25MeV/u6He+9Be反应的轻粒子发射

在25MeV/u ⁶He与⁹Be靶的反应中,107°和128°处明显地观察到了轻粒子发射.粒子能谱形状与平衡热源蒸发相一致,分析得到热源的核温度为完全熔合条件下的5.6MeV或非完全熔合条件下的5.2MeV .实验发现发射氚的数量特别大,这可能与目前广泛研究的⁶He的集团结构和同位旋效应有关.     

改性壳聚精膜用于醇水混合液分离的研究──Ⅲ．超细粉末填充壳聚精膜

首次制备了用Ｓｉ３Ｎ４，ＳｉＯ２，ＴｉＨ４超细粉末填充的改性壳聚精膜，并将其用于乙醇／水混合液的分离中。实验表明壳聚糖膜经超细粉末填充后强度增大，溶胀度减小。用于乙醇／水混合液渗透蒸发分离时，分离因子和渗透通量都有提高，并在填充量为１６．７％附近出现极大值。随着料液中乙醇含量的增大，渗透通量减小，分离因子增大；随着料液温度的升高渗透通量显著增大，分离因子则稍有下降。并简单讨论了超细粉末在乙醇／水混合液分离中的作用。     

156Tm核的高自旋态实验研究

利用122.5MeV的¹⁹F束流, 通过¹⁴²Nd(¹⁹F,5n)¹⁵⁶Tm熔合蒸发反应布居了¹⁵⁶Tm核的高自旋态, 测量了γ-γ符合及DCO比值, 建立了一个有29条能级, 33条γ跃迁的能级纲图. 新增加了20条γ跃迁, 18条能级. 将能级自旋推高到(34^－).     

电热蒸发进样微波等离子体炬原子发射光谱法中共存元素的影响

本文考察了以微波等离子体炬（MPT）为光源，电热钽丝环进样时，溶液中共存元素对发射信号的影响。     

断续喷洒去溶电热雾化法在电感耦合等离子体原子发射光谱方法中的应用研究

本文所讨论的电热雾化法是采用继续喷洒去溶技术,使试样在石墨炉表面逐步积累的进样方法。文章简要介绍了实验条件的选择和控制以及石墨炉装置的结构,探讨了提高电热雾化法相对检测能力的途径。实验结果表明:谱线黑度值与试样积累时间的对数值之间具有较好的线性关系。     

ZnS:Tm的薄膜电致发光及激发过程

用电子束蒸发的方法制备了传统的双绝缘层的ZnS:Tm的薄膜电致发光器件，对其电致发光谱进行分析，在光致发光中，Tm离子受到基质ZnS的无辐射能量传递，而在电致发光中，Tm被过热电子碰撞激发而非能量传递，在所研制的电致发光器件中，稀土TmF3掺杂浓度不同，器件的发光性能也不同，在双绝缘层的ZnS:Tm的薄膜电致发光器件的基础上，改变器件的结构，发现器件的蓝光发射与红光发射之比增加，并对Tm离子可能的发光机理进行了探讨。     

共沉淀预富集氟化辅助ETV－ICP－AES测定高纯氧化钇中痕量钒

提出吡咯烷二硫代氨基甲酸铵为沉淀剂，Ｂｉ（ＰＤＣ）３共沉淀分离预富集氟化辅助ＥＴＶ－ＩＣＰ－ＡＥＳ测定高纯Ｙ２Ｏ３中痕量钒的新方法。分离基体后的杂质浓缩物不需用酸溶解，而是制成悬浮体直接引入石墨炉蒸发，采用水溶液标准工作曲线测定沉淀物中的钒。本法测定钒的检出限为１．１ｎｇ／ｍｌ，ＲＳＤ为２．８％（ｎ＝１０，ｃ＝１５ｎｇ／ｍｌ），实际试样分析的回收率＞９６％。     

激光作用产生的CnH^-、CnF^-、CnF3^-及其结构分析

作者在自制的仪器上, 以脉冲激光(波长532nm, 能量密度10^8W/cm^2)在10^-^4Pa的真空中溅射合适的样品, 产生了一系列CnH^-、CnF^-和CnF3^-, 记录了它们的飞行时间质谱。     

渗透蒸发脱盐的研究

将选择性透过膜和汽化相结合的分离过程是当前的研究热点,其中采用低热导率、疏水性多孔膜的过程称膜蒸馏,而采用非多孔性半透膜的过程则称渗透蒸发。将该分离过程用于盐水脱盐已有很多报道,并已建成中试设备,但采用的大多是膜蒸馏,所用膜的成本很高。本文研究制了一种价廉并带有致密层的非对称性含钠离子聚乙烯醇(PVA)-聚乙二醇(PEG)分离膜,并用该膜对渗透蒸发脱盐进行了初步研究。 1 实验 1.1 膜制备 将一定配比的PVA与PEG及钠盐水溶液在适当温度下混溶,加入适量醛类交联剂,数分钟后在选定的基材上流涎成膜,室温下自然晾干,再经35℃～50℃控温红外线干燥。 1.2 膜结构及脱盐流程 扫描电镜拍摄的膜断面形貌图像(图1)表明,该膜为非对称膜,表层厚约13μm,其中厚约2～3/μm的上表层为疏松结构,下表层为致密结构。将该类膜用于3.5％NaCl水溶液脱盐,运行4h后再漂洗、干燥作断面Na元素波谱线分析(图2)发现,在膜下层(右侧)厚约30μm层内检测不到Na元素。脱盐流程见文献。     

JEE—4x型真空镀膜仪功能扩展

报道了对ＪＥＥ－４ｘ型真空镀膜仪蒸发装置的改进以及建立蒸发材料回收装置的具体方法，并介绍了改进后该仪器在高分辨扫描电镜样品制备上的应用实例．实验证明，上述改进不但扩展了ＪＥＥ—４ｘ型真空镀膜仪的制样功能又节省了蒸发材料，集中了离子溅射法及常规高真空镀膜法的优点，完全满足ＳＥＭ样品的分析要求，该方法简单易操作．