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91.
本文研究了高灵敏的meso-四(4-乙酰氧基苯)卟啉[T(4-AOP)P]-铜(Ⅱ-乳化剂OP体系。在酸度为pH5.0~5.6范围内形成的三元络合物可引起T(4-AOP)P-OP荧光强度的定量熄灭,其Ex=413nm,EM=656.9nm,Cu(Ⅱ)浓度在0~0.150μg/ml范围内有良好的线性关系,回归方程F=25.51-8.45m,试验了14种离子的干扰影响,并用此法测定了小球藻中Cu的含量,回收率达96~104%。  相似文献   
92.
8—羟基喹啉—5—磺酸为柱前螯合荧光试剂的反相离子...   总被引:5,自引:0,他引:5  
刘文远  卓琪 《分析化学》1992,20(6):638-642
  相似文献   
93.
包生祥 《分析化学》1991,19(8):942-944
  相似文献   
94.
95.
96.
97.
用吡啶作为荧光探针研究了嵌段共聚物PluronicF108胶团形成以及牛血清白蛋白(BSA)对嵌段共聚物胶团形成的影响。研究表明,BSA阻碍嵌段共聚物的胶团形成,BSA与嵌段共聚物疏水链段的疏水相互作用是其阻碍嵌段共聚物胶团形成的主要原因。  相似文献   
98.
ARL 9800XP型X射线荧光光谱仪的故障及维修   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一例ARL-9800X射线荧光光谱仪的故障及故障排除的措施。  相似文献   
99.
X射线衍射摇摆曲线的计算机模拟是一种获得材料晶体质量参量的有效方法,其中材料本征摇摆曲线的计算是计算机模拟的基础。用X射线动力学理论计算了Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe本征反射率曲线,并研究了组分、膜厚分别对本征反射率和半峰全宽的影响。结果表明Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe的本征反射率和半峰全宽与材料组分和厚度有明显的依赖关系,且该依赖关系取决于X射线在材料中的散射和吸收的相对强弱。薄膜的厚度也是直接影响本征摇摆曲线峰形、半峰全宽和反射率的重要因素,当薄膜厚度小于穿透深度时,表征本征反射率曲线的各个参量均与薄膜厚度有直接的关系。对于(333)衍射面,碲镉汞材料厚度大于7μm后,本征反射率和半峰全宽将不再发生明显变化。  相似文献   
100.
Fe(phen)32+与DNA作用的荧光光度法研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
陈婧  王娟 《中国稀土学报》2003,21(Z1):183-185
为了考察金属配合物Fe(phen)32+与DNA 的作用模式, 应用荧光光度法对Fe(phen)32+与DNA及DNA-EB的作用进行了研究,结果表明Fe(phen)32+是主要以共轭平面插入形式与DNA作用的, 并计算出稳定常数等一系列热力学数据.  相似文献   
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