叠栅条纹信号细分误差的一种动态补偿方法

缺乏有效的误差补偿方法足制约长光栅测最精度提高的关键原因之一.提出一种动态的误差补偿方法.可以消除由直流漂移、两路信号不等幅和非止交导致的细分误差.其原理是跟踪光栅信号在一个周期上的8个特征值点(正余弦信号的过零点及绝对值交点),从特征值点的幅度值中首先分解出正弦信号的直流漂移误差.对其进行补偿;然后继续跟踪补偿后的信号.从中义能分解出余弦信号的直流漂移误差.再补偿.再跟踪.又能依次分解出不等幅误差和非正交误差.最多只需要3个光栅信号周期,就能对三种误差依次实现补偿.分析了谐波对该方法的影响并提出r改进措施.实验证实了该方法的有效性.     

微扫描对光电成像系统图像噪声的影响

介绍了光电成像系统的噪声,运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大,使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配,引起图像质量的改善。用计算机进行了模拟实验。     

Description of K-spaces by means of J-spaces and the reverse problem in the limiting real interpolation

We establish conditions under which K-spaces in the limiting real interpolation involving slowly varying functions can be described by means of J-spaces and we also solve the reverse problem. To this end, we prove several versions of the fundamental lemma of the real interpolation theory. We apply our results to obtain density theorems for the corresponding limiting interpolation spaces.     

一个核为双曲正割函数的Hilbert型积分不等式

引入Γ-函数等特殊函数,利用权函数方法和实分析技巧,建立一个核为双曲正割函数的Hilbert型积分不等式及其等价式,证明了它们的常数因子是最佳值,并通过取特殊的参数值,得到一些有意义的结果.     

基于模糊隶属度的图像空间距离修正插值算法

为解决传统图像插值算法存在的边缘模糊和边缘锯齿,提出了一种基于像素点模糊隶属度的图像自适应插值方法.该方法首先根据图像的梯度与相角特性,确定像素点的模糊隶属度,再根据图像的局部不对称性在一维方向上修正插值点空间距离,并将一维修正结果转化到二维图像空间,最终将修正后的空间距离应用到传统双线性插值和双立方插值中.实验结果表明,该算法改善了图像的信噪比,有效抑制了边缘锯齿和边缘模糊的发生.     

基于快速小波分形插值的声纳图像缩放算法

本文讨论主动图像声纳的图像结果显示问题,主要介绍一种基于快速小波分形插值的实时声纳图像缩放算法。并通过对合成孔径声纳图像数据进行算法比较,发现此算法比通用的图像插值算法,如双线性插值和双三次样条插值等,具有更好的性能。由于可以分块并行实现,因此本算法易于应用于实时图像声纳工程中。     

一种基于边缘特征的亚像素投影配准算法

为了提高红外图像配准准确度,充分利用图像的边缘信息,结合线性插值,对原有的投影算法引入新的图像相似性评价函数——均方误差函数(Mean Sequare Erron,MSE),提出了基于边缘特征的亚像素投影配准算法.提取图像边缘特征明显的部分做配准能提高匹配概率,引入积分投影能有效降低算法的计算复杂度.算法中还运用了线性插值,使配准准确度达到亚像素级水平.     

两种插值亚像素定位法在数字散斑测量中的应用

利用数字散斑相关测量法只能得到试件的整像素位移量,不能满足高精度的测量要求。探讨了两种插值法在数字散斑亚像素级测量中的应用,并对相关系数多项式插值法和对数插值法的测量结果进行了比较,为在不同亚像素级位移条件下选择较为恰当的测量方法提供了依据。     

采用RBF神经网络求解反向条纹的研究

提出了一种利用RBF神经网络来确定摄像机和投影器坐标映射关系的方法。首先在投影器坐标系中将数据分为若干个16×16的子区域,然后以（l,m,lm,l2,m2）为输入层的5个神经元（其中l、m为投影器像素坐标）,以摄像机像素坐标i为输出层的神经元,建立RBF神经网络。利用RBF神经网络求解在投影器坐标系中摄像机像素坐标的分布模型,最后得到投影器像素点对应的摄像机像素坐标值。计算机模拟和实验结果表明,与已有的算法相比,该方法能更有效地提高反向条纹投影的求解精度。为反向条纹的求解提供了新方法。     

CHARACTERIZATION OF BEST APPROXIMATIONS IN METRIC LINEAR SPACES

Let (X,d) be a real metric linear space, with translation-invariant metric d and G a linear subspace of X. In this paper we use functionals in the Lipschitz dual of X to characterize those elements of G which are best approximations to elements of X. We also give simultaneous characterization of elements of best approximation and also consider elements of ε-approximation.