宽带多层换能器

为了提高医学超声、无损检测用换能器的频带宽度,目前普遍采用重背衬吸声块及前匹配层技术。一般来说,前匹配层是无压电性的,只起阻抗匹配的作用。 J.A.Hossack和B.A.Auld报道了一种宽带多层换能器,这种换能器的结构与普通具有前匹配层的换能器基本相同,其差别是用压电材料作前匹配层,并且在前匹配层上加激励电压,成为具有两层或两层以     

二元光学元件衍射效率的逐层分析法研究

提出了一种有效的分析二元光学元件衍射效率的新方法－逐层分析法，并对四台阶二元器件，就蚀刻深度误差和横向对准误差对器件衍射效率的影响进行了详细的分析和讨论，证明了用该方法分析含有横向对准误差的二元光学元件的衍射效率非常简便有效。     

光纤编码器的研制

近年来随着光纤技术的发展,各种光纤传感器日臻完善。我们先后制作出光纤微压力传感器、光纤液位传感器、光纤高温传感器以及用于化学溶液的浓度测量等系列光纤传感器。由于社会和生产的需要,在我所过去研究工作的基础上,又研制出光纤编码器的实验样机。本文阐述研制的光纤编码器的工作原理、设计制作及技术指标。并对其应用范围进行讨论。     

恒温发热PTC热敏元件达到国际先进水平

恒温发热ＰＴＣ热敏元件达到国际先进水平张喜哲，何青（中国科学院金属研究所，沈阳１１００１５）中国科学院金属研究所在ＰＴＣ材料的研制、开发和生产过程中，经过几年坚持不懈的努力，现在已能大规模生产高性能ＰＴＣ热敏元件。其性能达到国际先进水平。ＰＴＣ即英文...     

偏程光学平台

本文在对三轴稳像棱镜组研究的基础上，提出了用三轴稳像棱镜组进行稳像，用另外的扫描部件作扫描的方案。并推导出相应的稳像扫描公式。当三轴稳像棱镜组和计算机结合起来以后，就可以赋予该棱镜组以“编程光学平台”的新概念。     

二元光学元件制作误差分析与模拟

从标量衍射理论出发，首先从理论上计算出多台阶二元化学元件发生深度误差时衍射效率的解析式，然后以４台阶和８台阶闪耀光栅为例，对二元光学元件套刻制作中的主要误差及其这些误差之间的相互影响进行了系统的分析和计算机模拟研究，模拟结果给实际制作提供了重要理论指导和实验参数。     

大口径光学元件功率谱密度的统计法测量

针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。     

霍尔元件线度对磁场测量影响的研究

在原有霍尔效应原理的基础上,利用微积分的基本方法和相关的物理知识推导非均匀磁场中利用霍尔效应测量磁场的理论公式,并结合该公式理论解释实验中对于霍尔元件线度的要求,以及说明非均匀磁场的测量对霍尔元件线度的要求,从而说明实验中经常遇到的一类问题——平均值问题。     

利用分形法表征光学元件中高频相位畸变

针对神光Ⅲ主机装置使用的光学元件,基于分形理论,分析中高频相位畸变的统计分布特征,指出其满足分数布朗随机场,并利用结构函数法对分形维数进行计算,统计结果显示,大口径钕玻璃片的分形维数在2.34~2.43之间。利用局部稳态的随机中点位移法,提出一种新的表征光学元件相位的方法,将分形维数作为参数,可衡量中高频相位畸变,对高功率激光光学元件的评价有参考意义。     

基于权重的子孔径拼接优化算法研究

为了提高大口径光学元件面形拼接检测准确度,减少传统子孔径拼接算法带来的误差传递和积累,并在原有全局优化拼接算法的基础上引入权重系数,使全口径内各相邻子孔径之间的重叠区域达到最优匹配,使拼接误差最小化.利用该优化算法对平面进行了多孔径拼接仿真模拟,在此基础上对150mm口径的平面镜进行了实验,并提出基于图像边缘轮廓特征提取的子孔径定位新方法,分析了影响拼接误差的因素.仿真和实验结果均证明了基于权重的全局优化拼接算法的有效性和可行性.