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本文分析常用的继电控制、可编程序控制器(PLC)和正在发展、兴起的在线可编程器件CPLD/FPGA的特点及在逻辑控制中特点及应用,为正确选择三种控制方法提供一定的参考。 相似文献
5.
陈迪 《应用数学与计算数学学报》1994,8(1):70-76
本文讨论了具有r个成败型元件串联系统可靠性的置信下限问题。研究了虚拟系统法置信下限的小样本性质,证明了,在通常情况下虚拟系统法置信下限要大于常见的L-M法置信下限.更一般地,本文证明了在成败型试验中,当成功数与试验数之比保持不变时,试验次数的增加将直接缩小成功率置信区间的长度。 相似文献
6.
本文讨论的带单向关闭规则和多种维修方式的两部件串联可修模型,比许多现有模型更一般。我们用向量马氏过程方法求得了它的可靠度和可用度,在(0,t)中的平均故障次数和平均更新次数。 相似文献
7.
本文考虑Gnedenko系统,其中修理设备可能失效,失效后可用新的修理设备更换。假设修理设备具有指数失效分布和一般更换时间分布。本文用马尔可夫更新过程工具和Takács的方法,讨论了系统的随机性状,并求得修理设备的可用度和失效频度。 相似文献
8.
用斜坡电压法(Voltage Ramp, V-ramp)评价了0.18μm双栅极 CMOS工艺栅极氧化膜击穿电量(Charge to Breakdown, Qbd)和击穿电压(Voltage to Breakdown, Vbd). 研究结果表明,低压器件(1.8V)的栅极氧化膜(薄氧)p型衬底MOS电容和N型衬底电容的击穿电量值相差较小,而高压器件(3.3V)栅极氧化膜(厚氧)p衬底MOS电容和n衬底MOS电容的击穿电量值相差较大,击穿电压测试值也发现与击穿电量
关键词:
薄氧
可靠性
击穿电压
击穿电量 相似文献
9.
本文给出了单目标多约束下串、并联混合系统中 ,由选取重要单元 (重要度最大的单元 )的方法 ,来提高系统可靠度的有效优化判定模型及算法 ,用同样思想给出了串、并联系统中冗余度的优化判定模型及算法 相似文献
10.
介绍一种实用的可靠性增长模型杜安 (Duane)模型 ,并探讨如何运用该模型来分析、指导斯特林制冷机的可靠性增长试验 ,包括试验前的准备、试验数据的处理、曲线的绘制 ,以及如何对增长过程进行估计和监测 相似文献