数码相机引入科技照像实验

介绍了数码相机的系统结构和工作原理，通过与传统相机的对比分析，在科技照相实验中应该使用数码相机。     

高能X射线照相中降散射网栅失聚焦对图像的影响

通过理论分析,给出了网栅或光源横向偏离束轴、网栅或光源相对束轴有小角度倾斜、光源不在网栅聚焦点上等失聚焦照相条件下的直穿辐射损失率,计算了利用膜片堆叠制造网栅造成的影响。并通过蒙特卡罗数值模拟验证了理论分析结果。结果表明,网栅失聚焦或膜片堆叠制造的影响相当于网栅孔的尺寸减小,孔内其他位置的直穿辐射量保持不变。     

大口径照相物镜制造与设计的综合考虑

给出了透射式 f′ =60 0mm ,D =40 0mm ,2ω =2 5° ,工作波段在 0 5～ 0 8μm之间的照相物镜的两个设计方案。考虑到在制造过程中可能存在的问题 ,作者对设计方案进行了分析和比较后选择了其中之一。     

闪光辐射照相及光学高速摄影图象的增强处理

本文介绍图象增强处理技术在闪光辐射照相图象及光学高速摄影图象中的应用.针对闪光图象及高速摄影图象的特点,研究了一些有效的图象增强方法,取得了很好的应用效果. 文中给出了部分应用实例.     

研测动态问题的旋转孔径散斑照相法Ⅱ:矩位、平四位、直三位孔径

本文提出了旋转孔径散斑照相法中三种新颖的基本孔径:矩位孔、平四位孔和直三位孔,进行了理论分析和实验证明。采用新孔径拍摄散斑照相,散斑信息利用率高,衍射晕能量分布合理,信噪比提高,因而散斑条纹清晰度得到改善,相应的实验误差减小。     

研测动态问题的旋转孔径散斑照相法Ⅰ:双孔、四扇孔

本文提出一种研测动态问题的实验新方法——旋转孔径散斑照相法。该法设备简单,利用一个旋转孔径装置,能在一张散斑图上记录下物体动态变形的全过程,然后在全场波滤分析时把各瞬时的信息分离出来,可得任意时刻的瞬态位移场。转孔法能应用于振动和非周期性动态问题,并以三个实验证实其可行性。实验结果表明,散斑条纹清晰可靠,定量分析与其它方法所得结果一致。     

基于神经网络的闪光照相网栅图像修补

提出了一种基于径向基函数（RBF）神经网络的闪光照相网栅图像修补算法,该方法采用滑动窗口方法将待修补的网栅图像分为若干子块,然后在每个子图像内分别引入RBF神经网络,将栅孔内图像作为已知数据计算RBF网络参数,并以此对每个子图像进行修补,数值试验表明,该算法能较好地再现图像边缘信息,修复的图像在信噪比和视觉方面都优于线性插值和样条插值的结果。     

装置极化效率对极化中子成像质量的影响及修正分析

极化中子照相技术通过分析极化中子束的自旋相移对样品磁场进行成像, 自旋极化/分析装置是照相系统的主要组成部分. 引入中子自旋极化/分析装置的极化效率参数, 从中子极化矢量与磁场相互作用机理出发, 重新推导探测中子强度与磁场分布的定量关系, 利用谱仪模拟软件VITESS, 选取bender型超镜极化器和 ³He 自旋过滤器作为极化/分析装置, 对量化修正式进行验证, 并综合装置极化效率、单色器能量分辨精度和bender型极化器的几何结构等参数, 初步分析极化中子照相技术的磁场定量检测能力, 相关结果可为极化中子照相的实验数据处理技术研究及装置设计提供参考. 关键词： 极化效率 中子照相 磁场成像     

闪光照相中FXRMC和MCNP4B的散射比较研究

 散射问题是高能辐射成像研究中的一个重要问题,采用蒙特卡罗模拟来确定散射对提取客体信息的影响是一种重要的研究手段。简单介绍了FXRMC和MCNP4B程序的特点及其记录方式;在确保相同输入参数的条件下,针对不同的照相模型进行了对比计算。结果表明两个程序计算的散射照射量相对差别小于5%,说明这两个程序具有较高的符合程度。通过与实验结果的比较发现,这两个程序模拟的散射分布与实验结果基本一致,均可用于高能闪光照相的模拟研究。还给出了在散射检验方面的一些建议。     

快中子照相中的点扩展函数计算

 快中子照相中,基于反冲核原理探测快中子的有机闪烁体平板是普遍采用的快中子辐射转换体。模拟了D-T中子垂直入射BC400闪烁体平板,计算了不同厚度平板闪烁体的点扩展函数,对14.1 MeV快中子照相中闪烁体固有分辨率随厚度的变化进行了研究。计算结果表明,在不考虑二次中子与闪烁体作用及背景噪声等情况时,点扩展函数几乎不依赖于闪烁体厚度。同时,计算还表明在一定的分辨率范围内,由于荧光收集效率的限制,闪烁体厚度增加并不会改善图像对比度。