电阈值也越大.所得结论对于填充介质的选择有一定的理论指导价值. 相似文献
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113.
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建立有效的数学模型,全面分析了微波消解石墨炉原子吸收光谱法测定山药中镉不确定度的主要来源,并系统地评定各因素的不确定度。结果表明,对于山药中镉含量为25.12μg/kg的样品,扩展不确定度为3.47μg/kg(k=2),最终测量结果表示为25.12±3.47μg/kg。影响最终不确定度的主要有标准溶液配制、测量重复性及样品回收率3个分量,而称重和消解液的定容过程对结果影响较小。通过对测量的不确定度评定,为有效地控制山药中镉含量的检测提供可靠的理论依据。 相似文献
115.
116.
采用微波-PAM模板法合成了具有尖晶石结构的锰酸锂材料,利用动态红外光谱(FTIR)对该方法的反应机理进行了研究。在前驱体的制备和在LiMn2O4晶核形成过程中,由于聚丙烯酰胺与反应母体之间的弱键合作用,使其在晶粒生长过程中对LiMn2O4的团聚规律与缺陷结构起到重要调控作用。 相似文献
117.
The variational method is applied to calculate the dispersion characteristics of disc-loaded waveguide slow-wave structures. The parameters describing the waveguide discontinuities in disc-loaded waveguide are calculated by the variational method. Then the dispersion characteristics of slow-wave structures are obtained using lossless microwave quadrupole theory. Good agreement was observed between results of the variational method and those of field matching method and high frequency structure simulator. In the case of broad band, results of the variational method are better than those of field matching method. 相似文献
118.
119.
Spectrum of the Micromaser with Kerr Medium 总被引:3,自引:0,他引:3
WUShu-Dong 《理论物理通讯》2002,37(5):637-640
We have established the master equation for the micromaser with Kerr medium field density operator,studied the spectrum of the micromaser with Kerr medium and analyzed the influence of Kerr effect and the detuning on the spectrum.In the thermal-atom regime,we find that Kerr effect broadens Linewidth D and increases frequency-shift S,and that the detuning Δ narrows linewidth D and increases frequency-shift S as a whole,Moreover Kerr effect leads to oscillatings more rapidly in the resonance peaks,which means that it causes quantum noise,As a whole,with the increase of cavity-length L,the linewidth D and frequency-shift S gradually increase. 相似文献
120.