利用爆聚等离子体研究X光激光

对脉冲功率技术驱动的爆聚等离子体过程进行了物理分析,在5％的偏差范围内,得到了和数值计算结果相一致的近似解析公式。计算结果表明,功率在3—4TW,输出电能300—400KJ,技术指标类似PITHON的加速器可以使质量为200—400μg的Kr气爆聚压缩成高温等离子体柱。     

碱土金属氟卤化物中的Eu3+的荧光光谱特征

本文系统研究了MFX体系中Eu³⁺荧光光谱特征,着重讨论了X^-,M²⁺及杂质缺陷(主要为O^2-)对Eu³⁺发光的影响.     

黑腔靶X光转换,输运的定量测量

为了测量黑腔靶X光引光效率、转换效率,我们设计了相应的分解靶(泄漏靶)实验,1989～1992年在″神光″装置上共进行了四次漏靶分解实验,利用灵敏度作了绝对标定的平响应X光二极管对漏靶注入孔、引光孔流出的X光角分布进行了测量,测出了x光角分布,得到了黑腔靶X光转换效率为50％～60％,引光效率约6％,为以后辐射驱动内爆研究的理论计算和靶的优化设计提供了重要的数据。     

银胶体系中吖啶橙、吡啶共吸附竞争的研究

本文利用光学多道分析仪,着重研究了吖啶橙—银胶—吡啶体系;观察了吖啶橙荧光的两次瞬间增强的时间效应荧光谱;分析了吖啶橙与吡啶在银表面上共吸附竞争以及氯化钾在这一竞争中所起的作用。对于表面与分子间相互作用的这一规律作了初步探讨。     

掠入射,全反射及其在X射线荧光分析中的应用

掠入射、全反射技术应用于化学的微量及超微量元素分析和表面分析，给Ｘ射线荧光分析技术带来了突存性的发展。目前，利用全反射Ｘ荧光分析技术对微量元素进行分析，其检测限已达到ｐｇ级，硅片表层杂质分析的检测限达到１０＾９个原子／ｃｍ＾２。文章介绍了该技术的基本理论和特点、近年来国内外发展情况及应用的例子。     

X射线三晶衍射研究YBa2Cu3Oy超导薄膜

应用X射线三晶衍射对LaAlO₃衬底上生长的YBa₂Cu₃O_y薄膜中的应力水平、存在的主要缺陷,以及薄膜与衬底的失配和取向关系等进行了研究。结果表明,薄膜在衬底上几乎完全松弛,应力很小,薄膜存在较严重的晶格取向差缺陷,这是影响薄膜晶体结构完整性的主要因素。此外,衬底与薄膜在垂直于表面和平行于表面方向都存在取向差。 关键词：     

对Kodak—SWR底片在软X光波段的绝对标定

运用透射光栅光谱仪，对线聚焦高功率激光辐照到锗靶上产生的软Ｘ光激光进行光谱记录，利用衍射谱的对称性和已经绝对标定过的Ｋｏｄａｋ－１０１底片来完成对Ｋｏｄａｋ－ＳＷＲ底片的绝对标定。