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31.
对SiO2和ZnS这两种常用的红外光学材料在红外短脉冲激光辐照下的热损伤特性进行了研究,分析了相同激光辐照条件下两种材料的热效应,另外也针对同种材料不同辐照条件下的热效应进行比较。分析结果表明:红外激光作用下,SiO2材料的表面温升快于ZnS材料,而在材料内部,则后者快于前者。脉冲辐照结束时SiO2材料的表面峰值温度高于ZnS材料,但ZnS材料产生温升的深度大于SiO2材料。由于能量更为集中,材料在皮秒激光作用下温升高于纳秒激光作用下的温升。若材料的峰值温度达到熔点,则激光的单脉冲能量随脉冲宽度的减小呈非线性减小趋势,且变化率越来越大。 相似文献
32.
通过编程计算半胱氨酸和锌离子在不同pH条件下的各种存在形式,通过分析拟合分布图,研究了硫化锌法原子吸收间接测定半胱氨酸时的pH对原子吸收的影响及络合反应的机理。经对不同形态的半胱氨酸与金属锌离子的共存区域的各种离子的组合探讨,发现在最佳测定条件下的半胱氨酸是以负一价荷电形态的半胱氨酸基Cys-与Zn(OH)2形成了可溶性络合离子2Zn(OH)2。结果表明,理论分析计算的结果与实验数据得到了很好的吻合。 相似文献
33.
The polycrystalline sample of layered compound FePS_3 has been investigated by using M?ssbauer spectroscopy (12K to 300K), magnetic susceptibility measurements, x-ray diffraction and FTIR spectroscopy. The antiferromagnetic order exists below T_N=120.5±1K. The M?ssbauer spectra below T_N indicate that the magnetization axis is perpendicular to the layer of FePS_3, and the divalent iron cations are in their high spin configurations. By fitting the hyperfine field parameters near the Néel temperature, we obtain information on the nature of magnetic interactions in the material. The results show that the magnetic coupling can be treated by the two-dimensional Ising model, and it can be interpreted on the basis of a crystal-field effect. 相似文献
34.
晶体X射线衍射的发现及其深远影响 总被引:6,自引:0,他引:6
2002年和2003年分别是劳厄(MaxVonLaue)发现晶体X射线衍射和布喇格(W.L.Bragg)建立布喇格方程90周年。劳厄和布喇格的发现是20世纪物理学意义深远的大事。一、X射线的发现1895年11月8日德国维尔茨堡大学校长伦琴在做阴极射线实验时,发现了一种看不见的射线从管中阴极射线轰击的那个电极发射出来,经过一个多月全神贯注的实验探索,终于确认这是一种新的射线---X射线。 相似文献
35.
本文对具高吸收的ZnSe多晶材料的增加吸收型光学双稳性进行了实验观测,发现在介质的吸收远高于过去提出的理论判据时,仍能获得双稳输出,并测定了阈值开关功率与光斑尺寸及样品厚度的关系.采用分层模型分析实验结果,定性地解释了实验现象. 相似文献
36.
37.
用时间分辨光谱研究了很大的Te组分范围内的ZnS1-xTex(x=00 05—085)合金的发光动力学特性,结果表明:不同形态的Te等电子中心具有不同的辐射复 合寿命,从几个ns到几十个ns的范围内变化,当x=015左右时,寿命达到最大值(约 40ns).其物理机理源于不同的Te等电子中心具有不同的局域化特性.当Te组分较小时,等 电子中心从Te1逐渐演变到Te2,Te3或Te4 时,相应发光寿命增加,表现出不断增强 的激子发光局域化特性;而当Te组分较大时,Te原子团变得较大,其局域势与基体原子势的 相互作用增强,等电子中心的局域化特性减弱,而基体价带扩展态特征变得明显起来,相应 发光寿命逐渐减小.还研究了激子束缚能随Te组分的变化以及发光强度随温度的变化关系, 所得结果进一步支持了时间分辨光谱研究所得到的结论.
关键词:
ZnS
等电子中心
时间分辨光谱
局域态 相似文献
38.
39.
用共蒸发法在室温下制备了ZnTe及ZnTe∶Cu多晶薄膜,测量了电导率温度曲线,发现不掺杂的ZnTe薄膜的暗电导随温度的增加而线形增加,呈常规的半导体材料特征;掺Cu的ZnTe薄膜在温度较低时,lnσ随温度升高而缓慢增加,随后缓慢降低,达到一极小值,当温度继续升高时又陡然增加,呈现异常现象。用XPS研究了N2气氛下退火前后表面状态,发现不掺Cu的ZnTe薄膜呈现富Te现象。掺Cu后Te氧化明显,以ZnTe形式存在的Te明显减少;ZnTe∶Cu薄膜中Zn的含量在退火前后变化明显,退火前,Zn主要以ZnTe形式存在,退火后Zn原子向表面扩散,使表面成分更加均匀,谱峰变宽;退火时,部分Cu原子进入晶格形成CuxTe相,引起载流子浓度变化,导致ZnTe∶Cu多晶薄膜的电导温度关系异常。 相似文献
40.