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11.
设 G 是特征数 p>0的代数闭域 K 上的单连通半单线性代数群.本文讨论了 Weyl 模的连结同态以及某类复合同态是非零的条件,推广了[3],[7]的有关结果. 相似文献
12.
讨论了Fuzzy矩阵A的同解简化矩阵A^(2),指出陈贻源论文《解Fuzzy关系方程》中定量3的错误。研究Fuzzy矩阵方程的摄动问题,解决了汤服成(2000)提出的未解决问题。 相似文献
13.
为改进Fuzzy HX环的结果,使之包含Fuzzy商环,提出了弱Fuzzy HX环的概念,研究了它的性质与结构,并重新讨论了拟Fuzzy商环,证明了在正则条件下拟Fuzzy商环与弱Fuzzy HX环的统一性:同时也得到了一致弱Fuzzy HX环与普通Fuzzy商环的关系。 相似文献
14.
Fuzzy蕴涵代数与有界BCK代数的关系 总被引:8,自引:4,他引:4
本文讨论了Fuzzy蕴涵代数与有界BCK代数互为对偶的关系。 相似文献
15.
16.
散斑条纹的快速高精度处理技术 总被引:3,自引:1,他引:2
本文提出一种快速高精度散斑杨氏条纹(斑纹)场处理方法——同态阀值滤波法。用它实现了散斑场条纹的快速、逐点连续高精度处理。 相似文献
17.
18.
本文把代数结构与分析体系结合起来,运用同调的方法,较系统地确定了A上C^*-模的部分理论,这里A为复数域C上的交换C^*-代数。即不仅定义了与C^*-模有关的某些新概念,而且还得到了有关C^*-模的若干结果。 相似文献
19.
Fabrication and Characterization of Ni Thin Films Using Direct-Current Magnetron Sputtering 总被引:1,自引:0,他引:1 下载免费PDF全文
Ni films are deposited by using ultra high vacuum dc magnetron sputtering onto silicon substrates at room temperature, and the high-quality and high-density films are prepared. The parameters, such as thickness, density and surface roughness, are obtained by using small-angle x-ray diffraction (XRD) analyses with the Marquardt gradient-expansion algorithm. The deposition rate is calculated and the Ni single layer can be fabricated precisely. Based on the fitting results, we can find that the surface roughness of the Ni films is about 0.7nm, the densities of Ni films are around 97% and the deposition rate is 0.26nm/s. The roughness of the surface is also characterized by using an atomic force microscope (AFM). The changing trend of the surface roughness in the simulation of XRD is in good agreement with the AFM measurement. 相似文献
20.
近些年来,许多处理近似问题的方法陆续被提出,其中利用Rough集理论计算两个集合的并和交的Rough隶属函数方法是被用较多的一种方法,但毕竟该方法精度较差。为此,介绍了一种精度较高的计算两个集合的并和交的Rough隶属函数方法,它克服了前者利用Rough集理论计算Rough隶属函数的复杂性,而迎来了简单和高精度的特点。 相似文献