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光栅投影轮廓测量的系统标定技术 总被引:25,自引:4,他引:25
针对在光栅投影轮廓测量术中系统标定可操作性不强、精度不高的问题进行了全面的分析 ,在此基础上提出一种新的系统结构 ,并推导了物相关系。由于去掉了传统结构的平行和垂直两个约束条件 ,测量系统中摄像机和投影装置可以采取任意相对位置 ,操作十分灵活。对新系统提出了方便实用的标定方法 ,在其中引入了摄像机定标技术。应用该测量系统和标定技术进行实例检测 ,测量结果证明 :与传统方法相比 ,可操作性和检测精度得到了提高 相似文献
112.
基准光栅重构傅里叶变换轮廓术 总被引:1,自引:1,他引:1
应用傅里叶轮廓变换术进行三维形貌测量中,为了获得待测物体的高度相位信息,通常需要采集两幅图像.因此当光学系统发牛变动时,必须重新采集基准光栅图像,不利于快速测量.提出一种从变形光栅图像中获取基准光栅图像信息的测量方法.首先在变形光栅图像中记录基准光栅信息,然后通过傅里叶分析提取基准光栅频率信息,通过图像分析获得基准光栅相位信息,最后重构出一幅完整的基准光栅图像,实现三维物体形貌测量.实验结果验证了该方法的可行的. 相似文献
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《光谱学与光谱分析》2004,24(8):945-945
来稿英文摘要不符合下列要求者 ,本刊要求作者重写 ,这可能要推迟论文发表的时间。1 请用符合语法的英文 ,要求言简意明、确切地论述文章的主要内容 ,与中文摘要一致 ,且不加评论和补充解释。2 应拥有与论文同等量的主要信息 ,包括 4个要素 ,即研究目的、方法、结果、结论。其中后两个要素最重要。有时一个句子即可包含前两个要素 ,例如“用某种改进的ICP AES测量了鱼池水样的痕量铅”。但有些情况下 ,英文摘要可包括研究工作的主要对象和范围 ,以及具有情报价值的其他重要信息。在结果部分最好有定量数据 ,如检测限、相对标准偏差等 ;… 相似文献
118.
119.
Correlation between Post-LASIK Starburst Symptom and Ocular Wavefront Aberrations 总被引:2,自引:0,他引:2 下载免费PDF全文
Monochromatic aberrations in post laser in-situ keratomileusis (LASIK) eyes are measured. The data are categorized into reference group and starburst group according to the visual symptoms. Statistic analysis has been made to find the correlation between the ocular wavefront aberrations and the starburst symptom. The rms aberrations of the 3rd and 4th orders for the starburst group are significantly larger than those for the reference group. The starburst symptom shows a strong correlation with vertical coma, total coma, spherical aberrations. For 3-mm pupil size and 5.8-mm pupil size, the modulation transfer function (MTF) of the starburst group are lower than those of the reference group, but their visual acuities are close. MTF and PSF analyses are made for two groups, and the results are consistent with the statistical analysis, which means the difference between the two groups is mainly due to the third- and fourth-order Zernike aberrations. 相似文献
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Indium nanorods are grown on silicon substrates by using magnetron-sputtering technique. Film morphologies and nanorod microstructure are investigated by using scanning electron microscopy, high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM), and x-ray diffraction. It is found that the mean diameter of the nanorods ranges from 30nm to 100nm and the height ranges from 30nm to 200nm. The HRTEM investigations show that the indium nanorods are single crystals and grow along the [100] axis. The nanorods grow from the facets near the surface undulation that is caused by compressive stress in the indium grains generated during grain coalescence process. For low melting point and high diffusivity metal, such as bismuth and indium, this spontaneous nanorod growth mechanism can be used to fabricate nanostructures. 相似文献