全文获取类型
收费全文 | 1479篇 |
免费 | 1065篇 |
国内免费 | 152篇 |
专业分类
化学 | 75篇 |
晶体学 | 6篇 |
力学 | 247篇 |
综合类 | 60篇 |
数学 | 216篇 |
物理学 | 2092篇 |
出版年
2024年 | 32篇 |
2023年 | 68篇 |
2022年 | 88篇 |
2021年 | 74篇 |
2020年 | 36篇 |
2019年 | 86篇 |
2018年 | 45篇 |
2017年 | 77篇 |
2016年 | 60篇 |
2015年 | 90篇 |
2014年 | 189篇 |
2013年 | 105篇 |
2012年 | 120篇 |
2011年 | 148篇 |
2010年 | 127篇 |
2009年 | 146篇 |
2008年 | 121篇 |
2007年 | 108篇 |
2006年 | 93篇 |
2005年 | 88篇 |
2004年 | 101篇 |
2003年 | 105篇 |
2002年 | 69篇 |
2001年 | 67篇 |
2000年 | 59篇 |
1999年 | 48篇 |
1998年 | 44篇 |
1997年 | 29篇 |
1996年 | 47篇 |
1995年 | 36篇 |
1994年 | 23篇 |
1993年 | 24篇 |
1992年 | 30篇 |
1991年 | 19篇 |
1990年 | 26篇 |
1989年 | 24篇 |
1988年 | 10篇 |
1987年 | 10篇 |
1986年 | 3篇 |
1985年 | 3篇 |
1984年 | 6篇 |
1983年 | 5篇 |
1982年 | 6篇 |
1959年 | 1篇 |
排序方式: 共有2696条查询结果,搜索用时 31 毫秒
91.
城市功能区声环境质量监测数据是评估我国城市声环境质量水平的重要依据,为科学准确地反映城市功能区声环境质量水平,应选取合理的、具有代表性的监测时间开展监测。本文以某地4个典型的功能区声环境质量监测点位1年的连续监测数据作为样本,分析了不同功能区点位长期噪声波动特征,并采用Kruskal-Wallis 检验(K-W检验)方法,分别分析了一年中各月之间及一周中各日之间噪声水平的差异性。数据处理及分析结果表明:(1)4个监测点位一年中各月之间噪声水平,特别是夜间等效连续A声级之间具有显著差异,一年监测一次显然难以代表全年声环境质量水平;相比较下,每季度监测一次能大幅提高监测结果代表性,季度内的3个月份各月之间无显著差异的比例占80%以上;(2)对于这4个监测点位,一周中在周二至周五之间监测其结果更具代表性。 相似文献
92.
93.
94.
95.
论证了在赝带隙光子晶体中存在一个全频率域态总数守恒规则,在完全带隙光子晶体中还存在一个局域态总数守恒规则.态总数守恒规则指出,如果一个光子晶体的态密度在某些频率范围存在相对于等效介质态密度的谷,则一定由其他频率范围内相对于等效介质态密度的峰来补偿.使用符合态总数守恒规则的态密度模型,解释了态密度调制导致的自发辐射谱增强、抑制、变窄、红移、蓝移以及谱分裂等光子晶体中的量子光学现象.该理论比较适合研究在具有赝带隙的光子晶体中大量随机分布的发光原子或分子的自发辐射行为.
关键词:
光子晶体
自发辐射
态密度
光子赝带隙 相似文献
96.
97.
非即变相位共轭反馈对半导体激光器动态特性的影响 总被引:2,自引:1,他引:2
从四波混频产生相位共轭的物理原因出发,定义了相位共轭镜(PCM)的响应时间.建立起非即变相位共轭反馈条件下半导体激光器的外腔模型。以响应时间及频率失调为参变量,对其分岔及噪声等动态行为进行数值分析。结果表明,不考虑噪声影响时,增加相位共轭镜响应时间会使混沌带出现的次数和范围得到较大的抑制,当响应时间增大到1.5ns时,混沌带消失,半导体激光器保持稳定的单周期状态;考虑噪声影响后,随若响应时间的相对强度噪声(RIN)可减小几dB甚至十几dB,产生突变需要的反馈量也增大一个数量级以上,且其频谱的峰值向高频方向移动;另外,由于共轭反馈引起的频率失调低于半导体激光器激射频率3个数量级以上.它只对分岔特性有影响.对相对强度噪声的影响几乎为零。 相似文献
98.
99.
自发辐射(ASE)是掺铒光纤放大器(EDFA)的重要噪声源,对于由EDFA构成的光纤激光器有重要影响。理论与实践证明,它与抽运方式紧密相关,所以研究脉冲抽运时掺铒光纤(EDF)的自发辐射有重要的学术价值。同时,脉冲抽运对于EDFA锁模激光器的研究也有一定意义。从理论和实验两方面研究了小信号脉冲抽运时,抽运脉冲宽度和幅度对于EDF的自发辐射特性的影响,得到了小信号抽运时输出ASE噪声平均值的近似解析解。研究发现,小信号脉冲抽运时输出信号的幅度与抽运脉冲的宽度成正比。这个新现象可用于脉冲宽度的全光检测。 相似文献
100.