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CaoYun ZhaoHongwei MaLei ZhangZimin 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报》2003,(1):154-154
High quality ion beams are required by IMP cyclotron and atomic physics research, so it is important to research and measure beam emitt ance of ECR ion source. Intense beams extracted from ECR ion source usually have low energy, so it is suitable to use Electric-Sweep Scanner to measure the emittance. This kind of measurement is popularly used at ECR ion source, and it has some prominent merits such as high accuracy, very short time of data processing and easy expressing of the emittance pattern. So we designed and built this emittance scanner to measure emittance of the ion beams produced by LECR3 ion source. The structure of the ESS is shown in Fig.l, and the photo of the ESS is shown in Fig.2. 相似文献
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Uncooled Optically Readable Bimaterial Micro-Cantilever Infrared Imaging Device 总被引:12,自引:0,他引:12 下载免费PDF全文
《中国物理快报》2003,20(12):2130-2132
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由“从正则分布出发,在小涨落近似下得出的能量涨落分布公式”求得的能量涨落的二次矩与直接由正则分布求得的二次矩完全相同,但分别由二求得的高次矩并不完全相同。 相似文献
27.
单晶光纤损耗谱测量装置 总被引:4,自引:1,他引:3
本文描述了一套用以测量单晶光纤损耗谱的装置。本装置由卤钨灯,单色仪,积分球,AgORbCs光电倍增管以及数据采集,处理和控制系统组成。可测量300~1150nm的光谱范围。利用本装置可获得单晶光纤的吸收光谱,透过率谱,散射光谱以及散射位置谱。 相似文献
28.
两个高维Oppenheim不等式的简单证明 总被引:1,自引:0,他引:1
本首先对[1]中的多个单形体积的Oppenhdm不等式给出了一种简单证明,并同时将[2]中的又一Oppenheim不等式推广刊高维空间的多个单形上。 相似文献
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