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51.
CuX(X=Al, Ga, In)分子的势能函数与稳定性的密度泛函研究   总被引:5,自引:3,他引:2  
根据原子分子反应静力学原理导出了CuX(X=Al,Ga,In) 分子基态电子状态及其离解极限,并在B3LYP/LANL2DZ水平上计算了平衡几何、振动频率和解离能.利用Murrell-Sorbie 函数拟合出了解析势能函数,并计算出光谱参数和力常数.计算结果表明该分子体系是稳定存在的,其稳定性排序为 CuAl>CuGa>CuIn.  相似文献   
52.
用变加速动力学的急动度(加加速度)概念,分析了车辆、电梯的乘座舒适性与高层钢结构建筑的风振舒适性问题.  相似文献   
53.
主要讨论了不含k-C-圈的n阶r-一致超图,对不同的k,分别得出了它的极大边数的一个下界,并且得出在有些情况下它的下界是最大的.另外,我们得到了Krn含k-C-圈的一个充分必要条件.  相似文献   
54.
本文采用无催化剂直接蒸发高纯Zn粉,在800℃氧气氛条件下,在Si(111)衬底上生长得到以四角状为主的纳米ZnO(T-ZnO)。T-ZnO纳米线每个角约互成110°,长度约为1.5μm,直径100nm左右;Raman分析表明E2(H)普遍存在于各形态的ZnO;光致发光光谱表明,T-ZnO纳米线的光致发光除了与材料性质有关,还与杂质缺陷有关,蓝绿光带是ZnO的缺陷产生的。  相似文献   
55.
对二维平面系统的二维系统的中心焦点区分问题 ,I l'yashenko曾建议一个算法 ,本文给出此法的详细证明 .据此 ,我们讨论了区分问题在 Arnold意义下的代数可解性与不可解性  相似文献   
56.
光纤一光栅对激光脉冲压缩   总被引:4,自引:4,他引:0  
樊立明  李士英 《光学学报》1991,11(5):85-389
  相似文献   
57.
应用LiNbO_3声表面波驱动的全光纤声光频移器   总被引:1,自引:1,他引:0  
介绍一种工作在10.7MHz的全光纤声光频移器.它由在LiNbO_3基片上制作的叉指电极换能器产生的声表面波驱动.当驱动电功率1.5W时,频移光转换效率达35%.  相似文献   
58.
提出用正统变频滤波器抑制孤子间的相互作用,并对上变频滤波器、下变频滤波器、交叉变频滤波器在抑制孤子相互作用方面的效应进行了数值研究。结果表明,正弦变频滤波器是最为有效的。  相似文献   
59.
本文在分析了均匀掺杂分布式光纤放大器(d-EDFA)的基础上,提出了沿传输方向掺杂浓度单调下降(单变),和降升结合(两变)的两种渐变型分布式光纤放大器,并用传输方程研究了透明传输和最佳掺杂浓度下,受激喇曼散射对均匀、单变和两变型三种d-EDFA的各种特性的影响.  相似文献   
60.
We investigate the capillary effect and the residual stress evolution in the wetting, drying and rewetting stages of porous silicon using x-ray diffraction and micro-Raman spectroscopy. A reversible capillary effect and an irreversible oxidation effect are the driving forces for the residual stress evolution. The lattice expansion of the porous-silicon layer is observed to decrease slightly by x-ray diffraction and the tensile residual stress increases rapidly by micro-Raman spectroscopy, with the change of about 82 MPa for the oxidation effect and the change of 2.78 GPa (enough for cracking) for the capillary effect. Therefore, the capillary effect plays a major role in the residual stress evolution in the stages. A simple microscopic liquid-bridge model is introduced to explain the capillary effect and its reversibility. The capillary emergence has a close relation with a great deal of the micro-pore structure of porous silicon.  相似文献   
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