全息照相的研究与应用

全面理解全息照相“干涉记录,衍射再现”的原理,并对其量化,作出定量解释。     

光栅与全息照相

基于普物光学的双光束干涉和光栅衍射，定性分析全息照相。     

教学型数字全息综合实验系统设计与实现

全息是一项充满应用前景的3D成像及测量技术,为了更好的辅助全息技术的实验教学,设计了一套教学型数字全息综合实验系统.该系统由计算模拟、光学拍摄、以及数字重构与测量三部分构成.本系统采用优化的全息光路,并配套界面友好的算法程序,降低了数字全息实验的门槛,使得该实验也适合非相关专业的学生.     

在全息照相实验中增设光栅辅助白光再现全息图的尝试

针对目前大多数理工科院校开设的全息照相实验中一般只用单色光再现的现状,在保留单色光再现的基础上,增加了光栅辅助白光再现实验内容,丰富了实验内容和提升了实验层次,加深了学生对全息术理论和光栅衍射的理解.     

Measurement of Specimen Thickness by Using Electron Holography and Electron Dynamic Calculation with a Transmission Electron Microscope

A method of transmission-electron microscopy for accurate measurement of specimen thickness has been proposed based on off-axis electron holography along with the dynamic electron diffraction simulation.The phase shift of the exit object wave with respect to the reference wave in vacuum,resulting from the scattering within the specimen,has been simulated versus the specimen thickness by the dynamic electron diffraction formula.Offaxis electron holography in a field emission gun transmission-electron microscope has been used to determine the phase shift of the exit wave.The specimen thickness can be obtained by match of the experimental and simulated phase shift.Based on the measured phase shift of the [110] oriented copper foil,the thickness can be determined at a good level of accuracy with an error less than-10%.     

用两束物光束拍摄漫反射全息照相

指出了一般的漫反射全息照相光路的缺点，提出了用2束物光束拍摄漫反射全息照相的改进方案。     

纪念全息照相术的先驱——Emmett Leith教授

2005年12月23日，Emmett Leith教授，这位伟大的科学巨匠，全息照相术的先驱因中风不幸在美国Michigan州的Ann Arbor去世，终年78岁．     

白光再现全息照相

简述了激光全息照相的原理,设计出全息照相的拍摄光路,探索出能成功拍出全息图的方法以及能实现白光再现的实验参数。总结出拍摄反射全息的条件,并能了解全息照相与普通照相的区别,以及全息照相的应用及开拓。     

浅析细激光束再现全息相

对所查资料中细激光束成像性质提出异议,并加以讨论。