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191.
反向响应过程广泛存在于化工领域中,但针对反向响应过程的性能评估研究较少。针对一类二阶时滞反向响应过程,通过幂级数展开的方法简化了对象模型,然后研究其抗负载干扰PID控制回路性能评估问题。根据DS-d控制原理获取期望闭环传递函数以及PID控制器参数,推导干扰模型为阶跃情况下的PID控制回路累积绝对误差(IAE)性能基准值,并将其推广到斜坡输入以及一般输入情形,为不同干扰类型情况下的反向响应过程建立通用化的IAE性能评价标准。仿真结果验证了所提性能评估算法的正确性以及通用性。 相似文献
192.
基于低频部分元等效电路(PEEC)模型计算接地回路电流和电势分布,研究分析了共地传导干扰机理。基于混合位积分方程建立了低频PEEC模型,并与边界元方法的结果对比验证其准确性。基于PEEC模型实现对导体中三维电流分布的计算,获得了典型大导体接地回路的电流分布,分析了频率对电流分布的影响特性。结果表明,地导体中电流分布主要集中在接地极附近,两接地极间会由于电感感抗的影响而呈现出电势差,揭示了接地回路中的共地传导干扰机理,建立的PEEC模型能够有效应用于共地干扰分析与抑制。 相似文献
193.
194.
195.
采用线性化缀加平面波能带方法,研究了典型二元化合物NiAl,SiC,GaAs,MgS和NaCl的晶体总能和内聚能,着重考查了二元素Muffin-tin半径的选取对各晶体总能和内聚能的影响。计算结果表明,对NiAl合金,Muffin-tin半径的变动几乎不改变其晶体总能;组元原子的共价键半径可以作为共价键晶体如SiC和GaAs的Muffin-tin半径;但是,元素的离子半径不适合于作为具有较强离子键合的离子性晶体如MgS和NaCl的Muffin-tin半径,因为这时阳离子有较多的芯电子溢出Muffin-tin球。通过选取适当的Muffin-tin半径,对如上化合物计算得到的内聚能与实验结果符合。 相似文献
196.
本文研究了DCS——偶氮胂与稀土的显色反应,在测定水中稀土时,用PMBP萃淋树脂分离干扰元素。用计算机处理实验数据,相关系数r=0.9992,分析结果令人满意。 相似文献
197.
198.
余弦分布载荷的化爆加载技术是高空核爆软X射线辐照下空间结构动态响应考核的主要手段。为适应新型空间飞行器结构考核的复杂构型、高同步性和低比冲量载荷设计要求,提出了一种用十字形超细药条离散群同步起爆实现超低比冲量加载的方法。实验结果验证表明:(1)所制作的十字形超细药条,最小截面尺寸为0.33 mm×0.5 mm,传爆性能稳定,并可通过直径0.5 mm的柔爆索直接起爆;(2)与相同布药密度的条状布药方式相比,布药空间均匀度提高了76.7%;(3)所采用的21点柔爆索同步起爆网络,起爆率达100%,起爆不同步性小于1μs。进一步建立了离散片炸药加载数值计算模型,分析了离散片炸药群同步起爆加载的比冲量空间分布和匀化规律,将匀化过程分为扩散段、叠加段和均匀段3个阶段;对比了方形、十字形、短条形3种形状药片阵列的比冲量演化过程,发现十字形药片所需匀化距离最短、均匀度最高,仅需约0.8倍布药间距即可使比冲量均匀度偏差降至10%以下。 相似文献
199.
马丽 《中国无机分析化学》2017,7(3):51-54
根据目前市场上常见锡铅焊料中主元素的特性(锡含量范围0.X%~95%,铅含量范围X%~99%),合理选择了有效的样品前处理方法。参考铸造锡铅焊料牌号及化学成分和仪器工作条件,确定了待测元素的测定范围。应用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定锡铅焊料中锑、铋、铁、砷、铜、银、锌、铝、镉、磷、金11种元素的含量,方法操作简单。选择了合适的分析谱线,进行了基体元素对待测元素以及各待测元素之间的干扰研究,基体效应小,各待测元素之间基本无干扰,11次独立的测定数据相对标准偏差为1.0%~11.3%,方法的加标回收率为90.2%~105%。完全能满足现实生产中对锡铅焊料杂质元素的测定要求。 相似文献
200.
利用扫描电化学显微镜研究过氧化氢检测中电化学消除抗坏血酸 总被引:1,自引:0,他引:1
利用扫描电化学显微镜 (SECM)将微探针定位于宏观金盘基底电极的扩散层内 .通过向基底电极施加适当电位以氧化消除电活性干扰物质 (如抗坏血酸 ) ,提高探针电极检测过氧化氢的选择性 .基于此方法 ,系统研究了探针 -金基底电极间距和电极电位对铂微探针检测过氧化氢选择性的影响 .结果表明 ,当探针 -基底电极间距为 2 2 .6μm ,金基底电极和铂探针电极电位分别为 0 4V和 0 5V时 ,探针电极检测过氧化氢不受抗坏血酸 ( 0 0 5mmol·L-1)的干扰 .此时 ,过氧化氢检测的线性范围为 :4× 10 -5~ 1× 10 -3 mol·L-1.基于实验结果 ,提出了在微型化电化学器件制备过程中设计互相靠近的双工作电极 ,利用电化学法消除电活性干扰物以提高检测选择性的新方法 . 相似文献