均匀磁场中旋转的轴对称导体上的电荷分布析

分析了均匀磁场中旋转的轴对称导体上的电荷分布，指出这里不存在普遍的面电荷密度公式。     

有限土层轴对称Biot固结的一个新的解析解

提出一个新的解析方法来研究有限土层的轴对称Biot固结.从轴对称Biot固结的控制方程出发,结合Laplace变换的微分性质,建立了Laplace和Hankel变换域内有限土层地基表面(z=0)和任意深度z处基本变量之间的关系.然后结合有限土层的边界条件,推导出Laplace和Hankel变换域内任意一点的解析解.通过进行Laplace逆变换和Hankel逆变换得到了物理域内的解.编制了计算程序,并对有限土层轴对称固结进行了数值分析.     

基于有限元轴对称分析的碳纳米管场增强因子建模与计算

通过采用二维建模而后旋转成为三维模型的轴对称分析,提出了一种基于有限元轴对称分析的碳纳米管建模方法,并计算了不同长径比的碳纳米管的场增强因子.通过对比轴对称模型与立体模型分析结果,证明轴对称模型在提高了网格划分精度的同时减小了计算量,提高了计算效率,并为类似的具有旋转对称特性的模型分析提供了一种切实可行的建模方法.相关计算表明,碳纳米管的场增强因子与其长径比的函数关系为β=h/ρ+2.00.     

圆薄板轴对称弯曲问题的基本方程讨论

首先通过级数展开和求极限运算的方法,确定了等厚度圆薄板轴对称大/小挠度问题的弯曲微分方程在圆心处的表达式.其次,根据轴对称问题的特点,推导出了实心圆薄板在圆心处应满足边界条件的数学表达式,使圆薄板轴对称大/小挠度问题的弯曲微分方程应满足的边界条件达到了应有的数量.本文工作进一步完善了圆薄板轴对称弯曲问题的微分方程形式和边界条件,从而使我们可以利用成熟的微分方程数值解法,对具有较复杂载荷的实心圆薄板轴对称弯曲微分方程进行数值求解.     

稠密颗粒射流倾斜撞击颗粒膜特征

采用高速摄像仪对稠密颗粒射流倾斜撞击形成的类液体颗粒膜特征进行实验研究,考察了颗粒粒径、射流速度以及射流含固率等因素对颗粒膜形态及动态特征的影响.结果表明:随着颗粒粒径增大,稠密颗粒倾斜撞击流由颗粒膜向散射模式转变;随着射流速度增加,气固不稳定增强,射流流量出现脉动,正面与侧面分别表现为颗粒膜的非轴对称振荡和表面波纹结构;颗粒膜非轴对称振荡的振荡频率和振荡幅度随射流速度的增大而增大;表面波纹速度和波长沿传播方向增大,波纹间存在叠加现象.颗粒膜出现非轴对称振荡主要是因为喷嘴出口由气固不稳定性引起的射流流量脉动,射流流量脉动频率与撞击面振荡频率基本相当.     

轴对称一维六方准晶圆柱的精化理论

将轴对称圆柱的精化分析推广到一维六方准晶中轴对称圆柱的研究当中。利用准调和函数的Bessel算子函数表示以及一维六方准晶中的通解,在不做任何预先假设的情况下,给出了一维六方准晶中轴对称圆柱的精化理论。首先,根据准调和函数的Bessel算子函数表示,利用三个一维待定函数,表示出声子场和相位子场的位移场和应力分量。再根据非齐次边界条件,推导出柱面受径向外载时的精化方程。通过舍弃高阶项,推导出了在径向方向受到柱面载荷的近似解。     

旋转带电圆盘的静磁场分布分析

求匀角速转动带电体的磁场是一类典型的静磁场边值问题．传统的解法是用磁矢势结合边界条件解泊松方程,其过程复杂,计算冗长．根据（连带）勒让德多项式的性质和加法公式,利用矢势叠加法导出了旋转带电圆盘的空间磁场分布,并对结果进行了讨论．     

Free axisymmetric vibration of FGM circular plates

Based on the three-dimensional theory, this work presents a direct displacement method to investigate the free axisymmetric vibration of transversely isotropic circular plates, whose material is functionally graded and properties obey the exponential law along the thickness direction of the plate. Under two boundary conditions, the solution satisfies all basic equations and the Corresponding boundary condition at every point. Thus, it is three-dimensional exact. Numerical examples are presented and compared with previous works. The present method can also be extended to the case of arbitrary distribution of the material properties along the thickness direction of the plate.