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51.
吴万国  林嘉来 《催化学报》1995,16(3):250-252
用重复卷积法求解物理宽化函数吴万国,林嘉 (福州大学中心实验室,福州350002)(中国(福建)对外贸易中心集团,福州350001)关键词X射线衍射,晶粒度,晶格畸变,重复卷积粉末试样的X射线衍射谱线一般具有一定的宽度,引起话线宽化的主要原因有仪器致...  相似文献   
52.
One-point (Mettler) and many-point (Netzsch) heat flow calibration of a DSC is discussed. It is shown that the two types of calibration are the alternative extremes between quick but rough procedure and time-consuming but accurate one. One-point calibration compares a typical function k(T) at the melting point of indium with the measured value for particular DSC and multiplies k(T) by a scaling factor. Many-point calibration is based on general mathematical procedure, namely fitting a set of experimental values of sensitivity to a polynomial. The polynomial coefficients are evaluated by the method of least squares. Based on the relationship between the sensitivity of a thermocouple and calibration coefficient of a DSC sensor made from it, two-point heat flow calibration is suggested. This is an optimal calibration procedure, for the relationship contains only two unknown coefficients. An example of how to perform the two-point calibration with Netzsch-Proteus Software is described in the Appendix.  相似文献   
53.
B‐doped Si multiple delta‐layers (MDL) were developed as certified reference materials (CRM) for secondary ion mass spectrometry (SIMS) depth profiling analysis. Two CRMs with different delta‐layer spacing were grown by ion beam sputter deposition (IBSD). The nominal spacing of the MDL for shallow junction analysis is 10 nm and that for high energy SIMS is 50 nm. The total thickness of the film was certified by high resolution transmission electron microscopy (HR‐TEM). The B‐doped Si MDLs can be used to evaluate SIMS depth resolution and to calibrate the depth scale. A consistency check of the calibration of stylus profilometers for measurement of sputter depth is another possible application. The crater depths measured by a stylus profilometer showed a good linear relationship with the thickness measured from SIMS profiling using the calibrated film thickness for depth scale calibration. The sputtering rate of the amorphous Si thin film grown by sputter deposition was found to be the same as that of the crystalline Si substrate, which means that the sputtering rate measured with these CRMs can be applied to a real analysis of crystalline Si. Copyright © 2005 John Wiley & Sons, Ltd.  相似文献   
54.
对实验室自配的1 mol/L NaOH标准滴定溶液的浓度进行不确定度评定,建立不确定度评定程序和方法,并依据GB/T601-2002建立数学模型.确定了影响NaOH标准滴定溶液浓度的主要因素,归纳了不确定度的主要来源,建立了用基准试剂标定标准滴定溶液浓度的不确定度评定程序和方法.当NaOH标准滴定溶液浓度为1.0201 mol/L时,扩展不确定度为0.0040 mol/L.该程序和方法适用于同类型实验的不确定度评定.  相似文献   
55.
为了克服相机检校对二维/三维检校场的依赖,提出一种基于激光点云多条件约束的相机检校方法.该方法通过对相机获取的多视影像进行光束法平差获得初始相机参数;利用影像点云与其最邻近的激光点云之间的位置关系,以共线方程为基础模型,建立多条件约束的相机检校数学模型;使用不等式约束的最小二乘方法平差迭代解算相机参数.将本文方法与基于...  相似文献   
56.
In this paper,we are interested in HSS preconditioners for saddle point lin- ear systems with a nonzero(2,2)-th block.We study an approximation of the spectra of HSS preconditioned matrices and use these results to illustrate and explain the spectra obtained from numerical examples,where the previous spectral analysis of HSS precon- ditioned matrices does not cover.  相似文献   
57.

针对中央肋对接平尾结构,使用直接测量法和提出的唯象拟合法对其非对称弯矩载荷进行测量。通过先后开展虚拟试验和地面载荷校准试验,分别建立了两种测量方法的非对称载荷模型,并对其适用性和准确性进行研究。地面试验和飞行试验结果显示,唯象拟合法能够有效地完成平尾结构的非对称载荷测量,地面试验验模误差最大值为1.57%;直接测量法由于中央对称面附近连接有对接肋和平尾接头等导致局部传力比较复杂,测量精度较差,地面试验验模误差达到8.11%。

  相似文献   
58.
同步辐射光源中的高次谐波会使透射光栅衍射效率标定精度变差。为了校正光源中的高次谐波对透射光栅衍射效率标定的影响,提出了一种光源存在弱谐波情况下的透射光栅衍射效率标定方法,通过使用谐波X射线的衍射效率修正基波衍射效率标定中谐波的影响,从而得到更为准确的透射光栅衍射效率。使用该标定方法在北京同步辐射光源上开展了透射光栅相对衍射效率标定工作。实验结果表明:在100~800 eV存在高次谐波能段,修正后透射光栅一级与零级的相对衍射效率与理论模拟结果吻合较好,修正后光栅二级与一级的相对衍射效率更接近理论模拟结果,但与理论模拟结果仍有较大偏差,该偏差主要来源光栅较弱的二级衍射。  相似文献   
59.
由于遥感图像先验知识难以获取,提出了一种自适应的双树复小波迭代收缩复原算法。该算法根据模糊程度和噪声程度估计正则化参数,并利用经验公式计算收缩阈值。在实际应用中,算法能有效解决两步迭代算法使用固定参数的缺点,从而达到提高图像复原质量的目的。实验表明:相对于两步迭代算法,该算法复原图像的峰值信噪比提高0.64~12.23 dB,收敛速度提高1.4~16倍;同时,算法在提高图像复原质量、抑制噪声干扰及减少计算时间方面优势明显。  相似文献   
60.
为获取初级试验平台(PTS)装置分层真空轴向绝缘堆的电压电流,设计、标定了微分型电容分压器和微分环。探头的频响实验表明:绝缘堆电压、电流探头的频响上限分别为270 MHz和100 MHz。两种探头均采用在线标定方法来确定幅值灵敏度系数。电压探头在标定时应当保留绝缘堆外侧的水介质,以保证探头附近电场分布不发生改变。PTS装置的实验结果表明:当装置外围馈入电流基本均匀时,绝缘堆电压电流测量结果与相关测试结果自洽,与理论值基本符合;当馈入绝缘堆的电流分布不均匀时,不同角向探头测量结果的偏差导致总电流计算结果的误差较大。  相似文献   
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