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991.
激光等离子体能量角分布及吸收定标律 总被引:1,自引:0,他引:1
主要研究激光平面靶等离子体发射能量角分布及吸收定标律。实验利用高斯型1.06μm激光脉冲,其能量为2~50J,脉冲宽度为0.3~2.2ns,靶面平均辐照强度为1.8×1013~1.1x10~(15)W/cm~2,光束以25°角入射。实验采用了Au、Ag、Ti、Al和C_8H_8等厚靶。用等离子体卡计测量靶面吸收的激光能量。用指数函数拟合实验数据,给出了吸收效率分别作为激光强度、脉冲宽度和靶材料原子序数的函数的定标关系式。这些关系式定性地与逆轫致吸收的理论关系式相一致。 相似文献
992.
研究了丝阵Z箍缩等离子体内爆过程中单丝行为、物理参数匹配、X射线发射情况。根据丝阵Z箍缩等离子体动力学一维模型研制了相关的计算程序,对单丝的内爆过程进行了数值模拟,对丝阵箍缩匹配关系进行了计算,给出了丝阵初始半径、电流脉冲宽度和峰值电流的匹配关系,同时对丝阵内的最小丝间距、材料的选择等问题进行优化研究。 相似文献
993.
一种改进的小波除噪方法用于含噪ICP-AES光谱的处理 总被引:3,自引:1,他引:2
提出了一种改进的小波除噪方法。它基于噪声具有频率较高和幅度较小的特点 ,先排除信号中频率较高的成分 ,再丢弃余下的系数较小的成分。对模拟的含噪电感耦合等离子体原子发射光谱 (ICP AES)的处理结果表明 ,该法能克服小波平滑和小波去噪的一些缺陷 ,可去除更多噪声 ,而信号强度不受影响。同时 ,基线变得平坦 ,有利于峰高的定量计算。用该法处理实测ICP AES光谱 ,效果满意。 相似文献
994.
Two-Step Growth of MgO Films on Sapphire (0001) Substrates by Radio Frequency Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy 下载免费PDF全文
We report on the growth of rock salt MgO films on sapphire (0001) substrates by rf plasma-assisted molecular beam epitaxy.A two-step method,i.e.high temperature epilayer growth after low-temperature buffer layer growth,was adopted to obtain the single crystal MgO film.The epitaxial orientation between the MgO epilayer and the sapphire (0001) substrate was studied by using in situ reflection high energy electron diffraction and ex situ x-ray diffraction,and it is found that the MgO film grows with [111] orientation.The role of the low temperature buffer layer in the improvement of crystal quality of the MgO epilayer is discussed based on the cross-sectional scanning electron microscopy. 相似文献
995.
996.
Vertical and Smooth, etching of InP by Cl2/CH4/Ar Inductively Coupled Plasma at Room Temperature 总被引:2,自引:0,他引:2 下载免费PDF全文
We study the room-temperature dry, etching of InP by inductively coupled plasma (ICP) using C12/CH4/Ar mixtures. Etches were characterized in terms of anisotropy and surface roughness by scanning electron microscopy and atomic force microscopy, respectively. It is found that the flow ratio between C12 and Ctt4, ICP power, rf chuck power, and table temperature can greatly influence the, etching results. By adjusting, etching parameters,vertical sidewall and smooth surface can be obtained simultaneously, together with a moderate, etch rate and a good select ratio. The root-mean-square surface roughness is measured to be as low as 0.27nm. To the best of our knowledge, this is the best result for InP to date. The, etch rate is 855nm/min, and the selectivity ratio overSi02 is estimated to be higher than 15:1. The stoichiometry of the, etched surface has also been investigated by Auger electron spectroscopy. The, etched surface is found to manifest a slight P deficiency, and the ratio between P and In reaches the stoichiometric value within about 0.75nm depth into the surface. 相似文献
997.
研究了等离子发射光谱法间接测定碘解磷定。在pH5.0的溶液中,当四苯硼钠过量时可完全沉淀碘解磷定,在滤液中加入过量的氯化钾沉淀剩余的四苯硼钠,再测定滤液中过量的钾,可以计算得到碘解磷定的含量。方法简单快速,回收率在96%~102%之间,相对标准偏差为1.7%。 相似文献
998.
Electron plasma induced by a focused femtosecond pulse (130 fs, 800 nm) in dielectric materials (Soda Lime glass, K9 glass, and SiO2 crystal) is investigated by pump-probe shadow imaging technology. The relaxation of the electron plasma in the conduction band is discussed. In SiO2 crystals, a fast self-trapping process with a trapping time of 150fs is observed, which is similar to that in fused silica. However, in Soda Lime glass and K9 glass, no self-trapping occurs, and two decay processes are found: one is the energy relaxation process of conduction electrons within several picoseconds, another is an electron-hole recombination process with a timescale of lOOps. The electron collision time T in the conduction band is also measured to be in the order of 1 fs in all of these materials. 相似文献
999.
1000.