首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   35068篇
  免费   3713篇
  国内免费   3413篇
化学   18913篇
晶体学   593篇
力学   2409篇
综合类   333篇
数学   6654篇
物理学   13292篇
  2023年   242篇
  2022年   687篇
  2021年   775篇
  2020年   789篇
  2019年   747篇
  2018年   753篇
  2017年   936篇
  2016年   1068篇
  2015年   963篇
  2014年   1250篇
  2013年   2282篇
  2012年   1815篇
  2011年   1869篇
  2010年   1687篇
  2009年   2434篇
  2008年   2457篇
  2007年   2481篇
  2006年   2349篇
  2005年   1682篇
  2004年   1539篇
  2003年   1391篇
  2002年   1352篇
  2001年   1132篇
  2000年   1079篇
  1999年   1005篇
  1998年   925篇
  1997年   775篇
  1996年   603篇
  1995年   557篇
  1994年   491篇
  1993年   395篇
  1992年   483篇
  1991年   340篇
  1990年   291篇
  1989年   222篇
  1988年   229篇
  1987年   187篇
  1986年   139篇
  1985年   137篇
  1984年   145篇
  1983年   85篇
  1982年   145篇
  1981年   199篇
  1980年   206篇
  1979年   201篇
  1978年   182篇
  1977年   116篇
  1976年   121篇
  1974年   42篇
  1973年   85篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
51.
周耐根  周浪  杜丹旭 《物理学报》2006,55(1):372-377
用分子动力学方法对5%负失配条件下面心立方晶体铝薄膜的原子沉积外延生长进行了三维模拟.铝原子间的相互作用采用嵌入原子法(EAM)多体势计算.模拟结果再现了失配位错的形成现象.分析表明,失配位错在形成之初即呈现为Shockley扩展位错,即由两个伯格斯矢量为〈211〉/6的部分位错和其间的堆垛层错组成,两个部分位错的间距、即层错宽度为1.8 nm,与理论计算结果一致;外延晶体薄膜沉积生长中,位错对会发生滑移,但其间距保持稳定.进一步观察发现,该扩展位错产生于一种类似于“局部熔融-重结晶”的表层局部无序紊乱- 关键词: 失配位错 外延生长 薄膜 分子动力学 铝  相似文献   
52.
提高微晶硅薄膜太阳电池效率的研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
采用甚高频等离子体增强化学气相沉积技术制备了系列微晶硅薄膜太阳电池,指出了气体总流量和背反射电极的类型对电池性能参数的影响.电池的I-V测试结果表明:随反应气体总流量的增加,对应电池的短路电流密度、开路电压和填充因子都有很大程度的提高,结果使得电池的光电转换效率得以提高.另外,ZnO/Ag/Al背反射电极能明显提高电池的短路电流密度,进而也提高了电池的光电转换效率.对气体总流量和背反射电极类型影响电池效率的原因进行了分析. 关键词: 微晶硅薄膜太阳电池 气体流量 ZnO/Ag/Al背反射电极  相似文献   
53.
Sharp estimates (in the power scale) are obtained for the discretization error in the solutions to Poisson’s equation whose right-hand side belongs to a Korobov class. Compared to the well-known Korobov estimate, the order is almost doubled and has an ultimate value in the power scale.  相似文献   
54.
It is long known that the Fokker-Planck equation with prescribed constant coefficients of diffusion and linear friction describes the ensemble average of the stochastic evolutions in velocity space of a Brownian test particle immersed in a heat bath of fixed temperature. Apparently, it is not so well known that the same partial differential equation, but now with constant coefficients which are functionals of the solution itself rather than being prescribed, describes the kinetic evolution (in the N→∞ limit) of an isolated N-particle system with certain stochastic interactions. Here we discuss in detail this recently discovered interpretation. An erratum to this article can be found at  相似文献   
55.
a-C:F薄膜的热稳定性与光学带隙的关联   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
杨慎东  宁兆元  黄峰  程珊华  叶超 《物理学报》2002,51(6):1321-1325
以CF4和C6H6的混合气体作为气源,在微波电子回旋共振化学气相沉积(ECRCVD)装置中制备了氟化非晶碳薄膜(aC:F),并在N2气氛中作了退火处理以考察其热稳定性.通过傅里叶变换红外吸收谱和紫外可见光谱获得了薄膜中CC双键的相对含量和光学带隙,发现膜中CC键含量与光学带隙之间存在着密切的关联,在高微波功率下沉积的氟化非晶碳膜具有低的光学带隙和较好的热稳定性. 关键词: 氟化非晶碳膜 光学带隙 退火温度 热稳定性  相似文献   
56.
The extents of the protective effects of coating films on the surface of crystals were determined. Three different samples were made with different quantities of coating fluid (Sepifilm LP 010 in 10% aqueous solution). Since the atomizing rate was constant, the coating time increased in parallel with the volume of coating fluid applied. The direct measurement of film thickness and smoothness is very difficult, and therefore indirect methods were used. Dimenhydrinate was chosen as model drug; this is a heat-sensitive antihistamine with a low melting point. This temperature can be reached during the tableting process. The behaviour of samples on exposure to heat was examined by differential scanning calorimetry. The water uptakes of the samples were determined with an Enslin apparatus. Plasticity was studied with an instrumented tablet machine. These indirect methods (thermal conductivity, water uptake and plasticity measurements) revealed connections between the results of the various experiments. An overlong coating time decreased the protective effect of the coating film. This revised version was published online in August 2006 with corrections to the Cover Date.  相似文献   
57.
孔英秀  韩军  尚小燕 《应用光学》2006,27(4):336-339
为了准确计算出镀膜过程中每层膜的折射率,介绍了实时监控过程中确定膜层折射率的2种方法:一种是由实测的透射比光谱直接反算出膜层的折射率;另一种是用最小二乘法的优化算法实时拟合折射率。试验结果表明:在线反算适合单点监控,所得折射率误差小于2%。然而在实际镀膜过程中,由于宽带内膜层参数误差较大,一般大于25%。为此,采用最小二乘法拟合,即在整个宽光谱范围内采集每个波长点的信息,所得结果误差很小,一般都在2%~5%之间,有时可达到10%,在很大程度上提高了实际镀膜时膜厚监控的精度。  相似文献   
58.
图G称为K1,n-free图,如果它不含K1,n作为其导出子图.对K1,n-free图具有给定性质的[a,b]-因子涉及到最小度条件进行了研究,得到一个充分条件.  相似文献   
59.
本文以竖直圆管内壁催化剂薄层内发生甲烷水蒸气重整反应强化对流换热作为研究对象,对其进行了数值模拟.结果发现,催化剂薄层内的吸热化学反应可以有效地强化对流换热,降低流体和壁面温度,从而对壁面起到保护作用;极限热流密度的大小与流体的入口温度有关,存在最佳入口温度使极限热流密度最大.  相似文献   
60.
We present susceptibility, microwave resistivity, NMR and heat-capacity results for Li1-xZnx(V1-yTiy)2O4 with 0 ? x ? 0.3 and 0 ? y ? 0.3. For all doping levels the susceptibility curves can be fitted with a Curie-Weiss law. The paramagnetic Curie-Weiss temperatures remain negative with an average value close to that of the pure compound Θ≈ - 36 K. Spin-glass anomalies are observed in the susceptibility, heat-capacity and NMR measurements for both type of dopants. From the temperature dependence of the spin-lattice relaxation rate we found critical-dynamic behavior in the Zn doped compounds at the freezing temperatures. For the Ti-doped samples two successive freezing transitions into disordered low-temperature states can be detected. The temperature dependence of the heat capacity for Zn-doped compounds does not resemble that of canonical spin glasses and only a small fraction of the total vanadium entropy is frozen at the spin-glass transitions. For pure LiV2O4 the spin-glass transition is completely suppressed. The temperature dependence of the heat capacity for LiV2O4 can be described using a nuclear Schottky contribution and the non-Fermi liquid model, appropriate for a system close to a spin-glass quantum critical point. Finally an ( x / y , T )-phase diagram for the low-doping regime is presented. Received 16 March 2001 and Received in final form 30 October 2001  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号