0.18μm CMOS工艺栅极氧化膜可靠性的衬底和工艺依存性

用斜坡电压法(Voltage Ramp, V-ramp)评价了0.18μm双栅极 CMOS工艺栅极氧化膜击穿电量(Charge to Breakdown, Q_bd)和击穿电压(Voltage to Breakdown, V_bd). 研究结果表明，低压器件(1.8V)的栅极氧化膜(薄氧)p型衬底MOS电容和N型衬底电容的击穿电量值相差较小，而高压器件(3.3V)栅极氧化膜(厚氧)p衬底MOS电容和n衬底MOS电容的击穿电量值相差较大，击穿电压测试值也发现与击穿电量 关键词： 薄氧 可靠性 击穿电压 击穿电量     

多约束下的串、并联混合系统可靠度与冗余度的优化判定模型及算法

本文给出了单目标多约束下串、并联混合系统中 ,由选取重要单元 (重要度最大的单元 )的方法 ,来提高系统可靠度的有效优化判定模型及算法 ,用同样思想给出了串、并联系统中冗余度的优化判定模型及算法     

具有位相型修理的离散时间可修排队系统

本文研究了具有一般独立输入，位相型修理的离散时间可修排队系统，假定服务台对顾客的服务时间和服务台寿命服从几何分布，运用矩阵解析方法我们给出系统嵌入在到达时刻的稳态队长分布和等待时间分布，并证明这些分布均为离散位相型分布．我们也得到在广义服务时间内服务台发生故障次数的分布，证明它服从一个修正的几何分布．我们对离散时间可修排队与连续时间可修排队进行了比较，说明这两种排队系统在一些性能指标方面的区别之处．最后我们通过一些数值例子说明在这类系统中顾客的到达过程、服务时间和服务台的故障率之间的关系．     

动态模糊随机信息处理的数学方法

本文系统地概述了我们近年来提出的动态模糊随机信息处理的数学方法,内容包括模糊随机变量、模糊随机过程和模糊随机微分方程的基本解法等方面的基本概念、基本定义和某些重要的定理,以及动态系统的模糊随机响应与可靠性分析的方法等。这些方法是为我们研究工程实际问题的需要逐步发展起来的,对于处理某些类型的问题简便实用。     

基于可靠性的相位去包裹算法

提出了一种新的基于可靠性的相位去包裹算法。采用了队列算法及去包裹可靠性的判别标准。与传统方法相比,能够自动避开噪声区域,解决了相位去包裹中的阴影遮挡以及空洞等问题,克服了传统去包裹方法中的误差传播效应,能准确快速地对全场进行相位去包裹。设计了一套基于此算法的三维形面测量系统。     

基于累积损伤过程的不完全预防维护决策

基于累积损伤过程研究旧系统的不完全预防维护策略,冲击服从非时齐Poisson过程,并产生随机的损伤量,损伤量是加法累加的.系统在累积损伤量达到k或系统运行年龄达到T时进行计划内预防维护.在两次计划内预防维护之间,当累积损伤量达到预定水平K (k K)时,对系统进行计划外维护,其费用高于计划内预防维护,利用再生过程理论得到单位时间维护成本,讨论在时齐Poisson过程下的时间预防维护策略与水平预防维护策略,同时给出算例.     

多项选择题测验信度的一个估计方法及其应用

在多项选择题测验分数等于真实分数和猜测分数之和的假设模型下，本文得到了一个多项选择题测验信度的理论公式，并由此给出了测验信度的估计方法。最后，通过两个例子，说明了本文提出的方法在测验信度分析中的应用，并将这种方法与教育测量中常用的库德——理查逊方法（Ｋｕｄｅｒ－Ｒｉｃｈａｒｄｓｏｎ）进行了比较     

无失效数据的Bayes和多层Bayes分析

本文推广了文献[6]的结果，对指数分布无失效数据的失效率，给出了Bayes估计、Bayes置信上限以及多层Bayes估计，从而可以得到无失效数据可靠度的估计，最后，结合实际问题进行了计算。     

Reliability bounds in DFRA class with known mean and variance

ＲＥＬＩＡＢＩＬＩＴＹＢＯＵＮＤＳＩＮＤＦＲＡＣＬＡＳＳＷＩＴＨＫＮＯＷＮＭＥＡＮ　ＡＮＤ　ＶＡＲＩＡＮＣＥＣＨＥＮＧＫＡＮ（程侃）（ＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＡｐｐｌｉｅｄＭａｔｈｅｍａｔｉｃｓ,ｔｈｅＣｈｉｎｅｓｅＡｃａｄｅｍｙｏｆＳｃｉｅｎｃｅ,Ｂ...     

Bayesian sequential reliability for Weibull and related distributions

Assume that the probability density function for the lifetime of a newly designed product has the form: [H(t)/Q()] exp{–H(t)/Q()}. The Exponential(), Rayleigh, WeibullW(, ) and Pareto pdf's are special cases.Q() will be assumed to have an inverse Gamma prior. Assume thatm independent products are to be tested with replacement. A Bayesian Sequential Reliability Demonstration Testing plan is used to eigher accept the product and start formal production, or reject the product for reengineering. The test criterion is the intersection of two goals, a minimal goal to begin production and a mature product goal. The exact values of various risks and the distribution of total number of failures are evaluated. Based on a result about a Poisson process, the expected stopping time for the exponential failure time is also found. Included in these risks and expected stopping times are frequentist versions, thereof, so that the results also provide frequentist answers for a class of interesting stopping rules.This research was supported by NSF grants DMS-8703620 and DMS-8923071, and forms part of the Ph.D. Thesis of the first author, the development of which was supported in part by a David Ross grant at Purdue University. The authors thank the editors and a referee for insightful comments and suggestions.