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The research on aggregation-induced emission (AIE) has drawn increasing interests in the past decade. With the efforts scientists paid, a variety of AIE systems have been developed, among which the tetraphenylethelene and silole derivatives are the most studied. Development of new AIE systems could further enrich the AIE molecules and promote the development of AIE area. In this communication, we prepared a new AIE system based on 1,2,4,6-tetraphenylpyridinium ions according to the restriction of intramolecular rotation mechanism. These molecules could be facilely synthesized via one-step and one-pot reaction. The ionic AIE-active molecules could find wide application in sensing and optoelectronic areas. 相似文献
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采用电磁场有限元方法,数值模拟了孔径型扫描近场光学显微镜(aperture Scanning Near-field Optical Microscopy,a-SNOM)在照明模式下的工作过程.针对金偶极天线结构,改变天线长度和纳米间隙尺寸,计算了a-SNOM探针孔径的远场辐射速率随探针端面中心坐标变化的扫描曲线,实现了超越a-SNOM探针通光孔径尺寸的天线金属纳米间隙的超分辨测量,对于100nm通光孔径的探针,可分辨最小尺寸为10nm(0.016倍波长)的金属间隙.通过对比金属和介质偶极天线的a-SNOM探针远场辐射速率测量的计算结果,表明天线金属纳米间隙的超分辨测量的实现是由于金属间隙表面等离激元的激发. 相似文献
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对于高光表面及小圆角结构工件,传统的光学测量方法以及设备难以满足工程要求,基于蓝光扫描仪,提出一种球心偏置测量方法。在待测工件表面附着经220目砂粒喷砂处理的钢球,利用蓝光扫描仪对钢球进行快速扫描并拟合出扫描点云的球心点,沿待测工件表面法矢方向偏置钢球半径可得到工件表面实测点。利用该方法对标准圆棒进行测量,拟合直径差值为0.000 2 mm,测量精度在0.03 mm以内,验证了该方法原理的可行性。以进排气边圆角R < 0.1 mm的抛光叶片某条截面线为例,测量精度在0.03 mm以内。该方法不受待测工件表面材质影响,对于高反光表面以及具有微小结构特征工件的测量具有重要意义。 相似文献
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