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121.
模糊控制已在一类缓变的过程控制中得到成功的应用,本文将它引入到柴油机这一高速系统的性能控制,研究了相应的模糊控制器的设计方法,研制了以微计算机为核心的增压空气泄放控制系统,并在B6135-ZG20涡轮增压柴油机上实现了最大爆发压力的闭环控制。这一研究进一步改善了增压系统的性能,也为模糊控制开辟了一个新的应用领域。  相似文献   
122.
<正> 近年来,各种小型铅-酸蓄电池在国外相继问世。其中胶体电池,是采用硅酸凝胶电解液的电池,它具有不渗酸、不漏液,没有酸雾逸出等优点。可应用于家用电器,小型计算机,医疗器械,通讯设备等各个领域,它的性能取决于硅酸凝胶的性质及其对电极过程的影响。硅酸凝胶对铅-酸蓄电池  相似文献   
123.
梁艺军  张森  徐彦德  邓虎 《光学技术》2006,32(4):507-510
提出了一种基于M_Z(Mach_Zehnder)干涉仪原理的光纤超声检测技术和U形结构的光纤传感器。讨论了光纤传感器与超声波之间的相互作用关系。对传感器的灵敏度与传感光纤的有效长度、U形结构的个数之间的关系进行了理论分析,实验结果和理论分析结果是一致的。通过比较超声波在三种不同入射方式下探测器的输出电压可知,该结构的光纤传感器在声信号垂直入射时由探测器探测到的信号最强,即传感器有很强的方向性,适合于对声表面波的定向检测。  相似文献   
124.
基于Radon变换的横向剪切干涉图的自动检测技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
在分析测试原理的基础上,指出了现有方法的横向剪切量获得的不足,根据剪切图和Radon变换在边缘处具有突变的特点,提出了一种基于Radon变换的横向剪切干涉图的剪切量的自动检测方法,首先根据二维图像的Radon变换结果,得到剪切图的横向移动方向,对图形进行方向校正。然后利用干涉图形的特点对图形在X和Y方向上进行Radon变换,得到剪切量。利用MATLAB进行编程,实验结果表明该方法具有很好的性能和较高的实用价值。  相似文献   
125.
通过对线阵CCD成像系统的研究,提出了机车轮对轴颈磨损的CCD成像拼接动态检测方法,分析了该方法的可行性.讨论了斜光束照射、背景光强变化等因素,这些因素降低了系统的测量精度.最后通过实验系统证明了该方法的可靠性.  相似文献   
126.
基于悬臂梁的光纤光栅线性调谐器研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
分析了基于悬臂梁的光纤光栅线性调谐的基本原理及调谐公式,指出了调谐范围、调谐灵敏度和反射波谱展宽与悬臂梁结构的关系,并提出了优化方案.实验中选用适当尺寸的悬臂梁,对粘贴其上的光纤光栅的反射波长实现了线性调谐,并可对调谐范围、灵敏度等指标进行灵活控制.  相似文献   
127.
动态柱形空穴膨胀模型及其在侵彻问题中的应用   总被引:3,自引:0,他引:3       下载免费PDF全文
 在侵彻问题中的应用进行了研究。通过采用相似变换求解塑性区控制方程,获得了动态柱形空穴膨胀中的弹塑性界面速度、径向应力分布、空穴表面应力的解。基于柱形空穴模型,推导了侵彻方程,并将其得到的预测结果与侵彻实验数据进行了比较。结果表明,模型的理论解与现有数据吻合得很好。 结果还显示了材料的可压缩性和塑性强化模量对柱形空穴膨胀以及侵彻阻力的影响。  相似文献   
128.
上转换发光免疫试纸条扫描检测系统研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
研制了一种以上转换发光材料作为标记物的扫描检测系统,有别于传统的测量方法,可做出定量和多重分析.扫描检测系统以扫描方式逐点测量经生物反应而结合上去的UCP颗粒的含量,记录整个免疫试纸条的信息,计算出被测样品中特定生物分子的浓度.实验结果表明,该系统对兔抗鼠疫免疫球蛋白(IgG)标准样品的检测灵敏度达到百ng/mL量级,且具有变异系数小于6%的重复性,符合生物免疫测定的要求.  相似文献   
129.
多光束在分形粗糙表面散射的仿真   总被引:1,自引:0,他引:1  
徐敬波  蒋庄德  赵玉龙  宋康 《光子学报》2006,35(12):1925-1929
采用矩量法(MOM),分析了多光束在分形粗糙导体表面的散射分布.对在不同入射角、光束宽度控制因子、光束照射区宽度、表面均方根高度和表面分维数情况下的散射进行了数值仿真.仿真结果表明了各参量的变化对散射分布的影响.根据仿真计算结果给出了最佳的散射测量区域,为减少多光束测量的误差提供了一定的参考.  相似文献   
130.
张冬青  王向朝  施伟杰 《光子学报》2006,35(12):1975-1979
随着光刻特征尺寸的不断减小,硅片表面不平度对光刻性能的影响越来越显著.该文提出了一种新的硅片表面不平度的原位检测技术本文在分析特殊测试标记成像规律的基础上,讨论了测试标记的对准位置偏移量与硅片表面起伏高度的变化规律,提出了一种新的硅片表面不平度原位检测技术.实验表明,该技术可实现硅片表面不平度及硅片表面形貌的高准确度原位测量.该技术考虑了光刻机承片台吸附力的非均匀性对硅片表面不平度的影响,更真实反映曝光工作状态下的硅片表面不平度大小.与现有的原位检测方法相比,硅片表面不平度的测量空间分辨率提高了1.67%倍,可实现硅片表面形貌的原位检测.  相似文献   
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