全文获取类型
收费全文 | 431篇 |
免费 | 250篇 |
国内免费 | 225篇 |
专业分类
化学 | 167篇 |
晶体学 | 49篇 |
力学 | 111篇 |
综合类 | 13篇 |
数学 | 16篇 |
物理学 | 550篇 |
出版年
2024年 | 6篇 |
2023年 | 23篇 |
2022年 | 31篇 |
2021年 | 30篇 |
2020年 | 14篇 |
2019年 | 24篇 |
2018年 | 14篇 |
2017年 | 12篇 |
2016年 | 23篇 |
2015年 | 37篇 |
2014年 | 63篇 |
2013年 | 30篇 |
2012年 | 60篇 |
2011年 | 53篇 |
2010年 | 39篇 |
2009年 | 30篇 |
2008年 | 41篇 |
2007年 | 37篇 |
2006年 | 48篇 |
2005年 | 54篇 |
2004年 | 23篇 |
2003年 | 33篇 |
2002年 | 34篇 |
2001年 | 25篇 |
2000年 | 15篇 |
1999年 | 16篇 |
1998年 | 13篇 |
1997年 | 11篇 |
1996年 | 9篇 |
1995年 | 18篇 |
1994年 | 6篇 |
1993年 | 5篇 |
1992年 | 7篇 |
1991年 | 7篇 |
1990年 | 4篇 |
1989年 | 5篇 |
1988年 | 3篇 |
1987年 | 2篇 |
1986年 | 1篇 |
排序方式: 共有906条查询结果,搜索用时 0 毫秒
181.
简要介绍了近年来正电子谱学在聚合物微结构研究中的主要应用及进展.大量实验事实表明,正电子谱学是表征高聚物微结构的极灵敏方法. 相似文献
182.
183.
184.
采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜.其结构特征用Raman谱,红外透射谱,小角X射线散射等来表征.结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比χc随氢稀释度的提高而增加.而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度的增加而减少.小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度的增加而增加.结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H的键合状态.认为随着晶化的发生和晶化程度的提高H逐渐移向晶粒表面,在硅薄膜中H的存在形式从以SiH为主向SiH2
关键词: 相似文献
185.
186.
188.
采用机械合金法制备了纳米复合材料Fex(SiO2)1-x系列样品 .用X射线粉末衍射 (XRD)、透射电子显微镜 (TEM )、M ssbauer谱和Faraday磁天平系统地研究了该系列样品不同Fe合量和不同球磨时间的微结构和磁性 .实验表明样品的微结构和磁性与球磨时间和Fe含量密切相关 .当样品的Fe含量少于 2 0wt% ,并球磨了 80h后呈现出非常复杂的微观结构 :α -Fe纳米晶粒和Fe团簇镶嵌在SiO2 基质中 ,形成α -Fe纳米岛状和纳米尺度的类三明治结构 .Fe-SiO2 界面的相互作用和渗透效应、纳米晶的尺寸效应和类三明治的特殊微观结构导致了纳米复合材料Fex(SiO2)1-x的物理性能的变化 相似文献
189.
190.
本文通过控制粉末的烧结温度,得到三种由不同相含量组成的前驱粉末,并采用这些前驱粉末制备出超导带材.通过对带材的显微结构的观察和临界电流密度的测量表明,前驱粉末的相组成对(Bi,Pb)-2223/银超导带材的显微结构和临界电流密度有很大影响.采用不同的前驱粉末所制备的带材具有不同的临界电流密度,带材的临界电流密度取决于所形成的微观组织.通过SEM观察三种带材的微观组织发现,样品中的杂相(第二相)主要是残留的2212相,(Sr,Ca)2CuO3相和CuO相,这些残留相的生成与前驱粉末中各相比例的失衡有关.杂相的尺寸,含量及其形状是影响带材临界电流密度的主要因素.因此,获得合理的前驱粉末相组成是改善带材超导性能的关键之一. 相似文献