一类含参数的正交、对称四进小波构造

本文考虑四进制的正交、对称尺度函数，构造了一组带参数的系数长度为8的对称（反对称）滤波器组．并进一步构造了与尺度函数对称点一致、系数长度不超过8的所有对称(反对称)小波滤波器组．它包含了[10]中的滤波器组，从而拓广了[10]中滤波器的选择．     

关于群图的{Cni∈I}—因子

设Cn是长度为n(n≥3)的圈，如果图G的生成子图F的每个分支都同构于圈集{Cni∈I}的一个元素，列F称为G的一外{Cni∈I}—因子，若G是其边不重{Cni∈I}—因子之并，则G称为可—{Cni∈I}因子化，1988年，M．-J．P．Ruiz在[1]中给出了有限简单连通无向群图，有Cn—因子的充分条件及可{Ca,…Cp}—因子他的充分条件，然而，Ruiz的结果是本相应结果的特例。     

全息检测中的焦散线现象与干涉条纹的关系

在实时全息干涉计量实验中，当试件负荷甚大时，干涉条纹中会出现一些阴影区，它们在试件破裂过程中起重要作用。当负荷接近试件断裂强度时，可清晰看到并记录下阴影区的延伸、分叉、扩展直至试件破裂的过程。这些阴影区实际上就是几何光学中的焦散线现象。应用此现象可以计算应力强度因子。介绍了在寻找全息干涉条纹与应力强度因子之间关系所作的研究，导出了干涉条纹最大值与应力强度因子之间的定量关系式。从而，为使用全息法与焦散线法相结合的检测方法提供了定量计算的基础。     

溅射过程中粒子能量对钛薄膜表面形貌影响

借助于原子力显微镜研究了离子束溅射沉积工艺中入射离子能量对制备的Ti薄膜表面形貌的影响。对薄膜表面高度数据进行相关运算，发现在此工艺条件下制备的薄膜具有典型的分形特征，利用分形表面高度—高度相关函数的唯象表达形式对不同能量下制备Ti薄膜表面的高度相关函数进行拟合。得到了薄膜表面的分形维数、水平相关长度、标准偏差粗糙度等参量。研究发现，入射Ar离子能量在300—700eV之间薄膜表面的粗糙度随着沉积粒子的能量增加而增大，分形维数随着入射离子能量的增加而减少。另外，在得到的分形维数基础上对不同溅射电压下Ti薄膜的生长机制进行了初步研究。     

金属态原子电负性的计算及应用(II)

利用修正后的Ｐａｕｌｉｎｇ计算单键键能的公式对Ｈ２、Ｏ２、ＣＯ双原子分子在某些过渡金属上解离吸附参数（包括活化吸附热，金属－吸附物种表面键能）进行了计算，获得了丰富的表面键能量参数数值，弥补了实验数据的不足。从而，为在一定程度上帮助人们从分子微观动力学的角度认识催化反应的实质，提供了较为可靠的理想依据。     

表面活性剂疏水链长对高温下泡沫稳定性的影响

选用不同疏水链长的α-烯烃磺酸盐(AOS)形成泡沫, 分别用泡沫衰减法和泡沫岩芯封堵法测定不同温度下的泡沫稳定性, 并采用动态表面张力、界面流变、分子模拟等方法研究了表面活性剂在气/液界面的吸附行为和界面吸附层的性质, 分析了高温下泡沫的稳定机制. 实验结果表明, 在高温下, 极性头的“锚定作用”减弱, 表面活性剂疏水链难以在气液界面保持以直立状态吸附, 疏水链碳数大于20的表面活性剂分子难以分立吸附, 其疏水链相互交叉缠绕, 增强了泡沫膜的强度, 减缓了气体通过液膜的扩散, 形成的泡沫在高温下具有较好的稳定性.     

中考代数几何综合题两例

<正>中考中的代数几何综合题对于同学们来说是一道较难的题,不少学生不知从何处入手,找不到方向.特别是题目的第二问和第三问,大部分学生难以找到突破口.本文试举两例分析如下.例1(2014年北京市朝阳二模)如图1,在平面直角坐标系xOy中,二次函数y=ax2-2ax+3的图像与x轴分别交于点A、B,与y轴交于点C,AB=4,动点P从B点出发,沿x轴负方向以每秒1个单位长度的速度移     

利用点的坐标平移规律解题

<正>在学习平面直角坐标系的内容时,我们曾经学过点的坐标平移规律:将点(x,y)向右(或向左)平移a个单位长度,可以得到对应点(x+a,y)或(x-a,y);将点(x,y)向上(或向下)平移b个单位长度,可以得到对应点(x,y+b)或(x,y-b).当时限于所学的知识,对于这个规律的应用仅限于解决一类"已知平移前(后)点的坐标及平移的方向(水平方向或竖直方向)和距离求平移后(前)点的坐标"问题,其实这个看似简单的规律还有用场.     

凸域上拟双曲测地线直径的Gehring-Hayman 恒等式

利用型函数和最大项m（σ）的几何意义研究全平面上Dirichlet级数的增长性,得到了Dirichlet级数增长性与系数、指数之间关系的四个结论,推广了以往研究增长性的相关结果.     

探索蜘蛛捕苍蝇的最短路径

1诗情画意蜘蛛难耐腹中饥,停织驻足圆柱体.对角苍蝇未警惕,不知身后有大敌.