亚微米聚苯乙烯微粒粒度标准物质研制

介绍亚微米聚苯乙烯微粒粒度标准物质的研制过程.以苯乙烯为原料,采用无皂乳液聚合法和分散聚合一步合成法制备粒径分别为0.3、0.4、0.5、0.6、0.7、0.8、0.9、1μm的8种规格聚苯乙烯微粒粒度标准物质,用扫描电子显微镜测定颗粒的粒径,对标准物质的均匀性和稳定性进行检验,并对定值结果的不确定度进行评定.研制的聚...     

激光甲烷气体测定器的校准

建立激光甲烷气体测定器的校准方法。根据仪器原理和使用情况,选取仪器的示值误差、重复性、响应时间、信号传输误差、报警声级强度、绝缘电阻等项目进行校准,探讨了各个项目的校准方法,给出了具体技术指标。当甲烷气体的摩尔分数为0～1%时,示值的绝对误差（摩尔分数）为±0.06%,当甲烷气体的摩尔分数为1%～100%时,示值的相对误差为±6%;重复性不大于1%;响应时间不大于25 s;信号传输误差不大于1%;报警声级强度不小于80 dB(A计权);绝缘电阻不小于50 MΩ。该校准方法对激光甲烷气体测定器的量值溯源进行了探索,验证试验表明该校准方法切实可行,技术指标要求合理。     

荧光标准研究进展

对荧光标准的研究进展进行了综述。介绍了荧光技术原理、荧光的影响因素、荧光标准的分类,阐述了物理传递标准和化学标准(标准物质或参考物质)的优劣势和主要应用领域。目前常见的荧光标准包含波长光谱标准、(相对)发射光谱响应值标准、(相对)激发光谱响应值标准、荧光强度标准、荧光量子产率标准等类别。简述了现有商业化和研究中的各类荧光物理标准和化学标准,并介绍了各类标准的应用领域和特点。荧光测量系统的表征、荧光类设备的性能验证以及相关荧光量的准确测量,对于荧光技术的发展和应用有着重要的作用。     

聚合物材料中六价铬萃取方法研究

本研究作为起草国际电工委员会标准IEC 62321, Ed.1的第3次国际实验室间比对实验的一部分,考察了用碱溶液对聚合物样品中六价铬进行萃取时样品的基体材料、粒径和萃取时间对萃取效率的影响.研究选取了3种不同粒径 (<125 μm,125～250 μm和250～500 μm) 的ABS、PVC和EVA/PE样品.用50 mL 0.5 mol/L NaOH-0.28 mol/L Na2CO3混合碱性消解液在90～95 ℃下萃取样品中的六价铬,并在1～6 h内逐渐增加萃取时间.测试结果表明:聚合物中六价铬的萃取率明显地受到样品基体材料的影响,PVC材料有很好的萃取效果,ABS中的六价铬也能被有效萃取出;而EVA/PE材料中的六价铬则几乎不能被萃取.对PVC和ABS,3 h的萃取时间基本能达到最大萃取率,而样品粒径在减小至＜250 μm后,萃取率会明显提高.     

New construction of special Lagrangian submanifolds in T^＊R^n equipped with the standard metric

A class of twisted special Lagrangian submanifolds in T~*R~n and a kind of austere submanifold from conormal bundle of minimal surface of R~3 are constructed.     

粉末压片-X射线荧光光谱法在地球化学标准物质均匀性检验中的应用研究

均匀性是标准物质三大特性之一.X射线荧光光谱法(XRF),精密度高,可实现多元素同时分析,是地球化学标准物质均匀性检验重要方法之一.目前,应用XRF对标准物质进行均匀性检验还存在争议.由于均匀性检验要求称样量为最小取样量,一般地球化学标准物质的最小取样量为0.1 g,而采用粉末压片-XRF进行均匀性检验时称样量为4 g...     

标准正交基的等价条件

综述标准正交基的等价条件,从投影、长度等角度出发,可给出几个新的等价条件。     

声学标准

国家标准局最近批准发布了6项声学国家标准.这些标准由全国声学标准化技术委员会归口及审查通过.标准的编号、名称和发布、实施日期如下. GB 4963-85 自由场纯音标准等响线 1985-02-28发布,1985-10-01实施; GB 4964-85 内河航道及港口内船舶辐射噪声的测量 1985-02-28发布,1985-10-01实施; GB 5111-85 铁路机车车辆辐射噪声测量1985-04-20发布,1985-12-01实施;     

基于单法布里-珀罗标准具的双频率四边缘鉴频光电探测技术

提出了一种基于单固体法布里-珀罗(F-P)标准具和可调谐半导体激光器的高精度鉴频新技术双频率四边缘技术。导出了F-P标准具反射谱和透射谱函数表达式,分析了双频率四边缘技术的鉴频原理;根据鉴频原理,给出了鉴频系统结构及相应的探测信号分析处理方法;进一步分析了噪声引起的测量误差,导出了具体的误差公式;与传统的基于F-P标准具双边缘鉴频技术的探测性能做了对比分析。结果表明,该技术通过对F-P标准具的透射和反射信号同时探测,鉴频精度将提高2.82~3.03倍,而且由于采用的是单固体F-P标准具,光路简单且系统成本低。     

固体介质间隔层激光标准具性能的影响因素研究

针对固体介质间隔层的镀膜标准具, 以1 064 nm激光镀膜标准具为例, 首先研究了反射膜堆数对反射带宽、基底厚度以及对自由光谱区的影响:标准具的带宽随着膜层堆数增加而减小, 自由光谱区随着基板厚度的增加而减小;其次研究了基底误差对标准具中心波长定位和透过率的影响, 通过定量数值计算证明了基底误差可通过标准具的使用角度补偿;针对典型的H(LH)^m/Substrate/(HL)^mH和L(LH)^m/Substrate/(HL)^mL两个膜系结构, 研究了入射激光发散角对标准具中心波长偏移、通带半宽度、中心波长透过率和最大透过率的影响。随着激光发散角的增加, 中心波长向短波方向移动, 通带半宽度、中心波长透过率和最大透过率呈现下降的趋势, 并且第二个膜系结构的标准具性能优于第一个膜系结构的标准具。