氮掺杂Ge2Sb2Te5相变存储器的多态存储功能

通过反应溅射的方法，制备了N掺杂的Ge₂Sb₂Te₅(N-GST)薄膜，用作相变存储器的存储介质.研究表明，掺杂的N以GeN的形式存在，不仅束缚了Ge₂Sb₂Te₅ (GST)晶粒的长大也提高了GST的晶化温度和相变温度.利用N-GST薄膜的非晶态、晶态面心立方相和晶态六方相的电阻率差异，能够在同一存储单元中存储三个状态，实现相变存储器的多态存储功能. 关键词： 相变存储器 多态存储 N掺杂 2Sb₂Te₅')" href="#">Ge₂Sb₂Te₅     

Bipolar resistance switching in the fully transparent BaSnO_3-based memory device

The fully transparent indium-tin-oxide/BaSnO3/F-doped SnO2 devices that show a stable bipolar resistance switching effect are successfully fabricated. In addition to the transmittance being above 87% for visible light, an initial forming process is unnecessary for the production of transparent memory. Fittings to the current-voltage curves reveal the interfacial conduction in the devices. The first-principles calculation indicates that the oxygen vacancies in cubic BaSnO3 will form the defective energy level below the bottom of conduction band. The field-induced resistance change can be explained based on the change of the interracial Schottky barrier, due to the migration of oxygen vacancies in the vicinity of the interface. This work presents a candidate material BaSnO3 for the application of resistive random access memory to transparent electronics.     

退火工艺对LaTiON和HfLaON存储层金属-氧化物-氮化物-氧化物-硅存储器特性的影响

采用反应溅射法, 分别制备以LaTiON, HfLaON为存储层的 金属-氧化物-氮化物-氧化物-硅 电容存储器, 研究了淀积后退火气氛(N₂, NH₃)对其存储性能的影响. 分析测试表明, 退火前LaTiON样品比HfLaON 样品具有更好的电荷保持特性, 但后者具有更大的存储窗口 (编程/擦除电压为+/-12 V时4.8 V); 对于退火样品, 由于NH₃的氮化作用, NH₃退火样品比N₂退火样品表现出更快的编程/擦除速度、更好的电荷保持特性和疲劳特性. 当编程/擦除电压为+/-12 V时, NH₃退火HfLaON样品的存储窗口为3.8 V, 且比NH₃退火LaTiON样品具有更好的电荷保持特性和疲劳特性.     

新疆理化所开发出铁酸铋材料制备新方法

铁酸铋BiFeO3是一种典型的多铁性材料,具有远高于室温的反铁磁奈尔温度(TN=380℃)和铁电居里温度(Tc=830℃),是少数在室温条件下同时具有铁电性与寄生弱铁磁性的单相多铁材料之一。BiFeO3的这一特殊性质使其在新兴记忆材料方面具有重要的应用前景。近年来,人们采用不同方法制备出性能优良的铁酸铋材料,铁酸铋薄膜的自发极化强度已与铁电材料PZT不相上下,因此成为无铅铁电存储器的重要候选材料之一。     

自旋电子学材料、物理和器件设计原理的研究进展

文章介绍了作者所在实验室在巨磁电阻(GMR)、隧穿磁电阻(TMR)、庞磁电阻(CMR)和反铁磁钉扎薄膜材料以及单晶金属氧化物、高自旋极化率材料、P-N异质结和纳米环磁随机存储器原理型演示器件设计等研究方面取得的一些重要研究成果和进展.例如:在Al-O势垒磁性隧道结材料体系里,获得室温磁电阻超过80%的国际最好结果;获得两种高性能层状反铁磁钉扎材料体系;发现具有大的电致电阻效应的CMR薄膜材料,并可期望用于电流直接进行磁信息写和读操作的磁存储介质;发现双势垒磁性隧道结中的量子阱态共振隧穿和磁电阻振荡效应,以及纳米器件体系中自旋翻转长度的观测新方法,可用于新型自旋电子学材料及相关器件的人工辅助设计;利用电子自旋共振谱探测和研究了金属氧化物的微观自旋结构和各向异性;在[CoFe/Pt]n磁性金属多层膜中,观测到超高灵敏度的反常霍尔效应;利用纳米环状磁性隧道结作为存储单元,研制出一种新型纳米环磁随机存储器MRAM原理型演示器件.     

Properties of Seamless W Sub-Micro Electrode Used for Phase Change Memory

In order to improve the reliability of C-RAM devices, a seamless sub-micro W heating electrode in diameter 260 nm is fabricated with standard 0.18 μm CMOS processing line. Then we successfully manufacture a chalcogenide random access memory device using this seamless sub-micro W heating electrode. The results show good electrical performance, e.g. the reset current of 1.3mA and the set/reset cycle up to 10^9 have been achieved.     

量子点浮置栅量子线沟道三栅结构单电子场效应管存储特性的数值模拟

通过建立二维薛定谔方程和泊松方程数值模型,对基于硅量子点浮置栅和硅量子线沟道三栅结构单电子场效应管(FET)存储特性进行了研究.通过在不同尺寸、栅压和不同写入电荷条件下,对硅量子线沟道中电子浓度的二维有限元自洽数值求解,研究了在纳米尺度下硅量子线沟道中量子限制效应和电荷分布对于器件特性的影响.模拟结果发现,沟道的导通阈值电压随着尺寸的缩小而提高,并随浮置栅内存储的电子数目的增加而明显升高.然而,这样的增加趋势在受到纳米尺度沟道中高电荷密度的影响下将出现非线性饱和趋势.进一步研究发现,当沟道尺寸较小时,沟道 关键词： 三栅单电子FET存储器 量子效应 薛定谔方程 泊松方程     

GLOBAL DYNAMICS OF DELAYED BIDIRECTIONAL ASSOCIATIVE MEMORY （BAM） NEURAL NETWORKS

IntroductionConsiderthebidirectionalassociativememory (BAM )neuralnetworkswithconstanttransmissiondelaysdescribedbyasystemofdelaydifferentialequationsoftheform[1,2 ]:dxi(t)dt =-aixi(t) nj=1bijfj(yj(t-σij) ) Ii,　　i=1 ,2 ,… ,m ,dyj(t)dt =-cjyj(t) mi=1djigi(xi(t-τji) ) Jj,　　j=1 ,2 ,… ,n ,fort >0 .Thesystem ( 1 )consistsoftwosetsofneurons (orunits)arrangedontwolayers,namely ,I_layerandJ_layer.Inthesystem ( 1 ) ,xi( ·)andyj( ·)denotemembranepotentialoftheithneuronsfromtheI_laye…     

脉冲激光沉积制备非晶La0.75Sr0.25MnO3薄膜用于半透明阻变存储器

用脉冲激光沉积方法制备非晶La_0.75Sr_0.25MnO₃（a-LSMO）薄膜作为阻变器件（Ag/a-LSMO/ITO）的中间层,所得器件具有良好的非易失性和双极阻变行为。ITO衬底及超薄a-LSMO薄膜具有很高的可见光透过率,从而可制备半透明阻变器件。通过高分辨透射电镜直接观测到了在银电极与ITO电极间的银导电细丝。器件的阻变特性归因于在非晶镧锶锰氧层中的银导电细丝的生长与断裂。     

铝/铁掺杂的非晶碳/铝结构的电致电阻效应研究

采用脉冲激光沉积方法在石英玻璃衬底上沉积铁掺杂的非晶碳膜(a-C:Fe),然后使用真空热蒸发设备在膜上镀铝(Al)电极层,形成Al/a-C:Fe/Al结构的器件.该器件在±5 V测试电压范围内显示出可逆电致电阻效应,具有较好的开关电压、开关比等参数,可用作电阻型随机存储器.