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991.
992.
提高电化学法测试壁面剪应力精度的方法 总被引:1,自引:0,他引:1
应用电化学方法对流场壁面剪应力进行测试在生物力学中有着广泛的用途,静止极限电流在存在将影响壁面剪应力测试的精度,在测试时应根据具体的实验条件进行现场测试,实验表明在测试较低壁面剪应力时,静止极限电流的影响较大;在测试较高壁面剪应力时,则可忽略静止极限电流的影响,极化电压条件下测得极限电流是测试壁面剪应力的基础。为了测试的准确可靠,需对产生极化的外加电压进行实地测试,在测试时,对每个电极都需根据相应的测试条件进行系统标定。 相似文献
993.
涉及两相正交各向异性体界面下裂纹间干涉问题的研究.多裂纹问题被分解为只含单裂纹的子问题,利用位错理论和裂面应力自由条件,列出一组可数值求解位错密度函数的奇异积分方程,从而求得应力强度因子. 相似文献
994.
995.
压电材料中的微裂纹屏蔽问题分析 总被引:2,自引:0,他引:2
分析当主裂纹与一个微裂纹在远场I型力(KI)和远场电位移(Ke)作用下的相互干涉问题,得出了在微裂纹的位置角和方向角周时独立变化时,微裂纹对主裂纹的屏蔽作用的全局使命主裂纹扩展,通过电算还发现Ortiz在各向同性材料和各向异性材料中得出的“微裂纹群对主裂纹最大屏蔽效应产生在微裂纹方向与最大主应力垂直的方向”在压电材料中不再成立,进而提出除Hutchinson指出微裂纹屏蔽效应两个来源(即:材料有效刚度的降低和残余应力的释放)外的另一个来源,微裂纹对主裂砂电场的扰动,在对主微裂纹J积分分析时发现J2积分与J1积分具有同等重要的地位。 相似文献
996.
平面膜结构拓扑优化的有无复合体方法 总被引:18,自引:3,他引:18
将作者对桁架在应力约束下结构拓扑优化的有无复合体模型发展到平面膜结构在应力、位移约束下结构拓扑优化的建模与求解。同时提出了该模型的有效解法,获得了令人满意的数值结果。本文工作表明独立连续拓扑变量的提出对于结构拓扑优化的研究是有意义的。 相似文献
997.
998.
999.
弹性压应力波下直杆动力失稳的机理的判据 总被引:16,自引:0,他引:16
基于应力波理论和失稳瞬间能量的转换和守恒,导出了一个直杆动力分岔失稳的准则:(1)直杆在发生分岔失稳的瞬间所释放出的压缩变形能等于屈曲所需变形能与屈曲动能之和;(2)在上述能量转换过程中,能量对时间的变化率服从守恒定律。应用临界条件(1)推导出的直杆动力失稳的控制方程和杆端边界条件以及连续条件,与应用哈密顿原理推导的结果完全相同,但不足以构成求解直杆动力失稳问题的完备定解条件,导出包含两个特征参数的一对特征方程。从而建立了求解直杆动力失稳模态和两个特征参数(临界力参数和失稳惯性项指数参数即动力特征参数)的较严密理论方法。 相似文献
1000.
采用ZYGO MarkIII-GPI数字波面干涉仪对以K9玻璃为基底的电子束蒸发方法制备的HfO2薄膜中的残余应力进行了研究,讨论了沉积速率、氧分压这两种工艺参量对HfO2薄膜残余应力的影响.实验结果表明:在所有的工艺条件下,薄膜的残余应力均为张应力;随着沉积速率的升高,氧分压的减小,薄膜的堆积密度逐渐增大,而残余应力呈减小趋势.同时用X射线衍射技术测量分析了不同工艺条件下HfO2薄膜的晶体结构,探讨了HfO2薄膜晶体
关键词:
残余应力
2薄膜')" href="#">HfO2薄膜
沉积速率
氧分压 相似文献