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151.
152.
为判别决策单元在随机DEA期望值模型下的随机有效性,首次提出了随机期望无效、随机期望弱有效、随机期望有效以及随机期望超有效的概念.并给出了三个命题用于判别不同显著性水平下随机期望效率与期望效率的关系.在此基础上,得到了两个重要的性质:(1)当期望效率保持不变时,随机期望效率为显著性水平的增函数;(2)当显著性水平保持不变时,随机期望效率为期望效率的增函数.最后,利用随机模拟和一个算例对上述结论进行了验证. 相似文献
153.
154.
高分子纳米复合是深入理解高分子链结构和宏观性能的关键,直接影响着复合材料向尺寸微小化、控制精细化、复合功能化和系统集成化方向发展的进程,涉及了高分子复合材料微加工中的诸多问题,其中多组分多尺度空间分布和形态精细控制的物理与化学是两个关键科学问题。自2000年起,我们围绕这两个关键问题展开系列研究,主要面向复杂性复合颗粒... 相似文献
155.
应用扫描电子显微镜、广角X射线衍射和差示扫描量热手段研究了有机高分子/无机组分间以物理次价力(氢键)键合的高分子量PCL/SiO2杂化材料纳米相微结构和PCL高分子链在该微结构环境中的结晶成核生长特性及其影响因素.研究结果表明:杂化体系中高分子/无机组分间的微相分离尺度在纳米数量级,高分子微区的平均相畴尺寸在70nm左右,无机相形态呈现不规则的颗粒状.两相均匀分布程度与体系中组分间的氢键键合强度有关.PCL杂化后结晶度减小,对应的微晶尺寸明显改变,平衡熔点随无机组成含量的增加而下降.高分子链在晶核表面折叠形成结晶结构所需的能量增加.这一结果归因于无机非晶SiO2和键合强度的影响. 相似文献
156.
扫描SQUID显微镜及其在物理研究和微电子工程中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
扫描SQUID显微镜,是90年代出现的一种新型微结构磁成像仪器,是迄今为止探测微米尺度结构中微弱磁场或微小电充的最灵敏的仪器。它可检测小于10^-10T的磁场,几个纳安(10^-9A)的电流或几百个玻尔磁子的永久磁矩。虽然诞生时间不长,但它无论在基础研究(例如,关于高温超导体波函数对称性的著名三晶超导环实验)还是在应用研究(例如,微电子器件中的捕获磁通问题)都已发挥了重要作用,显示了它在未来科学与 相似文献
157.
铅掺杂对锡电沉积物形貌的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
采用电化学沉积,配合扫描电镜(SEM)、电子探针微分析仪(EPMA)、金相等分析技术,研究了纯Sn及Pb0.1Sn0.9的二维沉积物的显微形貌和微结构,结果表明:由于晶粒生长的择优取向,纯锡的沉积物是规则的枝晶结构;铅掺杂削弱了锡晶粒生长的择优取向性,导致枝晶主干分叉,形成“之”字形枝晶结构,为结晶学因素对生长形貌的影响提供了一个实验证据。 相似文献
158.
159.
研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念 相似文献
160.
用电子束蒸发方法制备了HfO2薄膜,根据镀膜前后基片曲率半径的变化,用Stoney公式计算了薄膜应力,讨论了沉积温度对薄膜残余应力的影响。结果发现,HfO2薄膜的残余应力均为张应力,应力值随沉积温度的升高先增大后减小,在280 ℃左右出现极大值。对样品进行了XRD测试,从微观结构上对实验结果进行了分析,发现微结构演变引起的内应力变化是引起薄膜残余应力改变的主要因素,HfO2薄膜在所选沉积温度60~350 ℃内出现了晶态转变,堆积密度随温度升高而增大。 相似文献