全文获取类型
收费全文 | 115篇 |
免费 | 34篇 |
国内免费 | 3篇 |
专业分类
化学 | 24篇 |
晶体学 | 1篇 |
力学 | 20篇 |
综合类 | 3篇 |
数学 | 38篇 |
物理学 | 66篇 |
出版年
2024年 | 1篇 |
2023年 | 2篇 |
2022年 | 2篇 |
2021年 | 9篇 |
2020年 | 9篇 |
2019年 | 1篇 |
2018年 | 4篇 |
2017年 | 8篇 |
2016年 | 5篇 |
2015年 | 3篇 |
2014年 | 8篇 |
2013年 | 12篇 |
2012年 | 7篇 |
2011年 | 10篇 |
2010年 | 7篇 |
2009年 | 4篇 |
2008年 | 8篇 |
2007年 | 3篇 |
2006年 | 9篇 |
2005年 | 4篇 |
2004年 | 5篇 |
2003年 | 8篇 |
2002年 | 3篇 |
2001年 | 3篇 |
2000年 | 6篇 |
1999年 | 3篇 |
1998年 | 3篇 |
1997年 | 1篇 |
1995年 | 2篇 |
1988年 | 2篇 |
排序方式: 共有152条查询结果,搜索用时 0 毫秒
151.
梯形介质膜光栅衍射特性分析 总被引:2,自引:1,他引:2
基于严格耦合波理论建立了梯形介质膜光栅的衍射机理模型,利用该模型讨论了底角为70°的梯形介质膜光栅-1级的衍射行为.通过对梯形介质膜光栅的占空比、槽深和剩余厚度的优化,设计了应用于1053 nm和51.2°角度入射的梯形介质膜光栅.对于顶层为HfO2的介质膜光栅,当槽深为200 nm,剩余厚度为100 nm,占空比为0.35时.其衍射效率优于99.5%,而对于顶层为SiO2的梯形光栅,为获得99.5%的衍射效率.其槽深为800 nm,剩余厚度为320 nm.而且,获得同样的衍射效率,顶层为HfO2的梯形光栅具有更宽的光谱特性.数值计算表明,严格耦合波理论模型对梯形介质膜光栅衍射效率的计算具有很好的收敛性和稳定性. 相似文献
152.