多光束全息互连元件效率的理论分析

多光束全息互连元件往往需要大量的耦合波方程才能描述。本文通过分析记录时生成的互调制光栅的性质及其对衍射的影响,对问题进行适当的简化。通过解不同条件下的耦合波方程、分别给出了多光束全息图在各种不同情况下的衍射效率的近似解析表达式,展示了衍射效率与各实验参量之间的关系。为进一步研究多光束全息互连元件的性质、比较各种条件下的效率以及各参量对总体效率的影响,提供了方便。     

4种喹诺酮类药物滤纸基质室温光法研究

提出了以滤纸为基质的环丙沙星、氟罗沙星、洛美沙星和氧氟沙星4种喹诺酮类药物的滤纸基质室温光(PS-RTP)分析的新方法. 方法取样量少(1.5 μL).其线性动力学范围依次为0.11～55.2、0.35～211、2.10～526 、1.03～411(ng/斑点);灵敏度高,其检出限分别为0.082、0.070、0.080、0.123(ng/ 斑点);标准回收率在97.70%～102.2%之间.相对标准偏差RSD＜1.8%.     

X光CCD响应特性研究

 在北京同步辐射源上建立了X光CCD(Charge-Coupled Device)量子效率实验标定方法，获得了150eV至1500eV能区范围多个X光能点的量子效率实验结果，发展了X光CCD量子效率简化计算模型，并对X光CCD表面油沾污对量子效率的影响进行了实验研究和修正。结果表明经过油沾污修正后的简化理论模型计算结果与实验标定结果符合较好。     

VCSEL with reticular electrode and larger emitting aperture and its optoelectronic characteristics

The enlargement of the emitting aperture is usually one of the important methods of increasing vertical- cavity surface-emitting laser （VCSEL） optical output power. However, in a VCSEL with a larger aperture, the inhomogeneity in the injected current often causes inhomogeneous or even no emission. To solve this problem and to increase VCSEL output power, as well as to improve its thermal characteristics, we develop a new type of injected VCSEL with a larger aperture and a reticular electrode, where the conventional circular injection electrode of the P side is turned into a reticular one, and the heat sink is on the N side. The tests of the new VCSEL show an improvement in homogeneity in not only the injected current but also the emission intensity. The optical output power is also considerably increased, and the device optoelectronic performance is improved.     

软X光能谱仪探测元件晌应曲线标定

报道了软X光能诺仪探别元件的能量响应曲线标定工作．实验利用北京同步辐射装置-3W1B束经及反射率计靶室，在束流40—80mA、贮存环电子能量2.2GeV专用光运行模式下，在150—1500eV能区的四个能段，做了铝阴极X射线二权管、滤光片及擦入射平面反射镜能量响应标定实验，通过实验数据比对及分析，最终给出X射线二极管在不同能量段最大可能的测量误差范围。     

利用爆聚等离子体研究X光激光

对脉冲功率技术驱动的爆聚等离子体过程进行了物理分析,在5％的偏差范围内,得到了和数值计算结果相一致的近似解析公式。计算结果表明,功率在3—4TW,输出电能300—400KJ,技术指标类似PITHON的加速器可以使质量为200—400μg的Kr气爆聚压缩成高温等离子体柱。     

YAG激光晶体光性光电测量

本文在概述YAG激光晶体材料消光比和侧向散射系数测量的同时,提出了前向散射系数的测量、计算和处理方法。介绍了利用微机进行数据采集、统一处理,给出上述诸参数测量结果的自动化测量手段。