科学无止境 魅力在创新——记中国科学院院士田昭武

田昭武（1927~）,福建福州人.物理化学家.1980年当选为中国科学院院士,1996年当选为第三世界科学院院士.英国威尔士大学名誉理学博士.注重学科交叉渗透及电化学技术的实际应用,努力推动全国电化学事业的发展.20世纪50年代,科研方向为电极过程的基础理论和仪器创新,至80年代总结为专著《电化学研究方法》.主要包括：发现电化学自催化过程并系统地解析其奇异现象;直接比较法解得电极“绝对等效电路”;提出多孔电极每个子过程“特征电流”的概念,进而提出气体扩散多孔电极“不平整液膜”模型;研制的“DHZ-1型电化学综合测试仪”,成为首批国产仪器;研制的“XYZ型离子色谱抑制器”取代了DIONEX公司老一代产品.90年代后,致力于从电化学出发解决其他领域的难题.提出约束刻蚀剂层技术,可应用于半导体和金属的微纳米复杂三维加工,实现半导体阵列微透镜的复制;设计集成化阵列点样头以制作微阵列生物芯片,可供普通医院快速诊断疾病.21世纪以来,提出新型超级电容器,可回收汽车制动能量以缓解市内汽车油耗和污染.获得1980年第四机械工业部科技成果一等奖、1986年国家教委科技进步一等奖、1987年国家自然科学三等奖、2007年福建省科技重大贡献奖等多项奖励和荣誉.历任厦门大学校长、中国化学会理事长、国际电化学会副主席.     

智能加速度测试仪

介绍了一种电子加速度测试仪的硬件设计和软件设计．该电子加速度测试仪可以应用于物理实验，以取代现有测量加速度的机械装置．     

手机USB数据线测试仪的研制

针对企业生产手机USB数据线时需要进行性能测试方面的要求,设计出一款以FPGA为处理核心,USB接口芯片为控制对象,辅之电源、存储器、键盘、显示、静电保护和反馈输出接口等模块组成的手机USB数据线测试仪。该测试仪按照USB通信协议把USB数据包通过被测数据线进行传输,然后通过计算其传输USB数据包的错误率来判断数据线性能的质量好坏。通过与误码率分析仪、电脑海量传输实测的结果对比和实际应用表明,该仪器较其它测试方法具有测试速度快,测试结果准确等优点,可广泛地应用于USB数据线生产企业。     

基于AVR单片机的电动执行器控制模块检测仪的设计

电动执行器控制模块采用传统的控制电路结构较复杂,发生故障的概率相对较高,另外,电机在运行时会产生很多热量,导致电机发热过高,增加了机械的磨损,结果造成执行器运行速度慢,耗费时间,寿命短。本文采用一种基于AVR单片机ATMEGA329为核心的电动执行器控制模块检测仪,很好的解决了传统电动执行器控制模块存在的问题,实现了较高的可靠性和稳定性,可以长距离的传输信号,且速度较快,与其它一些仪表可以做到调试、功能和技术性能测试。文中简介了该控制模块检测仪的基本原理、设计方案和实验测试结果。最后经过试验证明,该电动执行器运行稳定,可靠,能够满足技术更新的要求。     

转动惯量测试仪的改进

转动惯量测量实验是大学物理实验中综合实验项目之一,目前高校工科物理实验常用三线摆法测量刚体的转动惯量,而转动惯量测试仪目前都无测量过程周期自检报错功能,为减少学生使用过程中出错概率,对仪器增加自检功能,提高测量准确度,同时为方便记录,增加了周期记忆功能。     

基于调节片的风速剖面模拟装置实验研究

在模拟大气边界层流动的风洞中,风速剖面模拟是关键技术之一.为了在风洞中实现大气边界层风速剖面的模拟,在风洞试验段内产生满足要求的风速剖面,本文针对一种基于调节片的风速剖面模拟装置进行了实验研究.这种基于调节片的风速剖面模拟装置在高度方向分为若干层,每层均由3片调节片组成,每片调节片按相同的规律开孔,且每层调节片均可独立...     

红外光学材料折射率测试仪

介绍一种可测锗、硅等红外光学材料折射率的测试仪器。对国产锗、硅及锗砷硒玻璃等红外材料的折射率进行了测量并分析测量结果。     

瞬态光谱测试仪在烟火方面的应用

用３５０～１１００ｎｍ瞬态光谱测试仪对烟火药剂进行谱测试，分析碱金属和碱土金属在烟火药火焰光谱中的辐射波段，计算各红外烟火剂的稳身指数。     

平面光栅杂散光测试仪模型设计及消杂光技术研究

杂散光是平面光栅的重要性能指标,光栅杂散光的测量一直是光栅研制领域的难题。为实现仪器自身杂光低于10-8量级,以满足对平面光栅杂散光10-7量级的精确测量要求,基于标量衍射理论和经典Fresnel-Kirchhoff衍射理论,对光谱仪器中的光栅杂散光进行了理论分析,设计了平行光照射条件下光栅杂散光测试仪的光机模型。利用杂散光分析软件ASAP建立紫外单色光入射下光栅杂散光测试仪的散射模型并对其进行仿真计算,分析仪器杂光的主要来源及散射路径,据此提出了用于降低仪器散射光和光栅多次衍射光的挡光环、叶片、光阑、光学陷阱等四种杂光抑制结构。最后,采用ASAP软件对增加抑制结构前后的仪器杂光相对强度进行了对照分析。仿真及分析结果表明,仪器杂光在测试波长±100 nm范围内的最大值由采用杂光抑制结构前的10-6量级以上降低至10-8量级以下,已满足光栅杂散光测试仪的设计需求,即可实现刻线密度为300～3 600 gr·mm-1的光栅杂散光10-7量级精确测量。该研究方法及结果将为平面光栅杂散光测试仪研制提供理论依据。