Option Pricing for Time-Change Exponential Lévy Model Under Memm

The purpose of this article is to study the rational evaluation of European options price whenthe underlying price process is described by a time-change Lévy process.European option pricing formula isobtained under the minimal entropy martingale measure(MEMM)and applied to several examples of particulartime-change Lévy processes.It can be seen that the framework in this paper encompasses the Black-Scholesmodel and almost all of the models proposed in the subordinated market.     

向列液晶表面弹性能K13项的物理效应及检验方法

通过解析推导和数值计算的方法，得到了平衡态指向矢满足的微分方程和边界条件.研究了表面弹性能K13项对磁场作用下的弱锚定向列液晶盒Fréedericksz转变性质的影响.结果表明，表面弹性能K13项的存在对液晶系统的自由能有很大的影响，从而改变转变的性质，诱导液晶盒在阈值点发生一级Fréedericksz转变.给出了发生一级转变的物理条件，它除了与液晶的结构和材料有关外，还依赖于液晶表面弹性能K13项，同时给出了由此判断K13项是否存在的检验方法. 关键词： 表面弹性能K13项 弱锚定 Fréedericksz转变     

约束Hamilton系统的Poincaré-Cartan不变量

从正则形式作用量出发,导出了约束Hamilton系统(奇异拉氏量)的Poincaré-Cartan不变量,证明了该不变量与约束Hamilton系统的正则方程之间的等价性,纠正了某些作者工作中的错误。     

关于限制李超代数的分解

代数$A$ 称为不可分解的,如果 $A$ 不能分解成理想的直和.文中将证明满足$C(L_{\bar{0}})=C(L)=\{0\}$的限制李超代数能够分解成不可分解限制理想的直和,这种分解在不计理想次序的前提下是唯一的.而且还证明了限制李超代数的一些结果.     

Lower Hearing Threshold by Noise

We demonstrate that noise can be a benefit factor that enables us to hear weaker signals. We measured the hearing thresholds of subjects for pure tone in different noise levels. The results show that pure tone thresholds with noise of some levels are lower than that without noise. The largest down-shift of the threshold by noise among the examined subjects is 5.7 dB, and the smallest is 1.7 dB.     

Slutsky定理在样本分位数的极限分布证明上的应用

为了更好地理解和应用样本分位数的极限分布,利用Slutsky定理,推导了样本分位数的极限分布.     

在白噪声分析中的广义维里拉普拉斯

一类广义维里拉普拉斯，把在白噪声分析构架中通常定义的维里拉普拉斯作为特殊情形而包含。     

一类广义Liénard系统解的有界性

研究了一类广义 Liénard系统dxdt=p(y) -F(x) ,　 dydt=-g(x) (E)解的有界性 .首先获得了系统 (E)存在无界解的两个新的充分条件 ,然后获得系统 (E)所有解正向有界的若干充分条件和充要条件 ,所获结果改进和扩展了文 [1 -2 ]中的相应结果 .     

用函数记录仪描绘LRC电路暂态过程

引言现有的普通物理实验教材中,对RC、RL和LRC电路暂态过程的描绘,多采取用方波发生器代替直流电源,用示波器观察或用照相法摄取暂态曲线,RC电路的暂态过程,也可以用电压表和秒表逐点测量来描绘曲线。这些方法或只能观察,定量分析不便,或虽能定量分析,但实验过程复杂,效果都不理想。本文介绍用函数记录仪直接描绘RC、RL和LRC电路的暂态过程曲线,实验方法简便,而且利用图象进行定量分析和计算都很方便。