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61.
在静电场中,零电势点位置的确定,对电势计算的方便与否起着致关重要的作用.下面就4种情况,简述零电势点位置的确定及相应电势的计算公式.1 点电荷电场中各点电势的计算 例1 设一带电量为Q的点电荷,放在相对电容率为εT的无限大均匀电介质中,求空间各点的电势.  相似文献   
62.
本研究的是混合效应-Ⅱ模型,首先,给出二阶模型存在D-最优回归设计点的必要条件。其次,组合D-最优回归设计和D-最优区组设计BIBD构造D-最优设计并给出寻找新的D-最优设计点的方法。以两种有代表性的组合误差分布为例,阐明新的D-最优设计点的获得过程,并给出了数值结果。  相似文献   
63.
Benson真有效意义下集值优化的广义最优性条件   总被引:12,自引:0,他引:12  
盛宝怀  刘三阳 《数学学报》2003,46(3):611-620
本文引入了关于集值映射的α-阶Clarke切导数、α-阶邻接切导数及α-阶 伴随切导数的概念,借此建立了约束向量集值优化Benson真有效解导数型的Kuhn- Tucker条件.  相似文献   
64.
度量空间的CS-π映象   总被引:4,自引:1,他引:3  
燕鹏飞 《数学研究》2003,36(3):301-304
讨论了具有紧可数点星网的空间与度量空间的CS-π映象之间的关系.  相似文献   
65.
通过对非线性规划问题的K-T点的光滑路径跟踪方法研究,得出一种针对于既有不等式约束条件又有等式约束条件的优化问题光滑路径跟踪方法,证明了光滑跟踪路径的存在性。  相似文献   
66.
射束有效宽度与成像系统MTF关系的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
邵军明  路宏年  候涛 《光学技术》2003,29(2):242-244
射线成像系统的射线有效宽度是评定系统成像分辨率的重要成像指标。以试验的方法,通过测试系统成像的MTF,通过对成像分辨率与射线有效宽度的关系进行研究,为射线数字成像(DR)及工业CT系统设计提供了参考。  相似文献   
67.
一种新的超分辨记录点的读出技术   总被引:4,自引:3,他引:1  
提出一种新的超分辨记录点的读出技术—超分辨反射膜技术,详细分析了其原理。用该技术,以Sb为超分辨反射膜,SiN为介电层,在激光波长为632.8nm和光学头的数值也径为0.40的读出光学系统中实现了直径为380nm的超分辨记录点的读出。同时研究了Sb薄膜厚度对读出信噪比的影响规律,发现最佳的Sb薄膜厚度为28~30nm,所得的信噪比为38~40dB。  相似文献   
68.
本文构造了Stancu—Sikkema算子,并利用点态光滑模研究了此算子的点态逼近正逆定理.  相似文献   
69.
李师正 《经济数学》2003,20(1):80-83
本文给出多目标规划有效解适应鞍点准则的一个新的判别法 ,它不使用凸性的几何术语及凸分析中的概念。最后给出单目标规划的一个相应的判别法  相似文献   
70.
张晓萍  田祥庆 《光学学报》2003,23(5):81-586
研究了三包层WⅠ和WⅡ型单模光纤的波导色散特性。结果发现在相同条件下,三包层WⅠ和WⅡ型单模光纤零色散点的调节范围比传统的双包层W型单模光纤明显增大。详细分析了几何参量P、Q和光学参量R1、R2对单模传输时的波导色散特性和低次模截止频率的影响。所得的研究结果为获得更为理想的色散补偿、色散平坦光纤及设计新型无源光器件提供了重要的依据。计算波导色散的方法可推广到多包层光纤。  相似文献   
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