首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   870篇
  免费   264篇
  国内免费   117篇
化学   241篇
晶体学   31篇
力学   225篇
综合类   31篇
数学   52篇
物理学   671篇
  2024年   5篇
  2023年   15篇
  2022年   35篇
  2021年   38篇
  2020年   22篇
  2019年   29篇
  2018年   28篇
  2017年   24篇
  2016年   39篇
  2015年   39篇
  2014年   77篇
  2013年   58篇
  2012年   56篇
  2011年   67篇
  2010年   57篇
  2009年   46篇
  2008年   86篇
  2007年   56篇
  2006年   46篇
  2005年   50篇
  2004年   34篇
  2003年   38篇
  2002年   38篇
  2001年   34篇
  2000年   21篇
  1999年   26篇
  1998年   26篇
  1997年   10篇
  1996年   12篇
  1995年   32篇
  1994年   24篇
  1993年   15篇
  1992年   12篇
  1991年   18篇
  1990年   16篇
  1989年   12篇
  1988年   2篇
  1987年   1篇
  1986年   2篇
  1985年   2篇
  1984年   2篇
  1982年   1篇
排序方式: 共有1251条查询结果,搜索用时 573 毫秒
971.
通常测定碳酸氢钠含量的方法是将质量为m的试样,放到(63±2)℃的恒温箱中保持10 min,恒重,得到干燥后试样的质量m1。然后再将试样放到高温炉内,在270~300℃下灼烧1 h,恒重,得到灼烧后剩余物的质量m2。按下式计算碳酸氢钠的含量:wNaHCO3(%)=(m1-m2)×2.709m×100式中,2.709为按下列分解反应灼烧损失系数。2NaHCO3=Na2CO3+H2O+CO2↑碳酸氢钠在高于150℃时将发生上述分解反应,在此反应中下列关系成立:2MNaHCO3MH2O+MCO2=碳酸氢钠挥发物=2×84.00718.015+44.010=2.709上述关系式中MNaHCO3、MH2O、MCO2分别为碳酸氢钠、水、二氧化…  相似文献   
972.
采用射频磁控溅射方法,在Si(111)和石英衬底上制备了Fe/Si亚层厚度比不同的多层膜.多层膜的总厚度为252 nm,Fe/Si亚层厚度比分别为1 nm/3.2 nm、2 nm/6.4 nm和20 nm/64 nm.在850 ℃, Ar气气氛中退火2 h后,Si衬底上的多层膜完全生成了β-FeSi2相.但石英衬底上同样Fe/Si亚层厚度比的多层膜除了生成β-FeSi2相,还生成了少量的ε-FeSi相.通过增加Si亚层的厚度至Fe/Si亚层厚度比为2 nm/7.0 nm,在石英衬底上也获得了单相的β-FeSi2薄膜, 其光学带隙为0.87 eV,表面均方根粗糙度为2.34 nm.  相似文献   
973.
Micro-bolometer pixel is an essential element in the infrared focal plane array(IRFPA) of infrared detectors.Its response to infrared radiation is analyzed in this paper.The pixel structure is modeled as a composite laminate thin plate whose sides are measured with the thickness from 0.1-1 μm.Its middle ply is a ferroelectric thin film.Its top surface is covered with a gold or platinum infrared absorber,while the bottom surface is deposited with platinum or lanthanum-nickel.Meanwhile both surfaces are a pair of electrodes.The top surface receives infrared radiation pulses successively.For the very tiny micro bolometer pixel,it is assumed that the infrared radiation is uniformly distributed on the plate.Furthermore,as the ratio of the side length to the thickness of the plate is dramatically large,it is assumed that heat transfer only takes place across the thickness of the plate.The thermal-electric-mechanical coupling governing equations are solved in a form of Fourier series.Results of the displacement,temperature variation and electric output signals of the micro bolometer pixel structure under infrared radiation are obtained,analyzed and compared with experimental data.  相似文献   
974.
变厚度夹层截顶扁锥壳的非线性稳定性分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
对具有变厚度夹层截顶扁锥壳的非线性稳定问题进行了研究。利用变分原理导出表层为等厚度而夹心为变厚度的夹层截顶扁锥壳的非线性稳定问题的控制方程和边界条件,采用修正迭代法求得了具有双曲型变厚度夹层截顶扁锥壳的非线性稳定性问题的解析解,得到了内边缘与一刚性中心固结而外边缘为可移夹紧固支的变厚度夹层截顶扁锥壳临界屈曲载荷的解析表达式,讨论了几何参数和物理参数对壳体屈曲行为的影响。  相似文献   
975.
考虑闭合效应和三维应力约束的表面裂纹扩展模拟   总被引:1,自引:0,他引:1  
假定承受Ⅰ型常幅载荷下的表面裂纹在扩展中的形状保持为半椭圆,利用Newman半椭圆表面裂纹应力强度因子公式计算应力强度因子。提出了等效厚度的概念,利用穿透直裂纹的研究结果,考虑表面裂纹扩展中塑性致闭和三维应力约束效应。基于Elber模型建立了三维表面裂纹扩展模型。数值模拟了表面裂纹扩展过程,研究了裂纹形状变化及规律,计算了裂纹扩展寿命。将计算结果与有关试验结果进行了对比,吻合较好。  相似文献   
976.
凹槽梁试样的动态应力强度因子   总被引:2,自引:0,他引:2  
对凹槽梁试样动态应力强度因子现有的几种计算方法进行了分析对比。在此基础上,考虑冲击速度、试样的转动惯性和剪切变形对动态应力强度因子的影响,求解得到了一个新的动态应力强度因子的表达式。  相似文献   
977.
光学薄膜厚度修正挡板的设计   总被引:5,自引:2,他引:3  
林坚  林永钟 《光子学报》1999,28(9):841-845
本文论述一种用于镀制光学薄膜的厚度修正挡板新的设计方法.我们通过应用截流蒸气云静止挡板技术和采用平面静止挡板透视投影法来设计光学薄膜厚度修正挡板.最后给出设计和实验的结果.  相似文献   
978.
 一、从芯片光刻说起 本世纪八、九十年代以来,计算机的迅速发展带动了科技、工业、通讯和陆海空交通、航天、医疗卫生、能源环保、广电文化和经济、国防各行各业的发展,这一惊人发展引起的信息革命冲击着社会的各个领域。  相似文献   
979.
固相萃取   总被引:82,自引:0,他引:82  
张海霞  朱彭龄 《分析化学》2000,28(9):1172-1180
近10多年来,固相萃取作为试样预处理技术得到迅速的发展。评述了该技术的特点、装置、方法的建立,应用和前景。文中强调固相萃取在环境分析、药物分析等方面有广泛的应用前景,并总结了近年来固相萃取在药物分析中的应用。  相似文献   
980.
三点弯曲试样动态应力强度因子计算研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用Hopkinson压杆对三点弯曲试样进行冲击加载,采集了垂直裂纹面距裂尖2mm和与裂纹面成60°距裂尖5mm处的应变信号。根据裂尖附近测试的应变信号计算试样的动态应力强度因子,并与有限元计算结果进行比较,结果表明由于裂尖有一段疲劳裂纹区,通过裂尖附近应变信号来计算动态应力强度因子时,如果裂尖位置确定不准及粘贴应变片位置不够准确对计算结果将带来很大影响。因此利用应变片法计算动态应力强度因子时,为了获得更准确的计算结果,在实验后应对试件裂纹面进行分析测量,重新确定裂尖位置,必要时需对应变片至裂尖距离进行修正后再计算动态应力强度因子值。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号