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71.
系统可靠性与最优检测周期的综合研究 总被引:4,自引:0,他引:4
苏保河 《应用数学与计算数学学报》1998,12(1):29-36
本文研究可修系统的一个模型,假定系统可能因为各种原因造成失效率增大,并且这种情况需要检测之后才能发现,本文利用概率分析、补充变量和最优化方法,求出了系统的可靠性指标,并给出了计算最优检测周期的方法。 相似文献
72.
73.
74.
在试验数据有限的情况下,通过分析激光测距系统工作模式和建立系统可靠性模型解决了小批量、复杂的某型激光测距系统可靠性评价问题。根据以前相似产品的试验数据,采用相似电路法对系统可靠性进行预计。根据激光晶体、染料片、全反射镜、聚光腔等元器件的寿命,对激光器寿命进行预计,并在实际使用中得到了验证。这对系统设计和使用具有重要参考作用。 相似文献
75.
本文讨论的两个时偶问题涉及来一个泊松过程与一个更新过程穿越时间和更新数的联合分布.利用向量马氏过程方法得到了这些联合分布的变换,给出了一个与分布均值有关量的数值结果. 相似文献
76.
赵必华 《宁波大学学报(理工版)》2002,15(3):99-102
介绍了4种估计标准参照测验信度的方法,并以某一单元测验进行验证,最后就标准参照测验信度的有关问题进行了分析。 相似文献
77.
对于Weibull分布的无失效数据问题,利用Bayes方法给出了产品寿命服从Weibull分布,形状参数的先验分布为U(0,1),尺度参数为1,假定产品的可靠性指标达到某个给定的值的情况下,无失效数据的可靠性验证试验,并利用相同的分析方法给出形状参数的Bayes估计. 相似文献
78.
High throughput N-modular redundancy for error correction design of memristive stateful logic
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Memristive stateful logic is one of the most promising candidates to implement an in-memory computing system that computes within the storage unit. It can eliminate the costs for the data movement in the traditional von Neumann system. However, the instability in the memristors is inevitable due to the limitation of the current fabrication technology, which incurs a great challenge for the reliability of the memristive stateful logic. In this paper, the implication of device instability on the reliability of the logic event is simulated. The mathematical relationship between logic reliability and redundancy has been deduced. By combining the mathematical relationship with the vector-matrix multiplication in a memristive crossbar array, the logic error correction scheme with high throughput has been proposed. Moreover, a universal design paradigm has been put forward for complex logic. And the circuit schematic and the flow of the scheme have been raised. Finally, a 1-bit full adder (FA) based on the NOR logic and NOT logic is simulated and the mathematical evaluation is performed. It demonstrates the scheme can improve the reliability of the logic significantly. And compared with other four error corrections, the scheme which can be suitable for all kinds of R-R logics and V-R logics has the best universality and throughput. Compared with the other two approaches which also need additional complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) circuits, it needs fewer transistors and cycles for the error correction. 相似文献
79.
为了对钢桁梁桥疲劳进行评估,引入可靠性理论,提出了基于实测荷载的桥梁疲劳可靠性评估方法。根据某铁路钢桁梁桥实测车辆荷载数据,建立了随机车辆荷载模型。并在考虑车辆荷载随机性的基础上,结合Monte-Carlo法与有限元,分析了钢桁梁桥构件疲劳应力谱,计算了构件疲劳可靠性随时间的变化,并探讨了车辆荷载及荷载效应变异性对构件疲劳可靠性的影响,最后采用β约界法与静力分析法对钢桁梁桥系统疲劳可靠性进行了研究。结果表明,基于随机车辆荷载的构件疲劳应力谱呈现单峰分布;构件疲劳可靠性随运营时间的增加而减小;车辆荷载的增长及荷载效应变异性的增加对构件疲劳可靠性影响较大,当车辆荷载增长率和等效应力变异系数分别增加到5%时,构件疲劳寿命大幅减小;β约界法结合静力分析法可快速确定钢桁梁桥失效模式,桥梁系统疲劳寿命小于构件疲劳寿命。总的来看,基于实测荷载的钢桁梁桥疲劳可靠性评估方法能有效地利用监测数据,对桥梁疲劳评估具有良好的适用性。 相似文献
80.
动态系统最优滤波的可靠性 总被引:1,自引:0,他引:1
—本文以静态测量的可靠性理论为基础,研究了动态系统最优滤波的可靠性及其特性,以GPS动态定位为例,对其可靠性指标进行了初步分析。动态系统的可靠性理论对于研究动态系统的粗差剔除、容错技术、可靠性分析等具有重要意义 相似文献