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51.
分子聚集体在非线性光学和集成光学等领域有潜在的应用前景。纳米结构一维染料分子J—聚集体有许多既不同于单个分子又不同于体材料的奇异性质,即超辐射和巨光学非线性。这种超辐射是由于在几个本征态内振于强度结合在一起,得到一巨跃迁偶极于,因而是超辐射的。跃迁速率与耦合分子个数N成正比。分子聚集体的J—吸收和超辐射发射是共振的。利用Z—扫描技术测量PIC在不同配比下的非线性折射率、非线性吸收系数和非线性极化率。观测到随着链长变短,样品的三阶非线性极化率增大。对这种非线性增强的机制进行了分析和讨论。 相似文献
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Optical Fibre Mode Structures Measured by Collection Mode Near-Field Scanning Optical Microscopy 下载免费PDF全文
High order fibre mode structures are measured by a near-field scanning optical microscope (NSOM) and are determined to be consistent with the standard fibre LP patterns. The mode-field distortions of high-order mode LP11 and LP21 structures by far-field measurement are analysed based on scalar diffraction theory, and the maximum distortions may reach as high as 5.1% and 6.2%。 This shows that the method of using the NSOM is more accuracy than the far-field measurement method, especially for high-order mode structures of optical fibres. 相似文献
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激光水下扫描成像系统的图像修正机理 总被引:2,自引:0,他引:2
同步扫描系统可以克服后向散射,但同时也产生了两种非线性,一是扫描线速度的非线性,一是由于距离对光能衰减造成的非线性,两种非线性都需要修正,本文从原理上讨论水下激光成像时能量衰减的修正原理与修正方法,并给出仿真结果。 相似文献
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CaoYun ZhaoHongwei MaLei ZhangZimin 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报》2003,(1):154-154
High quality ion beams are required by IMP cyclotron and atomic physics research, so it is important to research and measure beam emitt ance of ECR ion source. Intense beams extracted from ECR ion source usually have low energy, so it is suitable to use Electric-Sweep Scanner to measure the emittance. This kind of measurement is popularly used at ECR ion source, and it has some prominent merits such as high accuracy, very short time of data processing and easy expressing of the emittance pattern. So we designed and built this emittance scanner to measure emittance of the ion beams produced by LECR3 ion source. The structure of the ESS is shown in Fig.l, and the photo of the ESS is shown in Fig.2. 相似文献
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为了配合HL-2A装置的工程联调和首次等离子体放电,需要一种可靠和直观的诊断手段,以确认产生了所谓的“First plasma”(初始等离子体)放电。为此我们研制了一套新的诊断系统,即等离子体可见光成像。等离子体成像是近年来发展起来的一项先进诊断手段。目前在托卡马克装置上广泛采用。 相似文献