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991.
杆的初应力及识别   总被引:1,自引:1,他引:1  
提出用数值特征描写杆中初应力的方法,建立初应力位形上的小变形动力学方程,由此讨论初应力对杆小变形力学行为的影响与用受初应力影响的附加变形来识别和测定初应力的数值特征的途径。  相似文献   
992.
提高电化学法测试壁面剪应力精度的方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
应用电化学方法对流场壁面剪应力进行测试在生物力学中有着广泛的用途,静止极限电流在存在将影响壁面剪应力测试的精度,在测试时应根据具体的实验条件进行现场测试,实验表明在测试较低壁面剪应力时,静止极限电流的影响较大;在测试较高壁面剪应力时,则可忽略静止极限电流的影响,极化电压条件下测得极限电流是测试壁面剪应力的基础。为了测试的准确可靠,需对产生极化的外加电压进行实地测试,在测试时,对每个电极都需根据相应的测试条件进行系统标定。  相似文献   
993.
涉及两相正交各向异性体界面下裂纹间干涉问题的研究.多裂纹问题被分解为只含单裂纹的子问题,利用位错理论和裂面应力自由条件,列出一组可数值求解位错密度函数的奇异积分方程,从而求得应力强度因子.  相似文献   
994.
具有切应力梯度的平行平板流动腔的构造   总被引:2,自引:0,他引:2  
覃开蓉  柳兆荣  徐刚 《力学季刊》2001,22(3):281-288
在近年来关于流体切应力与细胞力学行为之间关系的研究中,流体切应力梯度被认为是诱发动脉粥样硬化和内膜增生的重要因素之一.本文探讨如何利用常用的离体细胞力学实验工具--平行平板流动腔模拟具有梯度的定常流切应力环境.结果表明,根据Hele-Shaw流的原理和常用复势W(Z)=AZn(n>1)的特性,可构造出具有各种切应力梯度分布的流动腔.与其它模拟切应力梯度的方法比较,本文的方法更加简洁、可行.  相似文献   
995.
压电材料中的微裂纹屏蔽问题分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
分析当主裂纹与一个微裂纹在远场I型力(KI)和远场电位移(Ke)作用下的相互干涉问题,得出了在微裂纹的位置角和方向角周时独立变化时,微裂纹对主裂纹的屏蔽作用的全局使命主裂纹扩展,通过电算还发现Ortiz在各向同性材料和各向异性材料中得出的“微裂纹群对主裂纹最大屏蔽效应产生在微裂纹方向与最大主应力垂直的方向”在压电材料中不再成立,进而提出除Hutchinson指出微裂纹屏蔽效应两个来源(即:材料有效刚度的降低和残余应力的释放)外的另一个来源,微裂纹对主裂砂电场的扰动,在对主微裂纹J积分分析时发现J2积分与J1积分具有同等重要的地位。  相似文献   
996.
平面膜结构拓扑优化的有无复合体方法   总被引:18,自引:3,他引:18  
隋允康  于新 《力学学报》2001,33(3):357-364
将作者对桁架在应力约束下结构拓扑优化的有无复合体模型发展到平面膜结构在应力、位移约束下结构拓扑优化的建模与求解。同时提出了该模型的有效解法,获得了令人满意的数值结果。本文工作表明独立连续拓扑变量的提出对于结构拓扑优化的研究是有意义的。  相似文献   
997.
对槽道湍流直接数值模拟的脉动速度场进行了二维子波分析。研究了近壁区低速条带结构的多尺度特性。利用定义的局部雷诺应力测度结合平坦因子的方法对湍流脉动速度分解,得到脉动速度的间歇成份和高斯成份。用局部雷诺应力测度正的峰值为特征,通过条件统计平均,得到近壁区典型的拟序结构。  相似文献   
998.
风暴潮流运动的数值模拟   总被引:3,自引:0,他引:3  
周济福  梁兰  李家春 《力学学报》2001,33(6):729-740
采用风暴潮全流运动方程组,对标准海域的风暴潮流运动进行数值模拟,利用以往的计算结果验证了数值模式,研究了开阔海域中,风暴气压、海域深度及底坡变化对风暴增水及流场的影响,分析了流速、潮位随时间和空间定量变化的规律。所建立的数值模型是进一步研究风暴潮流场中物质输运的基础。  相似文献   
999.
弹性压应力波下直杆动力失稳的机理的判据   总被引:16,自引:0,他引:16  
王安稳 《力学学报》2001,33(6):812-820
基于应力波理论和失稳瞬间能量的转换和守恒,导出了一个直杆动力分岔失稳的准则:(1)直杆在发生分岔失稳的瞬间所释放出的压缩变形能等于屈曲所需变形能与屈曲动能之和;(2)在上述能量转换过程中,能量对时间的变化率服从守恒定律。应用临界条件(1)推导出的直杆动力失稳的控制方程和杆端边界条件以及连续条件,与应用哈密顿原理推导的结果完全相同,但不足以构成求解直杆动力失稳问题的完备定解条件,导出包含两个特征参数的一对特征方程。从而建立了求解直杆动力失稳模态和两个特征参数(临界力参数和失稳惯性项指数参数即动力特征参数)的较严密理论方法。  相似文献   
1000.
沉积速率和氧分压对HfO2薄膜残余应力的影响   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
岑态  章岳光  陈卫兰  顾培夫 《物理学报》2009,58(10):7025-7029
采用ZYGO MarkIII-GPI数字波面干涉仪对以K9玻璃为基底的电子束蒸发方法制备的HfO2薄膜中的残余应力进行了研究,讨论了沉积速率、氧分压这两种工艺参量对HfO2薄膜残余应力的影响.实验结果表明:在所有的工艺条件下,薄膜的残余应力均为张应力;随着沉积速率的升高,氧分压的减小,薄膜的堆积密度逐渐增大,而残余应力呈减小趋势.同时用X射线衍射技术测量分析了不同工艺条件下HfO2薄膜的晶体结构,探讨了HfO2薄膜晶体 关键词: 残余应力 2薄膜')" href="#">HfO2薄膜 沉积速率 氧分压  相似文献   
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